电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

JJG(电子) 310003-2006 容参数测试仪检定规程

Specification for verification of capacitor parameter testers for semiconductor discrete devices

GB 15651.4-2017 第5-4部:光 激光

JJG(电子) 310002-2006 直流参数测试仪检定规程

Specification for verification of DC parameter testers for semiconductor discrete devices

NF C86-010:1986 .质量评估协调..一般规范

Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Generic specification.

DS/IEC 747-5:1986 ..第5部:光

Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5: Optoelectronic sevices

SJ/T 10149-1991 图形库.图形

本标准规定了计算机辅助设计印制板(PCB)用电子元器件图形库中的半导体分立器件图形设计规范。 本标准适用于计算机辅助设计印制板。 手工设计印制板也可参照采用

Graphic base of electronic components graphics of semiconductor discrete device

GB/T 15651.4-2017 第5-4部:光 激光

Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

GJB/Z 41.3-1993 军用系列型谱

GB/T 15651-1995 和集成路 第5部:光

本标准给出了下列类型和分类型器件的标准: ·半导体光发射器件,包括: --发光二极管(LEDS); --红外发射二极管(IRED) --激光二极管和激光二极管组件 --光电子显示器件(在考虑中)。 .半导体光电探测器件,包括

Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5: Optoelectronic devices

IEC 60747-5:1992 .和集成路.第5部:光

Semiconductor devices; discrete devices and integrated circuits; part 5: optoelectronic devices

PNS IEC 62435-7:2021 .的长期贮存.第7部

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 7: Micro-electromechanical devices

KS C IEC 60747-5:2004 和集成路第5部:光

이 규격은 소자의 다음 범주 또는 하위 범주에 적용된다:다음을 포함하는 반도체 포토

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 5:Optoelectronic devices

BS IEC 60747-5-4:2006 ..光.激光

This part of IEC 60747 deals with the terminology, the essential ratings and characteristics as well as the measuring methods of semiconductor lasers.

Semiconductor devices - Discrete devices - Optoelectronic devices - Semiconductor lasers

BS EN IEC 62435-7:2021 的长期存储 装置

Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices. Micro-electromechanical devices

GJB/Z 55-1994 宇航用选用指南

JJG(电子) 310003-2006 容参数测试仪检定规程

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JJG(电子) 310002-2006 直流参数测试仪检定规程

Specification for verification of DC parameter testers for semiconductor discrete devices

NF C86-010:1986 .质量评估协调..一般规范

Semiconductor devices. Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Generic specification.

DS/IEC 747-5:1986 ..第5部:光

Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5: Optoelectronic sevices

SJ/T 10149-1991 图形库.图形

本标准规定了计算机辅助设计印制板(PCB)用电子元器件图形库中的半导体分立器件图形设计规范。 本标准适用于计算机辅助设计印制板。 手工设计印制板也可参照采用

Graphic base of electronic components graphics of semiconductor discrete device

GB/T 15651.4-2017 第5-4部:光 激光

Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

GJB/Z 41.3-1993 军用系列型谱

GB/T 15651-1995 和集成路 第5部:光

本标准给出了下列类型和分类型器件的标准: ·半导体光发射器件,包括: --发光二极管(LEDS); --红外发射二极管(IRED) --激光二极管和激光二极管组件 --光电子显示器件(在考虑中)。 .半导体光电探测器件,包括

Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5: Optoelectronic devices

IEC 60747-5:1992 .和集成路.第5部:光

Semiconductor devices; discrete devices and integrated circuits; part 5: optoelectronic devices

PNS IEC 62435-7:2021 .的长期贮存.第7部

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 7: Micro-electromechanical devices

KS C IEC 60747-5:2004 和集成路第5部:光

이 규격은 소자의 다음 범주 또는 하위 범주에 적용된다:다음을 포함하는 반도체 포토

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 5:Optoelectronic devices

BS IEC 60747-5-4:2006 ..光.激光

This part of IEC 60747 deals with the terminology, the essential ratings and characteristics as well as the measuring methods of semiconductor lasers.

Semiconductor devices - Discrete devices - Optoelectronic devices - Semiconductor lasers

BS EN IEC 62435-7:2021 的长期存储 装置

Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices. Micro-electromechanical devices

GJB/Z 55-1994 宇航用选用指南

编辑:北检院编辑部

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

旗下实验室资质荣誉

CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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