微电子材料检测

　　微电子材料检测样品有哪些?北检(北京)检测技术研究微电子材料检测，包括硅单晶切割片和研磨片等，出微电子材料检测报告周期短，数据准确。

检测范围

　　太阳电池用硅单晶、微电子材料、电子级多晶硅、硅单晶切割片和研磨片、硅单晶抛光片、太阳能级多晶硅

检测项目

　　导电类型、径向电阻率变化、晶体完整性、晶向及晶向离度、氧含量、砷化镓材料杂质浓度、砷化镓材料热稳定性、砷化镓材料霍尔迁移率、电阻率均匀性、砷化镓材料霍尔迁移率和电阻率的均匀性、砷化镓材料霍尔迁移率、硅单晶完整性、硅外延层、扩散层和离子注入层薄层的电阻、硅外延层厚度、硅外延层电阻、硅多晶断面夹层、硅抛光片氧化诱生缺陷、半绝缘砷化镓单晶中碳浓度、氧化诱生缺陷、砷化镓单晶AB微缺陷、光伏电池用硅材料表面金属杂质含量、碳化硅单晶抛光片表面粗糙度、碳化硅单晶抛光片表面质量、n型少数载流子寿命

检测标准

　　硅单晶电阻率测定方法GB/T1551-2009

　　硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法GB/T1554-2009

　　太阳电池用硅单晶GB/T25076-2010

北检院检测优势

　　检测周期短

　　北检(北京)检测技术研究院秉承服务优先原则，保证数据准确的基础上，尽可能缩短检测周期，让客户能够尽快获得准确高效的检测报告

　　数据准确

　　北检(北京)检测技术研究院仪器设备齐全、实验室拥有高素质技术人员、协助匹配检测项目，检测体系完善、确保了数据的准确性。

　　服务范围广

　　服务范围广、接受样品种类多、接受全国寄样检测、专门负责人跟进。

　　费用低

　　北检(北京)检测技术研究院在保证高质量高效率检测的同时，专项报价实验室，保证客户享受到行业内极具竞争力的价格优势。

　　报告应用广

　　北检(北京)检测技术研究院报告可帮助您凸显产品特性、提高产品竞争力、缩短研发周期、减少研发成本、减少退货风险等