集成电路筛选检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

QJ 786-1983 半导体技术条件

HB 5834-1983 航空用TTL技术条件

本标准适用于航空用TTL集成电路的可靠性筛选试验。TTL集成电路可靠性筛选试验是预测、鉴别TTL集成电路可靠性水平,剔除早期失效器件,提高整机可靠性的有效方法

T/ZZB 2085-2021 重力式

本文件规定了重力式集成电路分选机的术语和定义、基本参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用手册、包装、运输和贮存及质量承诺。 本文件适用于常温模式下的重力式集成电路分选机(以下简称分选机

Gravity integrated circuit handlers

GB/T 12842-1991 膜和混合膜术语

本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。 本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易

Terminology for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

BS IEC 60748-2-20:2008 半导体器件..数字.类规范.低压

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

GB/T 8976-1996 膜和混合膜总规范

本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路(F&HFICs),包括GB/T16464-1996第Ⅳ章第2.4条中的源和有源的F&HFICs。 本规范适用于供用户继续加工的半成品F&HFICs,也适用于装有一个以上芯片的片式载体电路,而且这些芯片应作为分立的单元用膜互连技术互连起来

Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

BS IEC 60748-4:1997 半导体器件..接口

Gives the requirements for certain categories or subcategories of interface integrated circuits. To be read in conjunction with BS 6493-1.1:1984, BS

Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件..数字

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件 数字

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

0 料的75mm试验方法

HB 5833-1983 航空用线性技术条件

本标准适用于线性电路可靠性筛选试验

GB/T 17574.20-2006 半导体器件 笫2-20部分:数字低压族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits

KS C IEC 63011-1:2022 .三维.第1部分:术语

Integrated circuits — Three dimensional integrated circuits — Part 1: Terminology

IEC 63011-1:2018 .三维.第1部分:术语

This part of IEC 63011 provides definitions pertaining to multichip integrated circuits@ as vertically stacked dies using through-silicon vias (TSVs

Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology

GB/T 15138-1994 膜和混合外形尺寸

本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸,适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计

Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits

QJ 786-1983 半导体技术条件

HB 5834-1983 航空用TTL技术条件

本标准适用于航空用TTL集成电路的可靠性筛选试验。TTL集成电路可靠性筛选试验是预测、鉴别TTL集成电路可靠性水平,剔除早期失效器件,提高整机可靠性的有效方法

T/ZZB 2085-2021 重力式

本文件规定了重力式集成电路分选机的术语和定义、基本参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用手册、包装、运输和贮存及质量承诺。 本文件适用于常温模式下的重力式集成电路分选机(以下简称分选机

Gravity integrated circuit handlers

GB/T 12842-1991 膜和混合膜术语

本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。 本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易

Terminology for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

BS IEC 60748-2-20:2008 半导体器件..数字.类规范.低压

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

GB/T 8976-1996 膜和混合膜总规范

本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路(F&HFICs),包括GB/T16464-1996第Ⅳ章第2.4条中的源和有源的F&HFICs。 本规范适用于供用户继续加工的半成品F&HFICs,也适用于装有一个以上芯片的片式载体电路,而且这些芯片应作为分立的单元用膜互连技术互连起来

Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

BS IEC 60748-4:1997 半导体器件..接口

Gives the requirements for certain categories or subcategories of interface integrated circuits. To be read in conjunction with BS 6493-1.1:1984, BS

Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件..数字

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件 数字

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

0 料的75mm试验方法

HB 5833-1983 航空用线性技术条件

本标准适用于线性电路可靠性筛选试验

GB/T 17574.20-2006 半导体器件 笫2-20部分:数字低压族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits

KS C IEC 63011-1:2022 .三维.第1部分:术语

Integrated circuits — Three dimensional integrated circuits — Part 1: Terminology

IEC 63011-1:2018 .三维.第1部分:术语

This part of IEC 63011 provides definitions pertaining to multichip integrated circuits@ as vertically stacked dies using through-silicon vias (TSVs

Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology

GB/T 15138-1994 膜和混合外形尺寸

本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸,适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计

Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits

编辑:北检院编辑部

我们的优势

选择北检院的六大理由

📚

CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

🏢

15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

👥

资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

旗下实验室资质荣誉

CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

国际先进检测仪器,确保检测数据精准可靠

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检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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