发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22
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本规范规定了氮化铝(AlN)基碳化硅(SiC)复合微波电子衰减材料的要求。本规范适用于大功率耦合腔行波管中5GHz~10GHz频率范围内的分布衰减用以SiC作为衰减相的AlN基复合微波电子衰减材料(以下简称衰减材料
Specification for AlN-SiC used as microwave attenuation composites
Specification for verification of AD5122 microwave group delay measuring sets
本文件规定了采用闭腔法测量频率在1 GHz~20 GHz范围内的固体电介质和复合板材料的介电常数和损耗角正切值的方法。其中,介电常数的测试范围为5~100,损耗角正切值的测试范围为0.00005~0.005。 本文件适用于可加工为柱状的氧化硅、氧化铝、氮化铝、氧化锆、氮化硼等
Measurement of dielectric properties of solid-state dielectric materials in microwave frequency range—The closed cavity method
本规范规定了军用微波电子管的通用要求、质量保证规定和交货准备等。 本规范适用于行波管、速调管、磁控管、充气微波开关管(以下简称开关管)、前向波放大管和回旋管的研制、生产、检验和采购,其他微波电子管可参照执行
General specification for microwave tubes
本标准规定了高介电常数、低损耗、小温度系数微波介质材料的分类、技术要求和试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于"微波介质材料 A-陶瓷
Dielectric materials for microwave.A-Ceramic
本规范规定了氮化铝(AlN)基碳化硅(SiC)复合微波电子衰减材料的要求。本规范适用于大功率耦合腔行波管中5GHz~10GHz频率范围内的分布衰减用以SiC作为衰减相的AlN基复合微波电子衰减材料(以下简称衰减材料
Specification for AlN-SiC used as microwave attenuation composites
Specification for verification of AD5122 microwave group delay measuring sets
本文件规定了采用闭腔法测量频率在1 GHz~20 GHz范围内的固体电介质和复合板材料的介电常数和损耗角正切值的方法。其中,介电常数的测试范围为5~100,损耗角正切值的测试范围为0.00005~0.005。 本文件适用于可加工为柱状的氧化硅、氧化铝、氮化铝、氧化锆、氮化硼等
Measurement of dielectric properties of solid-state dielectric materials in microwave frequency range—The closed cavity method
本规范规定了军用微波电子管的通用要求、质量保证规定和交货准备等。 本规范适用于行波管、速调管、磁控管、充气微波开关管(以下简称开关管)、前向波放大管和回旋管的研制、生产、检验和采购,其他微波电子管可参照执行
General specification for microwave tubes
本标准规定了高介电常数、低损耗、小温度系数微波介质材料的分类、技术要求和试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于"微波介质材料 A-陶瓷
Dielectric materials for microwave.A-Ceramic