磁栅线位移测量系统检测

JB/T 10037-1999 磁栅线位移测量系统

本标准规定了磁栅线位移测量系统的型式、基本参数、技术要求、标志、包装及贮存。 本标准适用于分度值由 0.5～100μm 的线型磁栅线位移测量系统和带型磁栅线位移测量系统

Magnet-grid linesr displacement measuring system

JB/T 10037-2012 磁栅线位移测量系统

本标准规定了磁栅线位移测量系统的术语和定义、基本参数、要求、试验与检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于机床、仪器的坐标线位移测量系统（以下简称“测量系统

Magnetic-grid linear displacement measuring system

JB/T 10030-1999 光栅线位移测量系统

本标准规定了光栅线位移测量系统的基本参数、技术要求和试验方法。 本标准适用于分辨率为0.1～10μm的测量系统

Grating linear displacement measuring system

JB/T 13543-2018 球栅线位移测量系统

Ball grid line displacement measurement system

JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统.第2部分：光栅线位移传感器

JB/T 10080的本部分规定了光栅线位移传感器的术语和定义、结构型式与基本参数、功能、要求、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本部分适用于以由一系列等间距刻线的光栅为检测元件的光栅线位移传感器（以下简称“光栅尺

Grating linear displacement transducer.Part 2:Linear grating transducer

JB/T 8371-2012 容栅线位移测量系统.数显组件

本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm,显示范围为-999 999～+999 999的容栅线位移测量系统数显组件（以下简称“数显组件

Capacitance linear displacement measuring system.Display module

JB/T 8371-1996 容栅线位移测量系统数显单元0.01mm

本标准规定了分辨率为0.01mm的容栅线位移测量系统用数显单元的术语、型式、技术要求、检验规则及标志和包装。 本标准适用于容栅节距为5.08mm，示值范围为-999.99～999.99mm或-9999.99～9999.99mm的容栅线位移测量系统用数显单元

Digital display unit of capacitance linear displacement measuring system (0.01 mm)

JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统

本标准规定了光栅角位移测量系统的基本参数、技术要求和基本试验方法。 本标准适用于分辨率为 0.1″～120″的测量系统

Grating angular displacement measuring system

JB/T 9943-2011 磁栅线位移传感器

本标准规定了磁栅线位移传感器的术语和定义、基本参数、功能、要求、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于以由-系列等间距刻线的磁栅为检测元件的磁栅线位移传感器（以下简称"磁栅尺

Magnetic linear transducer

JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1"、0.2"、0.5"、1"、2"、5"和10",准确度等级为±0.25"级、±0.5"级、±1"级、±2"级、±5"级、±10"级和±20"级

Grating angular displacement measuring system

JB/T 11499-2013 容栅角位移测量系统

本标准规定了容栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数、要求、环境适应性、检验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为5"、10"、18"、20"、30"、36"、1'、2'、3'、6',准确度等级为±5"级、±10"级、±18"级、±20"级、±30"级、±36"级、±1'级、±2'级

Capacitance angular displacement measuring system

JB/T 10080.1-2011 光栅线位移测量系统.第1部分：光栅数字显示仪表

JB/T 10080的本部分规定了光栅数字显示仪表的术语和定义、结构型式与基本参数、功能、要求、电气安全性能、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本部分适用于以光栅线位移传感器和光栅角位移传感器为检测元件的光栅数字显示仪表（以下简称"数显表

Grating linear displacement transducer.Part 1:Digital readouts for grating transducer

JB/T 10030-2012 光栅线位移测量装置

本标准规定了光栅线位移测量装置的术语和定义、要求、电气安全性能、环境适应性、连续运行试验、试验与检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于机床、仪器等的坐标线位移检测与测量的光栅线位移传感器和光栅数字显示仪表相连组成光栅线位移测量装置（以下简称“测量装置

Grating linear displacement measuring device

JJF(机械) 006-2008 分离式光栅线位移测量系统校准规范

Calibration specification for separate grating line displacement measurement system

JB/T 9943-1999 磁栅线位移传感器.技术条件

　　本标准规定了磁栅线位移传感器的结构型式、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装与贮存。 　　本标准适用于线型磁栅传感器和带型磁栅传感器

