数字集成电路存储器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GB/T 17574.10-2003 半导体 第2-10部分;动态读/写空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程,并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并且与下列标准一起使用

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

KS C IEC 60748-2-8:2002 半导体件..第2部分:.第8节:静态读、写

서 문 이 규격은 1993년 초판으로 발행된 IEC 60748-2-8(1993-07

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories

GOST 24459-1980 元件的微型.基本参

Intergated microcircuits for storages and its elements. Basic parameters

BS IEC 60748-2-11:1999 半导体件..线.单可擦、可编程、只读空白详细规范

Semiconductor devices —Integrated circuits — Part 2-11: Digital integrated circuits —Blank detail specification for single supply integrated circuit

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit, electrically erasable, and programmable read-only memory - Blank detail specification for single supply integrated

IS 12970 Pt.2/Sec.2-1992 半导体件—— 第2部分——基本额定值和特性 第2部分

This standard covers the essential ratings and characteristics of digital integrated circuit memories

NF EN 61964:2000 - 引脚配置

Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires

KS C IEC 60748-2-11:2002 半导体件..第2-11部分:线.可擦可编程只读

서 문 이 규격은 1999년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-11(1999

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-11:Digital integrated circuits-Blank detail specification for single supply integrated circuit,electrically erasable, and programmable read-only memory

KS C IEC 60748-2-10:2001 半导体件..第2部分:.第10节:动态读/写空白详细规范

이 규격은 집적 회로 동적 읽기/쓰기 메모리 개별 규격 지침에 대하여 규정한다. 본 개별

Semiconductor integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits Section 10-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories(excluding uncommitted logic arrays)

KS C IEC 60748-2-8-2002(2017 半导体第2部分:第8节:静态读写空白详细规范

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories

KS C IEC 60748-2-8-2002(2022 半导体第2部分:第8节:静态读/写空白详细规范

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories

IEC 60748-2-10:1994 半导体 第2部分: 第10节:动态读/写空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits; section 10: Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

IEC 60748-2-11:1999 半导体 第2-11部分:可擦、可编程、只读空白详细规范

本标准描述了半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电集成电路可擦、可编程、只读存储器集成电路空白详细规范

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-11: Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit, electrically erasable, and programmable read-only memory

CSN 35 8792-1985 气参的名称,定义和母符号

Schválení ST SEV 4756-84 doporu?ilo federální ministerstvo elektrotechnického pr?myslu. Zpracovatel: TESLA Ro?nov, k. p., Ro?nov pod Radho?těm, H

Integrated circuits of memories. Nomenciature, definition and letter symbols of electrical parameters

GB/T 36614-2018 引出端排列

本标准规定了半导体集成电路存储器的引出端排列。 本标准适用于半字节动态存储器、字宽动态存储器、字节宽动态存储器、半字节同步动态存储器.字节宽同步动态存储器、.字宽同步动态存储器的引出端排列。 长

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

GB/T 17574.11-2006 半导体 第2-11部分:可擦可编程只读 空白详细规范

本部分半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范,适用于:标志和订货资料、应用说明、功能说明、极限值、工作条件、电特性、编程等

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-11: Digital integrated circuits Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory

GB/T 17574.10-2003 半导体 第2-10部分;动态读/写空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程,并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并且与下列标准一起使用

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

KS C IEC 60748-2-8:2002 半导体件..第2部分:.第8节:静态读、写

서 문 이 규격은 1993년 초판으로 발행된 IEC 60748-2-8(1993-07

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories

GOST 24459-1980 元件的微型.基本参

Intergated microcircuits for storages and its elements. Basic parameters

BS IEC 60748-2-11:1999 半导体件..线.单可擦、可编程、只读空白详细规范

Semiconductor devices —Integrated circuits — Part 2-11: Digital integrated circuits —Blank detail specification for single supply integrated circuit

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit, electrically erasable, and programmable read-only memory - Blank detail specification for single supply integrated

IS 12970 Pt.2/Sec.2-1992 半导体件—— 第2部分——基本额定值和特性 第2部分

This standard covers the essential ratings and characteristics of digital integrated circuit memories

NF EN 61964:2000 - 引脚配置

Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires

KS C IEC 60748-2-11:2002 半导体件..第2-11部分:线.可擦可编程只读

서 문 이 규격은 1999년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-11(1999

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-11:Digital integrated circuits-Blank detail specification for single supply integrated circuit,electrically erasable, and programmable read-only memory

KS C IEC 60748-2-10:2001 半导体件..第2部分:.第10节:动态读/写空白详细规范

이 규격은 집적 회로 동적 읽기/쓰기 메모리 개별 규격 지침에 대하여 규정한다. 본 개별

Semiconductor integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits Section 10-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories(excluding uncommitted logic arrays)

KS C IEC 60748-2-8-2002(2017 半导体第2部分:第8节:静态读写空白详细规范

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories

KS C IEC 60748-2-8-2002(2022 半导体第2部分:第8节:静态读/写空白详细规范

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories

IEC 60748-2-10:1994 半导体 第2部分: 第10节:动态读/写空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits; section 10: Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

IEC 60748-2-11:1999 半导体 第2-11部分:可擦、可编程、只读空白详细规范

本标准描述了半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电集成电路可擦、可编程、只读存储器集成电路空白详细规范

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-11: Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit, electrically erasable, and programmable read-only memory

CSN 35 8792-1985 气参的名称,定义和母符号

Schválení ST SEV 4756-84 doporu?ilo federální ministerstvo elektrotechnického pr?myslu. Zpracovatel: TESLA Ro?nov, k. p., Ro?nov pod Radho?těm, H

Integrated circuits of memories. Nomenciature, definition and letter symbols of electrical parameters

GB/T 36614-2018 引出端排列

本标准规定了半导体集成电路存储器的引出端排列。 本标准适用于半字节动态存储器、字宽动态存储器、字节宽动态存储器、半字节同步动态存储器.字节宽同步动态存储器、.字宽同步动态存储器的引出端排列。 长

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

GB/T 17574.11-2006 半导体 第2-11部分:可擦可编程只读 空白详细规范

本部分半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范,适用于:标志和订货资料、应用说明、功能说明、极限值、工作条件、电特性、编程等

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-11: Digital integrated circuits Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory

编辑:北检院编辑部

我们的优势

选择北检院的六大理由

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

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01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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