BS EN 61290-4-2:2011 光放大器.试验方法.增益瞬态参数.宽带光源法
Optical amplifiers. Test methods. Gain transient parameters. Broadband source method
DIN EN 61290-4-2:2012 光学放大器.试验方法.第4-2部分:瞬态增益参数.宽带光源法(IEC 61290-4-2-2011).德文版本EN 61290-4-2-2011
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (IEC 61290-4-2:2011); German version EN 61290-4-2:2011
JJF 1330-2011 瞬态有效光强测定仪校准规范
本规范适用于各种瞬态有效光强测定仪的校准
Calibration Specification for Instantaneous Effective Intensity Testers
JJF 1329-2011 瞬态光谱仪校准规范
本规范适用于波长范围为250nm-1750nm、所测光源的闪光时间≥1×10-4s的瞬态光谱仪的校准。其他型式的瞬态光谱仪可参照本规范进行校准
Calibration Specification for Instantaneous Spectral Instruments
NF C93-805-4-2*NF EN 61290-4-2:2011 光放大器 试验方法 第4-2部分：瞬态增益参数宽带源法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2 : gain transient parameters - Broadband source method
DS/EN 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第 4-2 部分：增益瞬态参数 宽带源法
This part of IEC 61290-4 applies to optical amplifiers (OAs) and optically amplified elementary sub-systems. More specifically, it applies to OAs
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method
SP5.4-2004 CMOS/BiCMOS 集成电路的闩锁灵敏度测试瞬态闩锁测试 – 组件级电源瞬态激励
Latch-Up Sensitivity Testing of CMOS/BiCMOS Integrated Circuits Transient Latch-up Testing – Component Level Supply Transient Stimulation
EN 61290-4-2:2011 光学放大器.试验方法.第4-2部分:瞬态增益参数.宽带源法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method
DIN EN 61290-4-2:2012-04 光放大器 测试方法 第4-2部分：增益瞬态参数 宽带源方法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (IEC 61290-4-2:2011); German version EN 61290-4-2:2011 / Note: Applies in conjunction with DIN EN 61291-1 (2007-06).
UNE-EN 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第4-2部分：增益瞬态参数 宽带源方法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (Endorsed by AENOR in January of 2012.)
NF EN 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第4-2部分：瞬态增益参数 宽带源方法
Amplificateurs optiques - Méthodes d'essai - Partie 4-2 : paramètres de gain transitoire - Méthode par source large bande
IEC 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第4-2部分：瞬态增益参数 宽带源方法（1.0 版）
Scope and object This part of IEC 61290-4 applies to optical amplifiers (OAs) and optically amplified elementary sub-systems. More specifically
Optical amplifiers – Test methods – Part 4-2: Gain transient parameters – Broadband source method (Edition 1.0)
GB/T 38621-2020 发光二极管模块热特性瞬态测试方法
本标准规定了由单个、多个发光二极管(CLED)芯片或器件组成的LED模块热特性瞬态测试方法原理.一般要求.测试步骤、结果分析及计算测试报告。本标准适用于单个.多个LED芯片或器件封装而成的模块,以及LED芯片或咒件和其他微电子需件构成的模块热特性测量。其他多芯片或器件封装而成的模块热特性测量也可参考
Transient thermal test method for light emitting diode modules
NB/T 20314-2014 核电厂瞬态统计
本标准规定了核电厂一回路重要设备瞬态统计组织实施应遵循的一般规定和要求，给出了瞬态统计的一般方法流程。本标准适用于国内在运核电厂全寿期(自冷试开始到寿期终结)的瞬态统计
Transient counting for nuclear power plants
LST EN 61290-4-2-2011 光放大器 测试方法 第 4-2 部分：增益瞬态参数 宽带源法（IEC 61290-4-2:2011）
Optical amplifiers - Test methods -- Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (IEC 61290-4-2:2011)
