GB/T 43612-2023 碳化硅晶体材料缺陷图谱
Silicon carbide crystal material defect map
SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法
Measuring methods for electrical parameters of silicon carbide single crystal material
T/ZBH 018-2020 晶硅光伏组件用材料 第2部分：背板玻璃
本标准规定了晶硅光伏组件用背板玻璃的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、贮存。 本标准适用于晶硅光伏组件用背板玻璃
Materials for Crystalline Silicon Photovoltaic Modules Part 2 : Rear Cover Glass
T/ZBH 017-2020 晶硅光伏组件用材料 第1部分：面板玻璃
本标准规定了晶硅光伏组件用面板玻璃的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、贮存等。 本标准适用于晶硅光伏组件用面板玻璃
Materials for Crystalline Silicon Photovoltaic Modules Part 1 : Front cover Glass
GOST 9553-1974 硅玻璃和玻璃晶体材料.密度测定法
Silica glass and glass crystal materials. Determinationn of density
GOST 9553-2017 硅玻璃和玻璃晶体材料 密度测定法
Glass and glass products. Density determination method
T/ZBH 027-2023 晶硅光伏组件用材料 第4部分：玻璃标准尺寸
Materials for crystalline silicon photovoltaic modules Part 4: Standard dimensions of glass
DB65/T 3683-2014 地面用晶体硅光伏组件用原材料技术条件
Technical specifications of raw materials for ground-use crystalline silicon photovoltaic modules
DB61/T 514-2011 地面用晶体硅光伏组件用原材料检验规则
本标准适用于地面用晶体硅太阳电池
Inspection rules for raw materials for ground-use crystalline silicon photovoltaic modules
DB1310/T 227-2020 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚工艺技术规范
本文件适用于电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚工艺技术
Technical specification for quartz crucible process for growth of single crystal silicon, a special electronic material
DB13/T 5631-2022 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚生产技术规范
Technical specifications for the production of quartz crucibles for the growth of single crystal silicon for electronic materials
GB/T 13387-2009 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
本标准涵盖了对晶片边缘平直部分长度的确认方法。 本标准适用于标称圆形晶片边缘平直部分长度小于等于65mm的电学材料。本标准仅对硅片精度进行确认，预期精度不因材料而改变。 本标准适用于仲裁测量，当规定的限度要求高于用尺子和肉眼检测能够获得的精度时，本标准也可用于常规验收测量。 本标准不涉及
Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
AS/NZS 3582.3:2002 与波特兰水泥和混合水泥一起使用的辅助胶凝材料．非定晶硅
Sets out requirements for amorphous silica as a supplementary material for use in concrete, mortar and grout
Supplementary cementitious materials for use with portland and blended cement - Amorphous silica
DIN 50446:1995 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定
The document specifies methods for determination of defect types, especially crystal defects, and defect densities of silicon epitaxial layers
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers
TCVN 7891-2008 尖晶石耐火材料.测量氧化硅(Ⅳ),氧化铁(Ⅲ),氧化铝和氧化钙的试验方法
Spinel refractories.Test-methods for determination of silicon (Ⅳ) oxide, iron (Ⅲ) oxide, aluminium oxide, calcium oxide
GB/T 43612-2023 碳化硅晶体材料缺陷图谱
Silicon carbide crystal material defect map
SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法
Measuring methods for electrical parameters of silicon carbide single crystal material
T/ZBH 018-2020 晶硅光伏组件用材料 第2部分：背板玻璃
本标准规定了晶硅光伏组件用背板玻璃的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、贮存。 本标准适用于晶硅光伏组件用背板玻璃
Materials for Crystalline Silicon Photovoltaic Modules Part 2 : Rear Cover Glass
T/ZBH 017-2020 晶硅光伏组件用材料 第1部分：面板玻璃
本标准规定了晶硅光伏组件用面板玻璃的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、贮存等。 本标准适用于晶硅光伏组件用面板玻璃
Materials for Crystalline Silicon Photovoltaic Modules Part 1 : Front cover Glass
GOST 9553-1974 硅玻璃和玻璃晶体材料.密度测定法
Silica glass and glass crystal materials. Determinationn of density
GOST 9553-2017 硅玻璃和玻璃晶体材料 密度测定法
Glass and glass products. Density determination method
T/ZBH 027-2023 晶硅光伏组件用材料 第4部分：玻璃标准尺寸
Materials for crystalline silicon photovoltaic modules Part 4: Standard dimensions of glass
DB65/T 3683-2014 地面用晶体硅光伏组件用原材料技术条件
Technical specifications of raw materials for ground-use crystalline silicon photovoltaic modules
DB61/T 514-2011 地面用晶体硅光伏组件用原材料检验规则
本标准适用于地面用晶体硅太阳电池
Inspection rules for raw materials for ground-use crystalline silicon photovoltaic modules
DB1310/T 227-2020 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚工艺技术规范
本文件适用于电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚工艺技术
Technical specification for quartz crucible process for growth of single crystal silicon, a special electronic material
DB13/T 5631-2022 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚生产技术规范
Technical specifications for the production of quartz crucibles for the growth of single crystal silicon for electronic materials
GB/T 13387-2009 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
本标准涵盖了对晶片边缘平直部分长度的确认方法。 本标准适用于标称圆形晶片边缘平直部分长度小于等于65mm的电学材料。本标准仅对硅片精度进行确认，预期精度不因材料而改变。 本标准适用于仲裁测量，当规定的限度要求高于用尺子和肉眼检测能够获得的精度时，本标准也可用于常规验收测量。 本标准不涉及
Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
AS/NZS 3582.3:2002 与波特兰水泥和混合水泥一起使用的辅助胶凝材料．非定晶硅
Sets out requirements for amorphous silica as a supplementary material for use in concrete, mortar and grout
Supplementary cementitious materials for use with portland and blended cement - Amorphous silica
DIN 50446:1995 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定
The document specifies methods for determination of defect types, especially crystal defects, and defect densities of silicon epitaxial layers
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers
TCVN 7891-2008 尖晶石耐火材料.测量氧化硅(Ⅳ),氧化铁(Ⅲ),氧化铝和氧化钙的试验方法
Spinel refractories.Test-methods for determination of silicon (Ⅳ) oxide, iron (Ⅲ) oxide, aluminium oxide, calcium oxide
编辑：北检院编辑部
