贵金属/金饰品中金含量的测定（X射线荧光光谱法）

在现代贵金属检测领域，特别是针对金饰品的分析，准确测定金含量不仅是质量控制和市场交易的基础，也是保障消费者权益的重要环节。贵金属成分的精确分析对于珠宝制造、金融投资以及回收利用等多个行业具有重要意义。金饰品通常由金与其他金属（如银、铜、锌等）组成的合金制成，其金含量通常以“K”值表示，例如24K代表纯金。然而，由于合金成分的复杂性，传统化学分析方法如火试金法虽然准确，但往往耗时、破坏样品且对环境不友好。因此，非破坏性、快速且高精度的分析方法日益受到青睐，其中X射线荧光光谱法（XRF）因其高效、无损和多功能性而成为主流选择。该方法通过测量样品受激发后产生的特征X射线来分析元素组成，特别适用于贵金属饰品中金含量的定量检测，能够在不损伤样品的前提下提供可靠结果，广泛应用于珠宝鉴定、海关检验和工业生产中。

检测项目

本次检测项目主要针对贵金属金饰品中的金含量进行精确测定。具体包括：金（Au）元素的重量百分比或K值（如18K、22K等），以及可能存在的其他合金元素（如银Ag、铜Cu、锌Zn等）的含量分析。检测旨在验证金饰品的纯度是否符合国家标准或商业标称值，确保产品质量和真实性。此外，项目还可能涉及杂质元素的筛查，以评估饰品的整体成分均匀性和可能的掺假情况。

检测仪器

检测使用的主要仪器为X射线荧光光谱仪（XRF）。该仪器通常包括X射线管（作为激发源）、样品室、探测器和数据处理系统。XRF仪器分为能量色散型（ED-XRF）和波长色散型（WD-XRF），其中ED-XRF因其操作简便、快速和分析范围广而更常用于金饰品检测。仪器需配备高分辨率探测器，如硅漂移探测器（SDD），以准确捕捉金元素的特征X射线（如Lα或M线系）。此外，为确保精度，仪器应定期使用标准样品进行校准，并具备自动样品定位和真空或氦气 purge 功能，以减少空气对低能量X射线的吸收影响。

检测方法

检测方法基于X射线荧光光谱法原理。首先，样品准备阶段：将金饰品清洁干净，去除表面污垢或涂层，以确保测量准确性。对于不规则形状的饰品，可使用专用夹具固定，避免移动影响。其次，仪器校准：使用已知金含量的标准样品（如纯金或合金标准片）进行校准，建立校准曲线。然后，测量过程：将样品置于仪器样品室，X射线管发射初级X射线激发样品原子，使其产生特征荧光X射线；探测器收集这些射线，并通过能谱分析确定各元素的强度。金含量的计算基于校准曲线，将测得的金元素强度转换为重量百分比或K值。最后，数据处理：软件自动输出结果，包括金含量、不确定度评估以及可能的多元素分析报告。整个 process 通常只需几分钟，且无需破坏样品。

检测标准

检测遵循相关国家和国际标准以确保结果的可靠性和可比性。主要标准包括：中国国家标准GB/T 18043-2013《首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》，该标准详细规定了XRF方法用于金、银、铂等贵金属含量测定的技术要求、仪器校准、样品处理和结果报告。此外，国际标准如ISO 11426:2014（珠宝和贵金属—金含量的测定—灰吹法）虽以火试金法为主，但XRF方法常作为快速筛查的补充。检测过程中，还需参考行业规范如JJF（冶金）系列计量技术规范，以确保仪器精度和测量不确定度控制在允许范围内（通常金含量相对扩展不确定度不超过1%）。标准要求定期进行质量控制，如使用有证标准物质验证，并记录环境条件（如温度、湿度）以 minimiz 误差。