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半导体制冷器具检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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军工检测 其他检测

QB/T 5369-2019

DB44/T 1873-2016 酒柜

单相器具额定电压不超过250 V、其他器具额定电压不超过480 V,以及由电池供电,直流电压不超过24 V的下述器具: ——家用和类似用途的酒柜; ——用于野营、旅游车和休闲船上的酒柜。 这些器具可由电网、单独的电池供电,或电网和电池一起供电。 不作为一般家用,但对公众仍可能引起危险的酒柜,例如商店

MSZ 3466/2-1982 压缩工圆柱

BS IEC 60747-14-5:2010 件.传感.PN-结点温度传感

Semiconductor devices - Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

BS IEC 60747-14-4:2011 件.分立件.加速

Semiconductor devices. Discrete devices. Semiconductor accelerometers

CSN 35 8701-1975 件的术语

Terminology of semiconductors and semiconductor devices

SJ/Z 9021.1-1987 件的机械标准化 第1部分:件图形绘

机械标准化的系列标准第1部分给出半导体器件图形绘制的推荐实例。 机械标准化的系列标准的第2部分给出半导体器件尺寸标准

Mechanical standardization of semiconductor components Part 1 Preparation of drawings of semiconductor components

BS IEC 60747-6:2016 件.分立件.闸流管

Semiconductor devices. Discrete devices. Thyristors

IEC 60747-14-5-2010 件 - 第14-5部分:传感 - Pn结温度传感

Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

IEC 60191-1:1966 件的机械标准化 第1部分:件图形绘

Gives recommended practice for the preparation of drawings, specifying general rules for all drawings and additional rules for device and case outline

Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devices

BS IEC 60747-14-2:2000 分立件和集成电路.件.传感.霍尔元件

This part of IEC 60747 provides standards for packaged semiconductor Hall elements which utilize the Hall effect

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Hall elements

BS IEC 60747-14-2:2001 分立件和集成电路.件.传感.霍尔元件

This part of IEC 60747 provides standards for packaged semiconductor Hall elements which utilize the Hall effect

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Hall elements

IEC 60747-14-5:2010 件.第14-5部分:传感.PN-结点温度传感

This standard is applicable to semiconductor PN-junction temperature sensors and defines terms@ definitions@ symbols@ essential ratings

Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

BS IEC 60747-14-3:2009 设备.传感.压力传感

Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Pressure sensors

YD/T 1687.1-2007 光通信用高速激光组件技术条件 第1部分:2.5Gbit/s致型直接调激光组件

本部分规定了2.5Gbit/s致冷型直接调制半导体激光器组件的技术要求和测试方法,包括相关术语、定义、分类、技术要求、测试方法、可靠性试验分类和试验方法、产品检验和产品管理等。 本部分适用于高速光纤通信系统中采用的2.5Gbit/s制冷型直接调制半导体激光器组件

Technical Requirements of High Speed Semiconductor Laser Assembly for Optical Fiber Communication Part 1:2.5Gbit/s Cooled Direct Modulation Semiconductor Laser Assembiy

QB/T 5369-2019

DB44/T 1873-2016 酒柜

单相器具额定电压不超过250 V、其他器具额定电压不超过480 V,以及由电池供电,直流电压不超过24 V的下述器具: ——家用和类似用途的酒柜; ——用于野营、旅游车和休闲船上的酒柜。 这些器具可由电网、单独的电池供电,或电网和电池一起供电。 不作为一般家用,但对公众仍可能引起危险的酒柜,例如商店

MSZ 3466/2-1982 压缩工圆柱

BS IEC 60747-14-5:2010 件.传感.PN-结点温度传感

Semiconductor devices - Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

BS IEC 60747-14-4:2011 件.分立件.加速

Semiconductor devices. Discrete devices. Semiconductor accelerometers

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Terminology of semiconductors and semiconductor devices

SJ/Z 9021.1-1987 件的机械标准化 第1部分:件图形绘

机械标准化的系列标准第1部分给出半导体器件图形绘制的推荐实例。 机械标准化的系列标准的第2部分给出半导体器件尺寸标准

Mechanical standardization of semiconductor components Part 1 Preparation of drawings of semiconductor components

BS IEC 60747-6:2016 件.分立件.闸流管

Semiconductor devices. Discrete devices. Thyristors

IEC 60747-14-5-2010 件 - 第14-5部分:传感 - Pn结温度传感

Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

IEC 60191-1:1966 件的机械标准化 第1部分:件图形绘

Gives recommended practice for the preparation of drawings, specifying general rules for all drawings and additional rules for device and case outline

Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devices

BS IEC 60747-14-2:2000 分立件和集成电路.件.传感.霍尔元件

This part of IEC 60747 provides standards for packaged semiconductor Hall elements which utilize the Hall effect

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Hall elements

BS IEC 60747-14-2:2001 分立件和集成电路.件.传感.霍尔元件

This part of IEC 60747 provides standards for packaged semiconductor Hall elements which utilize the Hall effect

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Hall elements

IEC 60747-14-5:2010 件.第14-5部分:传感.PN-结点温度传感

This standard is applicable to semiconductor PN-junction temperature sensors and defines terms@ definitions@ symbols@ essential ratings

Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

BS IEC 60747-14-3:2009 设备.传感.压力传感

Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Pressure sensors

YD/T 1687.1-2007 光通信用高速激光组件技术条件 第1部分:2.5Gbit/s致型直接调激光组件

本部分规定了2.5Gbit/s致冷型直接调制半导体激光器组件的技术要求和测试方法,包括相关术语、定义、分类、技术要求、测试方法、可靠性试验分类和试验方法、产品检验和产品管理等。 本部分适用于高速光纤通信系统中采用的2.5Gbit/s制冷型直接调制半导体激光器组件

Technical Requirements of High Speed Semiconductor Laser Assembly for Optical Fiber Communication Part 1:2.5Gbit/s Cooled Direct Modulation Semiconductor Laser Assembiy

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