发布时间：2024-05-27 17:49:26 - 更新时间：2024年06月29日 15:22
点击量：0
有样品要送检？试试一键送检，5分钟极速响应
在线提交检测需求
对接客服咨询检测
本标准适用于航空用TTL集成电路的可靠性筛选试验。TTL集成电路可靠性筛选试验是预测、鉴别TTL集成电路可靠性水平，剔除早期失效器件，提高整机可靠性的有效方法
本文件规定了重力式集成电路分选机的术语和定义、基本参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用手册、包装、运输和贮存及质量承诺。 本文件适用于常温模式下的重力式集成电路分选机（以下简称分选机
Gravity integrated circuit handlers
本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。 本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易
Terminology for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路（F＆HFICs），包括GB/T16464-1996第Ⅳ章第2.4条中的源和有源的F＆HFICs。 本规范适用于供用户继续加工的半成品F＆HFICs，也适用于装有一个以上芯片的片式载体电路，而且这些芯片应作为分立的单元用膜互连技术互连起来
Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
Gives the requirements for certain categories or subcategories of interface integrated circuits. To be read in conjunction with BS 6493-1.1:1984, BS
Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits
This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits
Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits
Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits
本标准适用于线性电路可靠性筛选试验
本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值
Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits
Integrated circuits — Three dimensional integrated circuits — Part 1: Terminology
This part of IEC 63011 provides definitions pertaining to multichip integrated circuits@ as vertically stacked dies using through-silicon vias (TSVs
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology
本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸，适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计
Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits
本标准适用于航空用TTL集成电路的可靠性筛选试验。TTL集成电路可靠性筛选试验是预测、鉴别TTL集成电路可靠性水平，剔除早期失效器件，提高整机可靠性的有效方法
本文件规定了重力式集成电路分选机的术语和定义、基本参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用手册、包装、运输和贮存及质量承诺。 本文件适用于常温模式下的重力式集成电路分选机（以下简称分选机
Gravity integrated circuit handlers
本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。 本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易
Terminology for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路（F＆HFICs），包括GB/T16464-1996第Ⅳ章第2.4条中的源和有源的F＆HFICs。 本规范适用于供用户继续加工的半成品F＆HFICs，也适用于装有一个以上芯片的片式载体电路，而且这些芯片应作为分立的单元用膜互连技术互连起来
Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
Gives the requirements for certain categories or subcategories of interface integrated circuits. To be read in conjunction with BS 6493-1.1:1984, BS
Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits
This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits
Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits
Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits
本标准适用于线性电路可靠性筛选试验
本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值
Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits
Integrated circuits — Three dimensional integrated circuits — Part 1: Terminology
This part of IEC 63011 provides definitions pertaining to multichip integrated circuits@ as vertically stacked dies using through-silicon vias (TSVs
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology
本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸，适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计
Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits
首页
点击咨询
