傅立叶变换红外光谱仪检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GB/T 21186-2007

本标准规定了傅立叶变换红外光谱仪的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存、质量保证等。 本标准适用于测量波段在中红外区的傅立叶变换红外光谱仪(以下简称“仪器

Fourier transform infrared spectrometer

JJF 1319-2011 校准规范

本规范适用于傅立叶变换红外光谱仪波数为4000cm~400cm中红外区的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Infrared Spectrometers

GJB 8662-2015 检定规程

JJG(教委) 01-1992 检定规程

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

T/CIS 17006-2022 通用技术规范

前言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 要求 2 4.1 仪器正常工作条件要求 2 4.2 功能要求 3 4.3 外观要求 3 4.4 技术性能要求 3

General technical specification of Fourier transform near-infrared spectrometer

DB32/T 4379-2022 氧化石墨烯材料 的测定

Determination of Fourier Transform Infrared Spectrum of Graphene Oxide Material

JJG(教委) 001-1996 检定规程

适用于新安装、使用中和修理后的傅里叶变换红外光谱仪(以下简称仪器)的检定

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

SN/T 2326-2009 食品及油脂中反式脂肪酸含量的检测

本标准规定了食品及食用油脂中反式脂肪酸的傅立叶变换红外光谱仪检测方法, 本标准适用于棕榈油、乳酷.镑于和苗条中反式脂肪酸含荔的检测

JY/T 001-1996 方法通则

本通则规定了傅里叶变换红外光谱仪近红外、中红外、远红外波段的定性、定量分析方法。适用于各种类型的傅里叶变换红外光谱仪

General rules for Fourier transform infrared spectrometer

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温

本文件描述了用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的方法。 本文件适用于硅单晶中的Ⅲ、Ⅴ族杂质铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、硼(B)、镓(Ga)、铟(In)和磷(P)含量的测定,各元素的测定范围(以原子数计)为1.0×1010cm-3 ~4.1×1014cm-3

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

QX/T 159-2012 地基大气观测规范

本标准规定了地基傅立叶变换高光谱仪的观测环境、观测内容、观测方法、仪器维护以及数据存储和观测记录等。本标准适用于地基傅立叶变换高光谱仪的大气分子光谱观测

Specification for atmospheric spectrum measurement by ground-based high spectral resolution Fourier transform spectroscopy

JJF 1531-2015 校准规范

本规范适用于傅立叶变换质谱仪的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Mass Spectrometers

DB21/T 2751-2017 海水中微塑料的测定 显微

Determination of Microplastics in Seawater by Fourier Transform Microscopy Infrared Spectroscopy

GB/T 24581-2009 低温法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

本标准适用于检测硅单品中的电活性元素硼(B)、磷(P)、砷(As)、铝(Al)、锑(Sb)和镓(Ga)的含量。 本标准所适用的硅中每一种电活性元素杂质或掺杂剂浓度范围为(0.01×10~5.0×1O)a。 每种杂质或掺杂剂的浓度可由比耳定律得到,并给出了对每个元素的

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for Ⅲ-Ⅴ impurities

GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温

Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry

GB/T 21186-2007

本标准规定了傅立叶变换红外光谱仪的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存、质量保证等。 本标准适用于测量波段在中红外区的傅立叶变换红外光谱仪(以下简称“仪器

Fourier transform infrared spectrometer

JJF 1319-2011 校准规范

本规范适用于傅立叶变换红外光谱仪波数为4000cm~400cm中红外区的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Infrared Spectrometers

GJB 8662-2015 检定规程

JJG(教委) 01-1992 检定规程

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

T/CIS 17006-2022 通用技术规范

前言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 要求 2 4.1 仪器正常工作条件要求 2 4.2 功能要求 3 4.3 外观要求 3 4.4 技术性能要求 3

General technical specification of Fourier transform near-infrared spectrometer

DB32/T 4379-2022 氧化石墨烯材料 的测定

Determination of Fourier Transform Infrared Spectrum of Graphene Oxide Material

JJG(教委) 001-1996 检定规程

适用于新安装、使用中和修理后的傅里叶变换红外光谱仪(以下简称仪器)的检定

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

SN/T 2326-2009 食品及油脂中反式脂肪酸含量的检测

本标准规定了食品及食用油脂中反式脂肪酸的傅立叶变换红外光谱仪检测方法, 本标准适用于棕榈油、乳酷.镑于和苗条中反式脂肪酸含荔的检测

JY/T 001-1996 方法通则

本通则规定了傅里叶变换红外光谱仪近红外、中红外、远红外波段的定性、定量分析方法。适用于各种类型的傅里叶变换红外光谱仪

General rules for Fourier transform infrared spectrometer

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温

本文件描述了用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的方法。 本文件适用于硅单晶中的Ⅲ、Ⅴ族杂质铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、硼(B)、镓(Ga)、铟(In)和磷(P)含量的测定,各元素的测定范围(以原子数计)为1.0×1010cm-3 ~4.1×1014cm-3

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

QX/T 159-2012 地基大气观测规范

本标准规定了地基傅立叶变换高光谱仪的观测环境、观测内容、观测方法、仪器维护以及数据存储和观测记录等。本标准适用于地基傅立叶变换高光谱仪的大气分子光谱观测

Specification for atmospheric spectrum measurement by ground-based high spectral resolution Fourier transform spectroscopy

JJF 1531-2015 校准规范

本规范适用于傅立叶变换质谱仪的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Mass Spectrometers

DB21/T 2751-2017 海水中微塑料的测定 显微

Determination of Microplastics in Seawater by Fourier Transform Microscopy Infrared Spectroscopy

GB/T 24581-2009 低温法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

本标准适用于检测硅单品中的电活性元素硼(B)、磷(P)、砷(As)、铝(Al)、锑(Sb)和镓(Ga)的含量。 本标准所适用的硅中每一种电活性元素杂质或掺杂剂浓度范围为(0.01×10~5.0×1O)a。 每种杂质或掺杂剂的浓度可由比耳定律得到,并给出了对每个元素的

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for Ⅲ-Ⅴ impurities

GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温

Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry

编辑:北检院编辑部

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

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荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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