半导体分立器件外壳检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范

本规范规定了军用半导体分立器件外壳(包括底座、盖(帽))生产和交付、质量和可靠性保证的一般要求。 本规范适用于军用半导体分立器件外壳(包括底座、盖(帽),以下简称外壳

General specification for packages of semiconductor discrete devices

GJB 923B-2021 半导体分立器件外壳通用规范

BS QC 750106:1993 电子元器件质量评估协调体系规范.半导体分立器件.空白详细规范.用于外壳额定功率放大器应用的场效应晶体管

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Semiconductor discrete devices - Blank detail specification - Field-effect transistors for case-rated power amplifier applications

GJB 923-1990 半导体分立器件管壳总规范

GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸

本标准适用于半导体分立器件的外形尺寸

Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices

BS IEC 60747-14-4:2011 半导体器件.分立器件.半导体加速器

Semiconductor devices. Discrete devices. Semiconductor accelerometers

BS IEC 60747-6:2016 半导体器件.分立器件.半导体闸流管

Semiconductor devices. Discrete devices. Thyristors

TIS 1863-2009 半导体器件.分立器件

Semiconductor devices.discrete devices

EN 60747-15:2012 半导体器件.分立器件.第15部分:独立的电力半导体器件

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices

EN 60747-15:2004 半导体器件.分立器件.第15部分:独立的电力半导体器件

Discrete semiconductor devices Part 15: Isolated power semiconductor devices

NF C96-015*NF EN 60747-15:2013 半导体器件 分立器件 第15部分:孤立的电力半导体器件

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15 : isolated power semiconductor devices

IEC 60747-15:2003 半导体分立器件.第15部分:孤立的电力半导体器件

Gives the product specific standards, requirements and test methods for isolated power semiconductor devices. These requirements are added to those

Discrete semiconductor devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices

BS IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.光电器件.半导体激光器

This part of IEC 60747 deals with the terminology, the essential ratings and characteristics as well as the measuring methods of semiconductor lasers.

Semiconductor devices - Discrete devices - Optoelectronic devices - Semiconductor lasers

GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范

本规范适用于除光电子器件之外的半导体分充器件

Semiconductor devices Sectional specification for discrete devices

BS EN 60747-15:2004 半导体分立器件.绝缘的功率半导体器件

This part of IEC 60747 gives the product specific standards, requirements and test methods for isolated power semiconductor devices

Discrete semiconductor devices. Isolated power semiconductor devices

GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范

本规范规定了军用半导体分立器件外壳(包括底座、盖(帽))生产和交付、质量和可靠性保证的一般要求。 本规范适用于军用半导体分立器件外壳(包括底座、盖(帽),以下简称外壳

General specification for packages of semiconductor discrete devices

GJB 923B-2021 半导体分立器件外壳通用规范

BS QC 750106:1993 电子元器件质量评估协调体系规范.半导体分立器件.空白详细规范.用于外壳额定功率放大器应用的场效应晶体管

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Semiconductor discrete devices - Blank detail specification - Field-effect transistors for case-rated power amplifier applications

GJB 923-1990 半导体分立器件管壳总规范

GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸

本标准适用于半导体分立器件的外形尺寸

Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices

BS IEC 60747-14-4:2011 半导体器件.分立器件.半导体加速器

Semiconductor devices. Discrete devices. Semiconductor accelerometers

BS IEC 60747-6:2016 半导体器件.分立器件.半导体闸流管

Semiconductor devices. Discrete devices. Thyristors

TIS 1863-2009 半导体器件.分立器件

Semiconductor devices.discrete devices

EN 60747-15:2012 半导体器件.分立器件.第15部分:独立的电力半导体器件

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices

EN 60747-15:2004 半导体器件.分立器件.第15部分:独立的电力半导体器件

Discrete semiconductor devices Part 15: Isolated power semiconductor devices

NF C96-015*NF EN 60747-15:2013 半导体器件 分立器件 第15部分:孤立的电力半导体器件

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15 : isolated power semiconductor devices

IEC 60747-15:2003 半导体分立器件.第15部分:孤立的电力半导体器件

Gives the product specific standards, requirements and test methods for isolated power semiconductor devices. These requirements are added to those

Discrete semiconductor devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices

BS IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.光电器件.半导体激光器

This part of IEC 60747 deals with the terminology, the essential ratings and characteristics as well as the measuring methods of semiconductor lasers.

Semiconductor devices - Discrete devices - Optoelectronic devices - Semiconductor lasers

GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范

本规范适用于除光电子器件之外的半导体分充器件

Semiconductor devices Sectional specification for discrete devices

BS EN 60747-15:2004 半导体分立器件.绝缘的功率半导体器件

This part of IEC 60747 gives the product specific standards, requirements and test methods for isolated power semiconductor devices

Discrete semiconductor devices. Isolated power semiconductor devices

编辑:北检院编辑部

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

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标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

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国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

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通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

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荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

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02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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