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脑电生物反馈仪检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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军工检测 其他检测

YY 0903-2013

本标准规定了脑电生物反馈仪的定义、分类及组成、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本标准适用于脑电生物反馈仪(以下简称“脑反仪

Electroencephalographic biofeedback equipment

YY/T 0903-2013

YY/T 1095-2007 肌

本标准规定了肌电生物反馈仪的术语、要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于肌电生物反馈仪(以下简称“肌反仪

Myoelectric biofeedback equipment

YY/T 1095-2015 肌

本标准规定了肌电生物反馈仪(以下简称肌反仪)的术语和定义、分类、要求、试验方法。本标准适用于3.1规定的肌反仪。本标准不适用于使用针电极记录肌电信号的仪器和肌电诱发电位仪

Myoelectric biofeedback equipment

YY 91095-1999 肌

YY 91096-1999 温度

YY/T 1096-2007 温度

本标准规定了温度生物反馈仪的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于温度生物反馈仪(以下简称“温反仪

Temperature biofeedback equipment

SNI 16-6361-2000 描记器()

Electroencephalographs

DLA SMD-5962-89441 REV C-2002 硅单片隔离器线性微

This drawing documents two product assurance class levels consisting of high reliability (device classes Q and M) and space application (device class

MICROCIRCUIT, LINEAR, ISOLATED FEEDBACK GENERATOR, MONOLITHIC SILICON

JIS T1203-1998

この規格は,診断のために,脳の活動電位を記録する脳波計について規定する

Electroencephalographs

JIS T1203-1985

Electroencephalographs

JJG 954-2000 数字地形图检定规程

Verification Regulation of Digital Electroencephalogram Mapping and Brain Electric Acting Mapping

HG/T 3240~3241-2007 膜层测厚 内孔膜层测厚

JJG 954-2019 数字

Digital Electroencephalographs

HG/T 3240-2007 膜层测厚

本标准规定了电池供电的数字显示的电脑膜层测厚仪(以下简称测厚仪)的型式、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等内容。 本标准适用于根据电磁感应(磁阻法)原理对以磁性材料(钢铁)为基体的膜层厚度进行测量的测厚仪

Micro-computer film-thickness tester

YY 0903-2013

本标准规定了脑电生物反馈仪的定义、分类及组成、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本标准适用于脑电生物反馈仪(以下简称“脑反仪

Electroencephalographic biofeedback equipment

YY/T 0903-2013

YY/T 1095-2007 肌

本标准规定了肌电生物反馈仪的术语、要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于肌电生物反馈仪(以下简称“肌反仪

Myoelectric biofeedback equipment

YY/T 1095-2015 肌

本标准规定了肌电生物反馈仪(以下简称肌反仪)的术语和定义、分类、要求、试验方法。本标准适用于3.1规定的肌反仪。本标准不适用于使用针电极记录肌电信号的仪器和肌电诱发电位仪

Myoelectric biofeedback equipment

YY 91095-1999 肌

YY 91096-1999 温度

YY/T 1096-2007 温度

本标准规定了温度生物反馈仪的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于温度生物反馈仪(以下简称“温反仪

Temperature biofeedback equipment

SNI 16-6361-2000 描记器()

Electroencephalographs

DLA SMD-5962-89441 REV C-2002 硅单片隔离器线性微

This drawing documents two product assurance class levels consisting of high reliability (device classes Q and M) and space application (device class

MICROCIRCUIT, LINEAR, ISOLATED FEEDBACK GENERATOR, MONOLITHIC SILICON

JIS T1203-1998

この規格は,診断のために,脳の活動電位を記録する脳波計について規定する

Electroencephalographs

JIS T1203-1985

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JJG 954-2000 数字地形图检定规程

Verification Regulation of Digital Electroencephalogram Mapping and Brain Electric Acting Mapping

HG/T 3240~3241-2007 膜层测厚 内孔膜层测厚

JJG 954-2019 数字

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HG/T 3240-2007 膜层测厚

本标准规定了电池供电的数字显示的电脑膜层测厚仪(以下简称测厚仪)的型式、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等内容。 本标准适用于根据电磁感应(磁阻法)原理对以磁性材料(钢铁)为基体的膜层厚度进行测量的测厚仪

Micro-computer film-thickness tester

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