GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products Combined sequential cold low air pressure and damp heat testing equipments
GB/T 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备 基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
本标准规定了按GB2423.27-81《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD低温/低气压/湿热连续综合试验方法》进行试验时所用试验设备（以下简称设备）基本参数的检定方法
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products--Combined sequential cold / low air pressure and damp heat testing equipments
SJ/T 10212-1991 Y60600-G高低温低气压试验设备
本标准规定了Y60600-G高低温低气压试验设备的型号、技术要求、试验方法和检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于试验样品进行高温、低温、低气压的单项试验、高低温循环试验、高温低气压或低温低气压综合试验的试验设备。 本标准也适用于设备的设计与制造，并可作为使用单位选用
Testing equipment,high and low temperature/low air pressure Y60600-G
NF C93-400-11-2*NF EN 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验 11b:混合低温/顺序低温、低气压和湿热
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2 : climatic tests - Test 11b : combined/sequential cold, low air pressure and damp heat.
BS EN 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.气候试验.试验11b.组合的/顺序的低温、低气压和湿热
This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Climatic tests - Test 11b - Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
SJ 2326-1983 高低温低气压试验设备通用技术条件
Generic specification for high and low temperature low pressure test chambers
BS EN 60068-2-39:1999 环境试验.试验方法..试验Z/AMD.低温、低气压和湿热综合连续试验
Part 2: Tests —Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test 1. Object 2. General description of the test 3
Environmental testing - Test methods - Tests - Test Z/AMD - Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test
KS C IEC 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
이 규격에서 정의하고 있는 세부 명세에 따른 시험은 IEC TC 48의 업무 범위 내에
Connectors for electronic equipment-Tests andmeasurements-Part 11-2:Climatic tests-Test 11b:Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
IEC 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2: Climatic tests; Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
JIS C5402-11-2-2005 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
この規格は，上昇中及び下降中の飛行機のどの場所においてもある程度起こりうる条件(ただし，温度調節及び/又は気圧の調節がなされていない区域では非常に過酷な条件)に供している間及びその後に，規定の方法により機能する電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の能力を評価するための試験方法について規定する
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-2: Climatic tests -- Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
JIS C60068-2-39-2004 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
この規格は，低温，減圧及び高温高湿下で適用できる標準的な環境試験方法について規定する
Environmental testing -- Part 2: Tests. Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure, and damp heat test
DIN EN 60068-2-39:2000 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
Environmental testing - Part 2: Tests; test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test (IEC 60068-2-39:1976); German version EN 60068-2-39:1999
GB/T 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
GB/T 5170的本部分规定了高低温低气压(含低气压、低温低气压和高温低气压)试验设备(以下简称“设备”)的检验项目、检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用设备的
Inspection methods for environmental testing equipments.Part 10:Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
0 环境试验.第2部分:试验.Z/AMD 试验:组合式连续低温、低气压和湿热试验
JUS N.A5.901-1984 基本环境测试程序．测试Z/AMD：低温、低气压和湿热连续综合试验
Basic environmental testing procedures. Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure, and damp heat test
GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products Combined sequential cold low air pressure and damp heat testing equipments
GB/T 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备 基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
本标准规定了按GB2423.27-81《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD低温/低气压/湿热连续综合试验方法》进行试验时所用试验设备（以下简称设备）基本参数的检定方法
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products--Combined sequential cold / low air pressure and damp heat testing equipments
SJ/T 10212-1991 Y60600-G高低温低气压试验设备
本标准规定了Y60600-G高低温低气压试验设备的型号、技术要求、试验方法和检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于试验样品进行高温、低温、低气压的单项试验、高低温循环试验、高温低气压或低温低气压综合试验的试验设备。 本标准也适用于设备的设计与制造，并可作为使用单位选用
Testing equipment,high and low temperature/low air pressure Y60600-G
NF C93-400-11-2*NF EN 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验 11b:混合低温/顺序低温、低气压和湿热
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2 : climatic tests - Test 11b : combined/sequential cold, low air pressure and damp heat.
BS EN 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.气候试验.试验11b.组合的/顺序的低温、低气压和湿热
This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Climatic tests - Test 11b - Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
SJ 2326-1983 高低温低气压试验设备通用技术条件
Generic specification for high and low temperature low pressure test chambers
BS EN 60068-2-39:1999 环境试验.试验方法..试验Z/AMD.低温、低气压和湿热综合连续试验
Part 2: Tests —Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test 1. Object 2. General description of the test 3
Environmental testing - Test methods - Tests - Test Z/AMD - Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test
KS C IEC 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
이 규격에서 정의하고 있는 세부 명세에 따른 시험은 IEC TC 48의 업무 범위 내에
Connectors for electronic equipment-Tests andmeasurements-Part 11-2:Climatic tests-Test 11b:Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
IEC 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2: Climatic tests; Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
JIS C5402-11-2-2005 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
この規格は，上昇中及び下降中の飛行機のどの場所においてもある程度起こりうる条件(ただし，温度調節及び/又は気圧の調節がなされていない区域では非常に過酷な条件)に供している間及びその後に，規定の方法により機能する電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の能力を評価するための試験方法について規定する
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-2: Climatic tests -- Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
JIS C60068-2-39-2004 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
この規格は，低温，減圧及び高温高湿下で適用できる標準的な環境試験方法について規定する
Environmental testing -- Part 2: Tests. Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure, and damp heat test
DIN EN 60068-2-39:2000 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
Environmental testing - Part 2: Tests; test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test (IEC 60068-2-39:1976); German version EN 60068-2-39:1999
GB/T 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
GB/T 5170的本部分规定了高低温低气压(含低气压、低温低气压和高温低气压)试验设备(以下简称“设备”)的检验项目、检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用设备的
Inspection methods for environmental testing equipments.Part 10:Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
0 环境试验.第2部分:试验.Z/AMD 试验:组合式连续低温、低气压和湿热试验
JUS N.A5.901-1984 基本环境测试程序．测试Z/AMD：低温、低气压和湿热连续综合试验
Basic environmental testing procedures. Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure, and damp heat test
编辑：北检院编辑部
