发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22
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本规范规定了半导体光电子器件(以下简称“器件”或“产品”)的分类、生产和交付的通用要求,以及质量和可靠性保证要求。本规范适用于带或不带尾纤的半导体光电子器件
General specification for semiconductor optoelectronic device
Outlines dimension for semiconductor optoelectronic devices
本规范规定了GH302型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GH302 photocoupler
本规范规定了GO103型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GO103 photocoupler
Scmiconductor optoelectronic devices.Detail specification for type GD3251Y photodiodes
本规范应与其有关的总规范一起使用;本规范规定了评定半导体光电子器件所需的质量评定程序、检验要求、筛选顺序、抽样要求、试验和测试方法的细节
Semiconductor devices--Sectional specification for optoelectronic devices
本规范规定了GH302-4型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GH302-4 photocoupler
本规范规定了GH3201Z-4型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GH3201Z-4 photocoupler
本规范规定了GD310A型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for GD310A series photocopier
本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求,包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。 本标准适用于通信用光电子器件,包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块,简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用
Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD101 PIN photodiode
Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD3550Y PIN photodiode
Semiconductor optoelectronic devices.Delail specification for type GT16 Si.NPN phototransistor
本规范规定了半导体光电子器件(以下简称“器件”或“产品”)的分类、生产和交付的通用要求,以及质量和可靠性保证要求。本规范适用于带或不带尾纤的半导体光电子器件
General specification for semiconductor optoelectronic device
Outlines dimension for semiconductor optoelectronic devices
本规范规定了GH302型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GH302 photocoupler
本规范规定了GO103型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GO103 photocoupler
Scmiconductor optoelectronic devices.Detail specification for type GD3251Y photodiodes
本规范应与其有关的总规范一起使用;本规范规定了评定半导体光电子器件所需的质量评定程序、检验要求、筛选顺序、抽样要求、试验和测试方法的细节
Semiconductor devices--Sectional specification for optoelectronic devices
本规范规定了GH302-4型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GH302-4 photocoupler
本规范规定了GH3201Z-4型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GH3201Z-4 photocoupler
本规范规定了GD310A型光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for GD310A series photocopier
本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求,包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。 本标准适用于通信用光电子器件,包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块,简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用
Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD101 PIN photodiode
Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD3550Y PIN photodiode
Semiconductor optoelectronic devices.Delail specification for type GT16 Si.NPN phototransistor