Magnetic grating linear displacement sensor Technical conditions

JB/T 10037-1999 磁栅线位移测量系统

本标准规定了磁栅线位移测量系统的型式、基本参数、技术要求、标志、包装及贮存。 本标准适用于分度值由 0.5～100μm 的线型磁栅线位移测量系统和带型磁栅线位移测量系统

Magnet-grid linesr displacement measuring system

JB/T 10037-2012 磁栅线位移测量系统

本标准规定了磁栅线位移测量系统的术语和定义、基本参数、要求、试验与检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于机床、仪器的坐标线位移测量系统（以下简称“测量系统

Magnetic-grid linear displacement measuring system

JB/T 10030-1999 光栅线位移测量系统

本标准规定了光栅线位移测量系统的基本参数、技术要求和试验方法。 本标准适用于分辨率为0.1～10μm的测量系统

Grating linear displacement measuring system

JB/T 13543-2018 球栅线位移测量系统

Ball grid line displacement measurement system

JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统.第2部分：光栅线位移传感器

JB/T 10080的本部分规定了光栅线位移传感器的术语和定义、结构型式与基本参数、功能、要求、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本部分适用于以由一系列等间距刻线的光栅为检测元件的光栅线位移传感器（以下简称“光栅尺

Grating linear displacement transducer.Part 2:Linear grating transducer

JB/T 8371-2012 容栅线位移测量系统.数显组件

本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm,显示范围为-999 999～+999 999的容栅线位移测量系统数显组件（以下简称“数显组件

Capacitance linear displacement measuring system.Display module

JB/T 8371-1996 容栅线位移测量系统数显单元0.01mm

本标准规定了分辨率为0.01mm的容栅线位移测量系统用数显单元的术语、型式、技术要求、检验规则及标志和包装。 本标准适用于容栅节距为5.08mm，示值范围为-999.99～999.99mm或-9999.99～9999.99mm的容栅线位移测量系统用数显单元

Digital display unit of capacitance linear displacement measuring system (0.01 mm)

JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统

本标准规定了光栅角位移测量系统的基本参数、技术要求和基本试验方法。 本标准适用于分辨率为 0.1″～120″的测量系统

Grating angular displacement measuring system

JB/T 9943-2011 磁栅线位移传感器

本标准规定了磁栅线位移传感器的术语和定义、基本参数、功能、要求、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于以由-系列等间距刻线的磁栅为检测元件的磁栅线位移传感器（以下简称"磁栅尺

Magnetic linear transducer

JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1"、0.2"、0.5"、1"、2"、5"和10",准确度等级为±0.25"级、±0.5"级、±1"级、±2"级、±5"级、±10"级和±20"级

Grating angular displacement measuring system

JB/T 11499-2013 容栅角位移测量系统

本标准规定了容栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数、要求、环境适应性、检验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为5"、10"、18"、20"、30"、36"、1'、2'、3'、6',准确度等级为±5"级、±10"级、±18"级、±20"级、±30"级、±36"级、±1'级、±2'级

Capacitance angular displacement measuring system

JB/T 10080.1-2011 光栅线位移测量系统.第1部分：光栅数字显示仪表

JB/T 10080的本部分规定了光栅数字显示仪表的术语和定义、结构型式与基本参数、功能、要求、电气安全性能、环境适应性、连续运行试验、试验方法、检验规则、标志与包装等。 本部分适用于以光栅线位移传感器和光栅角位移传感器为检测元件的光栅数字显示仪表（以下简称"数显表

Grating linear displacement transducer.Part 1:Digital readouts for grating transducer

JB/T 10030-2012 光栅线位移测量装置

本标准规定了光栅线位移测量装置的术语和定义、要求、电气安全性能、环境适应性、连续运行试验、试验与检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于机床、仪器等的坐标线位移检测与测量的光栅线位移传感器和光栅数字显示仪表相连组成光栅线位移测量装置（以下简称“测量装置

Grating linear displacement measuring device

JJF(机械) 006-2008 分离式光栅线位移测量系统校准规范

Calibration specification for separate grating line displacement measurement system

JB/T 9943-1999 磁栅线位移传感器.技术条件

　　本标准规定了磁栅线位移传感器的结构型式、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装与贮存。 　　本标准适用于线型磁栅传感器和带型磁栅传感器

Magnetic grating linear displacement sensor Technical conditions