服务热线:400-635-0567

数显电感测微仪检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

点击量:0

工业诊断 动物实验 植物学检测 环境试验

GB/T 26097-2010

本标准规定了数显电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.01μm、0.1μm、1μm,量程不大于2mm的数显电感测微仪(以下简称“测微仪

Inductive length measuring instrument with digital display

JB/T 10014-1999

本标准规定了数显电感测微仪的型式、名称、技术要求、标志与包装等。 本标准适用于分辨率为 0.01μm、0.1μm、1μm 的数显电感测微仪

Inductance micrometer with digital display

JJF 1331-2011 校准规范

本规范适用于分辨力(分度值)(0.01~10)μm、标称范围(-1000~+1000)μm电感测微仪的校准

Calibration Specification for inductive micrometers

GB/T 26094-2010

本标准规定了电感测微仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、1μm,量程不大于2mm,以指针指示的电感测微仪

Inductive length measuring instrument

JB/T 10036-1999

本标准规定了电感式测微仪(指针式)的术语、型式、尺寸、基本参数、技术要求、试验、标志与包装。 本标准适用于以指针指示的、分度值为 0.1μm,0.2μm,0.5μm,1μm,2μm,5μm,10μm,20μm 的电感式测微仪

Inductance micrometer

JB/T 8499-1996 子柱

本标准规定了电子柱电感测微仪的术语、型式、基本参数、技术要求、检验方法、标志与包装。 本标准适用于普通型电子柱电感测微仪

Inductance scale micrometers for electron beam

GB/T 26096-2010 峰值

本标准规定了峰值电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、1μm,以指针指示的峰值电感测微仪(以下简称“测微仪

Peak inductance micrometer

JB/T 8787-1998 峰值

本标准规定了峰值电感测微仪的定义、型式、基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志与包装。 本标准适用于以指针指示的分度值为0.1,0.2,0.5,1,2,5,10,20μm的峰值电感式测微仪

Micrometer of peak value inductance

GB/T 26095-2010 子柱

本标准规定了电子柱电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、0.2μm、1μm,以电子柱(发光单元)显示的电子柱电感测微仪(以下简称“测微仪

Electronic column micrometer

JJG 396-2002 检定规程

Verification Regulation of Inductive Micrometers

T/ZJDJ 005-2022

5.1  工作条件  5.2  参比条件和基本误差  5.3  标称使用范围和改变量  5.4  准确度性能要求  5.5  结构和性能要求  5.6  气候影响

Digital display electric parameter measuring instrument

GB/T 22094-2008

本标准规定了电子数显测高仪的术语定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程不超过1000mm的电子数显测高仪(以下简称“测高仪

Height measuring instrument with electronic digital display

JB/T 8375-2015 同步应器

Synchronous sensor digital display instrument

KS B ISO 15227:2013 光学和光学器.镜.体视镜的

이 표준은 스테레오 현미경에 대한 최소한의 요구사항을 확인하기 위한 시험 조건과 추천된 시험방법을 설명한다. 이 최소 요구사항은 KS B ISO 10936-1, ISO 11884-1 및 KS B ISO 11884-2에 설명되어 있다.이 표준에 설명된 방법은 바람직한 방

Optics and optical instruments ― microscopes ― testing of stereomicroscopes

ISO 15227:2000 光学和光学镜 体视镜的

This International Standard specifies test conditions and recommended test methods to ensure the minimum requirements for stereomicroscopes

Optics and optical instruments - Microscopes - Testing of stereomicroscopes

GB/T 26097-2010

本标准规定了数显电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.01μm、0.1μm、1μm,量程不大于2mm的数显电感测微仪(以下简称“测微仪

Inductive length measuring instrument with digital display

JB/T 10014-1999

本标准规定了数显电感测微仪的型式、名称、技术要求、标志与包装等。 本标准适用于分辨率为 0.01μm、0.1μm、1μm 的数显电感测微仪

Inductance micrometer with digital display

JJF 1331-2011 校准规范

本规范适用于分辨力(分度值)(0.01~10)μm、标称范围(-1000~+1000)μm电感测微仪的校准

Calibration Specification for inductive micrometers

GB/T 26094-2010

本标准规定了电感测微仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、1μm,量程不大于2mm,以指针指示的电感测微仪

Inductive length measuring instrument

JB/T 10036-1999

本标准规定了电感式测微仪(指针式)的术语、型式、尺寸、基本参数、技术要求、试验、标志与包装。 本标准适用于以指针指示的、分度值为 0.1μm,0.2μm,0.5μm,1μm,2μm,5μm,10μm,20μm 的电感式测微仪

Inductance micrometer

JB/T 8499-1996 子柱

本标准规定了电子柱电感测微仪的术语、型式、基本参数、技术要求、检验方法、标志与包装。 本标准适用于普通型电子柱电感测微仪

Inductance scale micrometers for electron beam

GB/T 26096-2010 峰值

本标准规定了峰值电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、1μm,以指针指示的峰值电感测微仪(以下简称“测微仪

Peak inductance micrometer

JB/T 8787-1998 峰值

本标准规定了峰值电感测微仪的定义、型式、基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志与包装。 本标准适用于以指针指示的分度值为0.1,0.2,0.5,1,2,5,10,20μm的峰值电感式测微仪

Micrometer of peak value inductance

GB/T 26095-2010 子柱

本标准规定了电子柱电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、0.2μm、1μm,以电子柱(发光单元)显示的电子柱电感测微仪(以下简称“测微仪

Electronic column micrometer

JJG 396-2002 检定规程

Verification Regulation of Inductive Micrometers

T/ZJDJ 005-2022

5.1  工作条件  5.2  参比条件和基本误差  5.3  标称使用范围和改变量  5.4  准确度性能要求  5.5  结构和性能要求  5.6  气候影响

Digital display electric parameter measuring instrument

GB/T 22094-2008

本标准规定了电子数显测高仪的术语定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程不超过1000mm的电子数显测高仪(以下简称“测高仪

Height measuring instrument with electronic digital display

JB/T 8375-2015 同步应器

Synchronous sensor digital display instrument

KS B ISO 15227:2013 光学和光学器.镜.体视镜的

이 표준은 스테레오 현미경에 대한 최소한의 요구사항을 확인하기 위한 시험 조건과 추천된 시험방법을 설명한다. 이 최소 요구사항은 KS B ISO 10936-1, ISO 11884-1 및 KS B ISO 11884-2에 설명되어 있다.이 표준에 설명된 방법은 바람직한 방

Optics and optical instruments ― microscopes ― testing of stereomicroscopes

ISO 15227:2000 光学和光学镜 体视镜的

This International Standard specifies test conditions and recommended test methods to ensure the minimum requirements for stereomicroscopes

Optics and optical instruments - Microscopes - Testing of stereomicroscopes

检测流程
填写并提交定制服务需求表
技术评估和方案讨论
对选定的试验方法进行报价
合同签定与付款
按期交付检测报告和相关数据
想了解更多检测项目
请点击咨询在线工程师
点击咨询
联系我们
服务热线:400-635-0567
地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
邮编:10000
总机:400-635-0567
联系我们

服务热线:400-635-0567

投诉建议:010-82491398

报告问题解答:010-8646-0567-8

周期、价格等

咨询

技术咨询