磁盘阵列检测

SJ/T 11527-2015 磁盘阵列通用规范

本规范规定了磁盘阵列的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和存贮。本规范适用于采用硬磁盘驱动器或固态硬盘驱动器(下简称盘)的盘阵列,采用其他存储媒体的盘阵列也可参照使用

General specification for redundant array of independent disks

GJB 5169-2004 高性能计算机磁盘阵列通用规范

GY/T 319-2018 电视节目制作网络系统磁盘阵列技术要求和测试方法

JB/T 10794-2007 矩阵式超强永磁吸盘

本标准规定了机床用矩阵式超强永磁吸盘的基本型式、参数、技术要求、检验方法、标志、包装、运输与储存等要求。 本标准适用于机床用长度不大于 1200mm的矩阵式超强永磁吸盘。 本标准规定的参数适用于新设计的矩阵式超强永磁吸盘

Matrix permanent magnetic super chuck

GB/T 35297-2017 信息技术 盘阵列通用规范

Information technology—General specification for disk array

SJ/T 11647-2016 信息技术 盘阵列接口要求

GB/T 37978-2019 信息技术 存储管理应用 盘阵列存储管理接口

Information technology—Application of storage management—Storage management interface of disk array

ISO 6901:1984 信息处理.数据存储装置的磁盘.外径356mm(14in)的磁盘每列磁道160000次磁通变换

Information processing; Magnetic disk for data storage devices; 160 000 flux transitions per track, 356 mm (14 in) outer diameter

NEMA MS 9-2008 磁共振成像系统的相位阵列线圈的特征描述

Characterization of Phased Array Coils for Diagnostic Magnetic Resonance Images

GOST R 56978-2016 光伏阵列. 规格

Photovoltaic arrays. Specifications

SY 6912-2012 阵列侧向测井仪

SY/T 6912-2012 阵列侧向测井仪

本标准规定了阵列侧向测井仪的原理与组成、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于阵列侧向测井仪(以下简称仪器)的设计、制造、检验和质量评价

High resolution array lateral imaging logging tool

KS X ISO 7298:2004 信息处理.数据存储装置的磁盘.外径210mm(8.3 in)、内径100mm(3.9 in)磁盘的每列磁道的158000次磁通变换

이 규격은 데이터 저장 장치 내에 탑재되는 210 mm(8.3 in) 외부 지름과 10

Information processing-Magnetic disk for data storage devices-158 000 flux transitions per track, 210 mm (8.3 in) outer diameter, 100 mm(3.9 in) inner diameter

KS X ISO 7298:2014 信息处理.数据存储装置的磁盘.外径210mm(8.3 in)、内径100mm(3.9 in)磁盘的每列磁道的158000次磁通变换

Information processing — Magnetic disk for data storage devices — 158 000 flux transitions per track, 210 mm(8.3 in) outer diameter, 100 mm(3.9 in) inner diameter

DLA A-A-55547 VALID NOTICE 1-2005 磁盘库

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DISKETTE-LIBRARY BOX

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BS EN 60191-6-16:2007 半导体器件的机械标准化.球栅阵列封装(BGA),栅格阵列(LGA),栅阵列(FBGA)和距基板栅格阵列(FLGA)用老化插座和半导体测试的术语表

This part of IEC 60191 gives a glossary of semiconductor sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA. This standard intends to establish definitions

Mechanical standardization of semiconductor devices - Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA