快闪存储器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口

GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范

Specification for serial NAND flash interface

GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范

Specification for serial NOR flash interface

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试

Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory

T/ZS 0329-2022 快闪存储卡

前言  1  范围  2  规范性引用文件  3  术语和定义  4  要求  4.1  外观和结构  4.2  功能要求  4.3  性能要求

Flash memory card

GB/T 26225-2010 信息技术 移动存储 闪存盘通用规范

本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等相关内容。 本标准适用于闪存盘,其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考

Information technology.Mobile storage.General specification of flash disk

GB/T 36614-2018 集成电路 存储器引出端排列

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

IRAM 9515-1962 符合存储器

DIN 6625-2:2013 闪点大于55℃地上存储液体用角钢储罐.第2部分:计算

Angular steel tanks for above ground storage of liquids with a flashpoint of more than 55 °C - Part 2: Calculation

NAVY MIL-S-82397-1970 小型武器射击快闪噪音模拟器

This specification covers one type of small arms gunfire flash-noise siniulator

SIMULATOR, SMALL ARMS GUNFIRE FLASH-NOISE

DLA SMD-5962-95600 REV J-2008 单片硅512Kx8静态随机存取存储器(SRAM),数字存储器微电路

MICROCIRCUITS, MEMORY, DIGITAL, 512K x 8 STATIC RANDOM ACCESS MEMORY (SRAM), MONOLITHIC SILICON

IEEE 1212.1-1993 处理器和外围设备中共享存储器的传送(直接存储器存取DMA)

Describes a DMA Framework that provides recommended architectures for high-performance interfaces between Functions and System Memory, connected

Standard for Communicating Among Processors and Peripherals Using Shared Memory (Direct Memory Access - DMA) (IEEE Computer Society Document)

DLA SMD-5962-95613 REV J-2008 单片硅512Kx8位静态随机存取存储器(SRAM),数字存储器微电路

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, SRAM, 512K x 8-BIT, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-88725 REV C-2007 硅单片256K X 1静态存取存储器数字存储微电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 256K X 1 SRAM, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-86015 REV B-2005 硅单块 64K X1静态随机存取存储器 数字主储存器微型电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 64K X 1, STATIC RAM, MONOLITHIC SILICON

SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口

GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范

Specification for serial NAND flash interface

GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范

Specification for serial NOR flash interface

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试

Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory

T/ZS 0329-2022 快闪存储卡

前言  1  范围  2  规范性引用文件  3  术语和定义  4  要求  4.1  外观和结构  4.2  功能要求  4.3  性能要求

Flash memory card

GB/T 26225-2010 信息技术 移动存储 闪存盘通用规范

本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等相关内容。 本标准适用于闪存盘,其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考

Information technology.Mobile storage.General specification of flash disk

GB/T 36614-2018 集成电路 存储器引出端排列

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

IRAM 9515-1962 符合存储器

DIN 6625-2:2013 闪点大于55℃地上存储液体用角钢储罐.第2部分:计算

Angular steel tanks for above ground storage of liquids with a flashpoint of more than 55 °C - Part 2: Calculation

NAVY MIL-S-82397-1970 小型武器射击快闪噪音模拟器

This specification covers one type of small arms gunfire flash-noise siniulator

SIMULATOR, SMALL ARMS GUNFIRE FLASH-NOISE

DLA SMD-5962-95600 REV J-2008 单片硅512Kx8静态随机存取存储器(SRAM),数字存储器微电路

MICROCIRCUITS, MEMORY, DIGITAL, 512K x 8 STATIC RANDOM ACCESS MEMORY (SRAM), MONOLITHIC SILICON

IEEE 1212.1-1993 处理器和外围设备中共享存储器的传送(直接存储器存取DMA)

Describes a DMA Framework that provides recommended architectures for high-performance interfaces between Functions and System Memory, connected

Standard for Communicating Among Processors and Peripherals Using Shared Memory (Direct Memory Access - DMA) (IEEE Computer Society Document)

DLA SMD-5962-95613 REV J-2008 单片硅512Kx8位静态随机存取存储器(SRAM),数字存储器微电路

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, SRAM, 512K x 8-BIT, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-88725 REV C-2007 硅单片256K X 1静态存取存储器数字存储微电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 256K X 1 SRAM, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-86015 REV B-2005 硅单块 64K X1静态随机存取存储器 数字主储存器微型电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 64K X 1, STATIC RAM, MONOLITHIC SILICON

编辑:北检院编辑部

我们的优势

选择北检院的六大理由

📚

CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

🔬

1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

🏢

15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

👥

资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

⏱

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

🌎

全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

旗下实验室资质荣誉

CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

查看全部资质

仪器设备

国际先进检测仪器,确保检测数据精准可靠

查看全部设备

检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

➔
02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

➔
03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

➔
04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

➔
05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

VR实验室720°全景 NEW · 全新上线 VR实验室上线啦! 720°全景实景观览 · 足不出户走进实验室 立即体验 检测咨询 · 立即在线沟通