微波二端口器件检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

SJ 50033.48-1994 半导体分立器件.2DV8CP型硅微波检波二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for type 2DV8CP silicon microwave detector diode

GJB 1557A-2021 半导体分立器件 微波二极管外形尺寸

GJB 1557-1992 半导体分立器件 微波二级管外形尺寸

QJ 2782-1995 微波元器件术语

KS C IEC 60747-4:2006 半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管

이 규격은 다음과 같은 반도체 개별 소자에 관한 표준을 규정한다.-가변 커패시턴스 다이

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4:Microwave diodes and transistors

KS C IEC 60747-4:2022 半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管

Semiconductor devices — Discrete devices — Part 4: Microwave diodes and transistors

KS C IEC 60747-4:2017 半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4:Microwave diodes and transistors

IEC 60747-4:1991 半导体器件 分立器件 第4部分:微波二极管和晶体管

Gives standards for the following discrete devices: - variable capacitance diodes and snap-off diodes; - mixer diodes and detector diodes; - avalanche

Semiconductor devices; discrete devices; part 4: microwave diodes and transistors

GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列国家标准一起使用

Semiconductor devices Discrete devices Part 4-1: Microwave diodes and transistors-Microwave field effect transistors Blank detail specification

QJ 1886-1990 微波器件通用技术条件

特种器件

GJB/Z 41.1-1993 军用半导体分立器件系列型谱 微波二极管

IEC 60747-4-2:2000 半导体器件 分立器件 第4-2部分:微波二极管和晶体管 集成电路微波放大器 空白详细规范

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-2: Microwave diodes and transistors - Integrated-circuit microwave amplifiers - Blank detail specification

KS C IEC 60747-4-2-2002(2017 半导体器件分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4-2:Microwave diodes and transistors-Integrated-circuit microwave amplifiers-Blank detail specification

KS C IEC 60747-4-2-2002(2022 半导体器件分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4-2:Microwave diodes and transistors-Integrated-circuit microwave amplifiers-Blank detail specification

QJ 2733-1995 微波元器件图形符号

SJ 50033.48-1994 半导体分立器件.2DV8CP型硅微波检波二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for type 2DV8CP silicon microwave detector diode

GJB 1557A-2021 半导体分立器件 微波二极管外形尺寸

GJB 1557-1992 半导体分立器件 微波二级管外形尺寸

QJ 2782-1995 微波元器件术语

KS C IEC 60747-4:2006 半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管

이 규격은 다음과 같은 반도체 개별 소자에 관한 표준을 규정한다.-가변 커패시턴스 다이

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4:Microwave diodes and transistors

KS C IEC 60747-4:2022 半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管

Semiconductor devices — Discrete devices — Part 4: Microwave diodes and transistors

KS C IEC 60747-4:2017 半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4:Microwave diodes and transistors

IEC 60747-4:1991 半导体器件 分立器件 第4部分:微波二极管和晶体管

Gives standards for the following discrete devices: - variable capacitance diodes and snap-off diodes; - mixer diodes and detector diodes; - avalanche

Semiconductor devices; discrete devices; part 4: microwave diodes and transistors

GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列国家标准一起使用

Semiconductor devices Discrete devices Part 4-1: Microwave diodes and transistors-Microwave field effect transistors Blank detail specification

QJ 1886-1990 微波器件通用技术条件

特种器件

GJB/Z 41.1-1993 军用半导体分立器件系列型谱 微波二极管

IEC 60747-4-2:2000 半导体器件 分立器件 第4-2部分:微波二极管和晶体管 集成电路微波放大器 空白详细规范

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-2: Microwave diodes and transistors - Integrated-circuit microwave amplifiers - Blank detail specification

KS C IEC 60747-4-2-2002(2017 半导体器件分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4-2:Microwave diodes and transistors-Integrated-circuit microwave amplifiers-Blank detail specification

KS C IEC 60747-4-2-2002(2022 半导体器件分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 4-2:Microwave diodes and transistors-Integrated-circuit microwave amplifiers-Blank detail specification

QJ 2733-1995 微波元器件图形符号

编辑:北检院编辑部

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

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荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

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CNAS 实验室认可证书

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ISO 质量管理体系认证

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通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

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荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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样品寄送

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实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

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