BS EN 61290-4-2:2011 光放大器.试验方法.增益瞬态参数.宽带光源法
Optical amplifiers. Test methods. Gain transient parameters. Broadband source method
DIN EN 61290-4-2:2012 光学放大器.试验方法.第4-2部分:瞬态增益参数.宽带光源法(IEC 61290-4-2-2011).德文版本EN 61290-4-2-2011
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (IEC 61290-4-2:2011); German version EN 61290-4-2:2011
JJF 1330-2011 瞬态有效光强测定仪校准规范
本规范适用于各种瞬态有效光强测定仪的校准
Calibration Specification for Instantaneous Effective Intensity Testers
JJF 1329-2011 瞬态光谱仪校准规范
本规范适用于波长范围为250nm-1750nm、所测光源的闪光时间≥1×10-4s的瞬态光谱仪的校准。其他型式的瞬态光谱仪可参照本规范进行校准
Calibration Specification for Instantaneous Spectral Instruments
NF C93-805-4-2*NF EN 61290-4-2:2011 光放大器 试验方法 第4-2部分：瞬态增益参数宽带源法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2 : gain transient parameters - Broadband source method
DS/EN 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第 4-2 部分：增益瞬态参数 宽带源法
This part of IEC 61290-4 applies to optical amplifiers (OAs) and optically amplified elementary sub-systems. More specifically, it applies to OAs
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method
SP5.4-2004 CMOS/BiCMOS 集成电路的闩锁灵敏度测试瞬态闩锁测试 – 组件级电源瞬态激励
Latch-Up Sensitivity Testing of CMOS/BiCMOS Integrated Circuits Transient Latch-up Testing – Component Level Supply Transient Stimulation
EN 61290-4-2:2011 光学放大器.试验方法.第4-2部分:瞬态增益参数.宽带源法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method
DIN EN 61290-4-2:2012-04 光放大器 测试方法 第4-2部分：增益瞬态参数 宽带源方法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (IEC 61290-4-2:2011); German version EN 61290-4-2:2011 / Note: Applies in conjunction with DIN EN 61291-1 (2007-06).
UNE-EN 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第4-2部分：增益瞬态参数 宽带源方法
Optical amplifiers - Test methods - Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (Endorsed by AENOR in January of 2012.)
NF EN 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第4-2部分：瞬态增益参数 宽带源方法
Amplificateurs optiques - Méthodes d'essai - Partie 4-2 : paramètres de gain transitoire - Méthode par source large bande
IEC 61290-4-2:2011 光放大器 测试方法 第4-2部分：瞬态增益参数 宽带源方法（1.0 版）
Scope and object This part of IEC 61290-4 applies to optical amplifiers (OAs) and optically amplified elementary sub-systems. More specifically
Optical amplifiers – Test methods – Part 4-2: Gain transient parameters – Broadband source method (Edition 1.0)
GB/T 38621-2020 发光二极管模块热特性瞬态测试方法
本标准规定了由单个、多个发光二极管(CLED)芯片或器件组成的LED模块热特性瞬态测试方法原理.一般要求.测试步骤、结果分析及计算测试报告。本标准适用于单个.多个LED芯片或器件封装而成的模块,以及LED芯片或咒件和其他微电子需件构成的模块热特性测量。其他多芯片或器件封装而成的模块热特性测量也可参考
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NB/T 20314-2014 核电厂瞬态统计
本标准规定了核电厂一回路重要设备瞬态统计组织实施应遵循的一般规定和要求，给出了瞬态统计的一般方法流程。本标准适用于国内在运核电厂全寿期(自冷试开始到寿期终结)的瞬态统计
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LST EN 61290-4-2-2011 光放大器 测试方法 第 4-2 部分：增益瞬态参数 宽带源法（IEC 61290-4-2:2011）
Optical amplifiers - Test methods -- Part 4-2: Gain transient parameters - Broadband source method (IEC 61290-4-2:2011)
编辑：北检院编辑部
