服务热线:400-635-0567

快闪存储器检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

点击量:0

军工检测 其他检测

SJ/T 11701-2018 通用NAND型接口

GB/T 35009-2018 串行NAND型接口规范

Specification for serial NAND flash interface

GB/T 35008-2018 串行NOR型接口规范

Specification for serial NOR flash interface

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 测试方法

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试

Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory

T/ZS 0329-2022

前言  1  范围  2  规范性引用文件  3  术语和定义  4  要求  4.1  外观和结构  4.2  功能要求  4.3  性能要求

Flash memory card

GB/T 26225-2010 信息技术 移动 盘通用规范

本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等相关内容。 本标准适用于闪存盘,其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考

Information technology.Mobile storage.General specification of flash disk

GB/T 36614-2018 集成电路 引出端排列

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

IRAM 9515-1962 符合

DIN 6625-2:2013 点大于55℃地上液体用角钢罐.第2部分:计算

Angular steel tanks for above ground storage of liquids with a flashpoint of more than 55 °C - Part 2: Calculation

NAVY MIL-S-82397-1970 小型武射击噪音模拟

This specification covers one type of small arms gunfire flash-noise siniulator

SIMULATOR, SMALL ARMS GUNFIRE FLASH-NOISE

DLA SMD-5962-95600 REV J-2008 单片硅512Kx8静态随机(SRAM),数字微电路

MICROCIRCUITS, MEMORY, DIGITAL, 512K x 8 STATIC RANDOM ACCESS MEMORY (SRAM), MONOLITHIC SILICON

IEEE 1212.1-1993 处理和外围设备中共享的传送(直接取DMA)

Describes a DMA Framework that provides recommended architectures for high-performance interfaces between Functions and System Memory, connected

Standard for Communicating Among Processors and Peripherals Using Shared Memory (Direct Memory Access - DMA) (IEEE Computer Society Document)

DLA SMD-5962-95613 REV J-2008 单片硅512Kx8位静态随机(SRAM),数字微电路

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, SRAM, 512K x 8-BIT, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-88725 REV C-2007 硅单片256K X 1静态数字微电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 256K X 1 SRAM, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-86015 REV B-2005 硅单块 64K X1静态随机 数字主微型电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 64K X 1, STATIC RAM, MONOLITHIC SILICON

SJ/T 11701-2018 通用NAND型接口

GB/T 35009-2018 串行NAND型接口规范

Specification for serial NAND flash interface

GB/T 35008-2018 串行NOR型接口规范

Specification for serial NOR flash interface

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 测试方法

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试

Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory

T/ZS 0329-2022

前言  1  范围  2  规范性引用文件  3  术语和定义  4  要求  4.1  外观和结构  4.2  功能要求  4.3  性能要求

Flash memory card

GB/T 26225-2010 信息技术 移动 盘通用规范

本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等相关内容。 本标准适用于闪存盘,其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考

Information technology.Mobile storage.General specification of flash disk

GB/T 36614-2018 集成电路 引出端排列

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

IRAM 9515-1962 符合

DIN 6625-2:2013 点大于55℃地上液体用角钢罐.第2部分:计算

Angular steel tanks for above ground storage of liquids with a flashpoint of more than 55 °C - Part 2: Calculation

NAVY MIL-S-82397-1970 小型武射击噪音模拟

This specification covers one type of small arms gunfire flash-noise siniulator

SIMULATOR, SMALL ARMS GUNFIRE FLASH-NOISE

DLA SMD-5962-95600 REV J-2008 单片硅512Kx8静态随机(SRAM),数字微电路

MICROCIRCUITS, MEMORY, DIGITAL, 512K x 8 STATIC RANDOM ACCESS MEMORY (SRAM), MONOLITHIC SILICON

IEEE 1212.1-1993 处理和外围设备中共享的传送(直接取DMA)

Describes a DMA Framework that provides recommended architectures for high-performance interfaces between Functions and System Memory, connected

Standard for Communicating Among Processors and Peripherals Using Shared Memory (Direct Memory Access - DMA) (IEEE Computer Society Document)

DLA SMD-5962-95613 REV J-2008 单片硅512Kx8位静态随机(SRAM),数字微电路

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, SRAM, 512K x 8-BIT, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-88725 REV C-2007 硅单片256K X 1静态数字微电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 256K X 1 SRAM, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-86015 REV B-2005 硅单块 64K X1静态随机 数字主微型电路

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 64K X 1, STATIC RAM, MONOLITHIC SILICON

检测流程
填写并提交定制服务需求表
技术评估和方案讨论
对选定的试验方法进行报价
合同签定与付款
按期交付检测报告和相关数据
想了解更多检测项目
请点击咨询在线工程师
点击咨询
联系我们
服务热线:400-635-0567
地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
邮编:10000
总机:400-635-0567
联系我们

服务热线:400-635-0567

投诉建议:010-82491398

报告问题解答:010-8646-0567-8

周期、价格等

咨询

技术咨询