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法向光谱发射率检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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军工检测 其他检测

GB/T 7287.10-1987 红外辐加热器测量方

本标准适用于电热式红外辐射加热器(以下简称加热器)的光谱法向发射率测量。测量波长范围为2.5~15μm,温度范围为500~900K

Measuring method for normal spectral emittance of infrared heater

GB/T 7286.2-1987 金属与非金属材料试验方

本标准适用于金属和非金属材料试样的光谱法向发射率的精确测定。测试波长范围不小于2.5~25.0μm,温度范围为700~1300K

Test method for normal spectral emittance of metals and nonmetallic materials

GB/T 7287.9-1987 红外辐加热器全测量方

本标准适用于电热式红外辐射加热器(以下简称加热器)的全法向发射率测量。测量波长范围不小于1~25μm,温度范围为500~900K

Measuring method for normal total emittance of infrared heater

NF X21-061-2008 表面化学分析.螺旋电子和X线电子.横分辨测定

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution.

ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子和X线电子.横分辨测定

This International Standard describes three methods for measuring the lateral resolution achievable in Auger electron spectrometers and X-ray

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution

BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子和X线电子.横分辨测定

ISO 18516:2006 describes three methods for measuring the lateral resolution achievable in Auger electron spectrometers and X-ray photoelectron

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution

ASTM E307-72(2019 高温下正常的标准试验方

Standard Test Method for Normal Spectral Emittance at Elevated Temperatures

YS/T 631-2007 锌分析方

本标准规定了锌中的铅、镉、铁、铜、锡量的测定方法。 本标准适用于锌中的铅、镉、铁、铜、锡量的测定。测定范围见表1

Methods for analysis of zinc.The optical emission spectrometry

CNS 12368-1988 纤装置检验(折分布图,FOTP–44)

本标准规定平纤壳之单模(1)和 Ia 级多模光纤的折射率径向分布图,其中包括纤核、纤壳和保护层之检验法。
通常沿着光纤之直径扫描,所量测之数据既为以半径为函数的相对折射率。正规化后,纤核与纤壳折射率之差应在准确度 +-0.001 内,折射率之绝对值较不精确,分辨率的误

Method of Test for Fiber Optic Devices ( FOTP-44 Refractive Index Profile, Refracted Ray Method)

JJG 768-2005

本规程适用于发射光谱仪(以下简称仪器)的首次检定、后续检定和使用中检验。仪器的定型鉴定和样机试验中有关计量性能试验可参照本规程进行

Emission Spectrometer

KS D 2086-2004 钛的分析

이 규격은 티타늄의 방출 분광 분석 방법에 대하여 규정한다. 정량 원소 및 정량 범위는

Method for atomic emission spectrometric analysis of titanium

YS/T 559-2009 钨的分析方

本标准规定了钨及钨化合物中铁、硅、铝、锰、镁、镍、钛、钒、钴、镉、砷、铅、铋、锡、锑、铜、铬、钙、钼含量的测定方法。 本标准规定了钨及钨化合物中铁、硅、铝、锰、镁、镍、钛、钒、钴、镉、砷、铅、铋、锡、锑、铜、铬、钙、钼含量的测定

Methods for emission spectrum analysis of tungsten

YS/T 559-2006 钨的分析方

YS/T 558-2009 钼的分析方

本标准规定了钼及钼化合物中铁、钴、铬、镉、锰、镁、钙、钛、铜、硅、锡、镍、铝、锑、铅、铋、钒含量的测定方法。 本标准适用于钼及钼化合物中铁、钴、铬、镉、锰、镁、钙、钛、铜、硅、锡、镍、铝、锑、铅、铋、钒含量的测定

Methods for emission spectrum analysis of molybdenum

SJ 2658.8-1986 半导体红外二极管测试方.的测试方

Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for normal radiance

GB/T 7287.10-1987 红外辐加热器测量方

本标准适用于电热式红外辐射加热器(以下简称加热器)的光谱法向发射率测量。测量波长范围为2.5~15μm,温度范围为500~900K

Measuring method for normal spectral emittance of infrared heater

GB/T 7286.2-1987 金属与非金属材料试验方

本标准适用于金属和非金属材料试样的光谱法向发射率的精确测定。测试波长范围不小于2.5~25.0μm,温度范围为700~1300K

Test method for normal spectral emittance of metals and nonmetallic materials

GB/T 7287.9-1987 红外辐加热器全测量方

本标准适用于电热式红外辐射加热器(以下简称加热器)的全法向发射率测量。测量波长范围不小于1~25μm,温度范围为500~900K

Measuring method for normal total emittance of infrared heater

NF X21-061-2008 表面化学分析.螺旋电子和X线电子.横分辨测定

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution.

ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子和X线电子.横分辨测定

This International Standard describes three methods for measuring the lateral resolution achievable in Auger electron spectrometers and X-ray

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution

BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子和X线电子.横分辨测定

ISO 18516:2006 describes three methods for measuring the lateral resolution achievable in Auger electron spectrometers and X-ray photoelectron

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution

ASTM E307-72(2019 高温下正常的标准试验方

Standard Test Method for Normal Spectral Emittance at Elevated Temperatures

YS/T 631-2007 锌分析方

本标准规定了锌中的铅、镉、铁、铜、锡量的测定方法。 本标准适用于锌中的铅、镉、铁、铜、锡量的测定。测定范围见表1

Methods for analysis of zinc.The optical emission spectrometry

CNS 12368-1988 纤装置检验(折分布图,FOTP–44)

本标准规定平纤壳之单模(1)和 Ia 级多模光纤的折射率径向分布图,其中包括纤核、纤壳和保护层之检验法。
通常沿着光纤之直径扫描,所量测之数据既为以半径为函数的相对折射率。正规化后,纤核与纤壳折射率之差应在准确度 +-0.001 内,折射率之绝对值较不精确,分辨率的误

Method of Test for Fiber Optic Devices ( FOTP-44 Refractive Index Profile, Refracted Ray Method)

JJG 768-2005

本规程适用于发射光谱仪(以下简称仪器)的首次检定、后续检定和使用中检验。仪器的定型鉴定和样机试验中有关计量性能试验可参照本规程进行

Emission Spectrometer

KS D 2086-2004 钛的分析

이 규격은 티타늄의 방출 분광 분석 방법에 대하여 규정한다. 정량 원소 및 정량 범위는

Method for atomic emission spectrometric analysis of titanium

YS/T 559-2009 钨的分析方

本标准规定了钨及钨化合物中铁、硅、铝、锰、镁、镍、钛、钒、钴、镉、砷、铅、铋、锡、锑、铜、铬、钙、钼含量的测定方法。 本标准规定了钨及钨化合物中铁、硅、铝、锰、镁、镍、钛、钒、钴、镉、砷、铅、铋、锡、锑、铜、铬、钙、钼含量的测定

Methods for emission spectrum analysis of tungsten

YS/T 559-2006 钨的分析方

YS/T 558-2009 钼的分析方

本标准规定了钼及钼化合物中铁、钴、铬、镉、锰、镁、钙、钛、铜、硅、锡、镍、铝、锑、铅、铋、钒含量的测定方法。 本标准适用于钼及钼化合物中铁、钴、铬、镉、锰、镁、钙、钛、铜、硅、锡、镍、铝、锑、铅、铋、钒含量的测定

Methods for emission spectrum analysis of molybdenum

SJ 2658.8-1986 半导体红外二极管测试方.的测试方

Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for normal radiance

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