傅立叶变换红外光谱仪检测

发布时间:2023-06-28 06:13:13

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军工检测 其他检测

GB/T 21186-2007

本标准规定了傅立叶变换红外光谱仪的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存、质量保证等。 本标准适用于测量波段在中红外区的傅立叶变换红外光谱仪(以下简称“仪器

Fourier transform infrared spectrometer

JJF 1319-2011 校准规范

本规范适用于傅立叶变换红外光谱仪波数为4000cm~400cm中红外区的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Infrared Spectrometers

GJB 8662-2015 检定规程

JJG(教委) 01-1992 检定规程

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

T/CIS 17006-2022 通用技术规范

前言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 要求 2 4.1 仪器正常工作条件要求 2 4.2 功能要求 3 4.3 外观要求 3 4.4 技术性能要求 3

General technical specification of Fourier transform near-infrared spectrometer

DB32/T 4379-2022 氧化石墨烯材料 的测定

Determination of Fourier Transform Infrared Spectrum of Graphene Oxide Material

JJG(教委) 001-1996 检定规程

适用于新安装、使用中和修理后的傅里叶变换红外光谱仪(以下简称仪器)的检定

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

SN/T 2326-2009 食品及油脂中反式脂肪酸含量的检测

本标准规定了食品及食用油脂中反式脂肪酸的傅立叶变换红外光谱仪检测方法, 本标准适用于棕榈油、乳酷.镑于和苗条中反式脂肪酸含荔的检测

JY/T 001-1996 方法通则

本通则规定了傅里叶变换红外光谱仪近红外、中红外、远红外波段的定性、定量分析方法。适用于各种类型的傅里叶变换红外光谱仪

General rules for Fourier transform infrared spectrometer

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温

本文件描述了用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的方法。 本文件适用于硅单晶中的Ⅲ、Ⅴ族杂质铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、硼(B)、镓(Ga)、铟(In)和磷(P)含量的测定,各元素的测定范围(以原子数计)为1.0×1010cm-3 ~4.1×1014cm-3

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

QX/T 159-2012 地基大气观测规范

本标准规定了地基傅立叶变换高光谱仪的观测环境、观测内容、观测方法、仪器维护以及数据存储和观测记录等。本标准适用于地基傅立叶变换高光谱仪的大气分子光谱观测

Specification for atmospheric spectrum measurement by ground-based high spectral resolution Fourier transform spectroscopy

JJF 1531-2015 校准规范

本规范适用于傅立叶变换质谱仪的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Mass Spectrometers

DB21/T 2751-2017 海水中微塑料的测定 显微

Determination of Microplastics in Seawater by Fourier Transform Microscopy Infrared Spectroscopy

GB/T 24581-2009 低温法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

本标准适用于检测硅单品中的电活性元素硼(B)、磷(P)、砷(As)、铝(Al)、锑(Sb)和镓(Ga)的含量。 本标准所适用的硅中每一种电活性元素杂质或掺杂剂浓度范围为(0.01×10~5.0×1O)a。 每种杂质或掺杂剂的浓度可由比耳定律得到,并给出了对每个元素的

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for Ⅲ-Ⅴ impurities

GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温

Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry

GB/T 21186-2007

本标准规定了傅立叶变换红外光谱仪的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存、质量保证等。 本标准适用于测量波段在中红外区的傅立叶变换红外光谱仪(以下简称“仪器

Fourier transform infrared spectrometer

JJF 1319-2011 校准规范

本规范适用于傅立叶变换红外光谱仪波数为4000cm~400cm中红外区的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Infrared Spectrometers

GJB 8662-2015 检定规程

JJG(教委) 01-1992 检定规程

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

T/CIS 17006-2022 通用技术规范

前言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 要求 2 4.1 仪器正常工作条件要求 2 4.2 功能要求 3 4.3 外观要求 3 4.4 技术性能要求 3

General technical specification of Fourier transform near-infrared spectrometer

DB32/T 4379-2022 氧化石墨烯材料 的测定

Determination of Fourier Transform Infrared Spectrum of Graphene Oxide Material

JJG(教委) 001-1996 检定规程

适用于新安装、使用中和修理后的傅里叶变换红外光谱仪(以下简称仪器)的检定

Verification Regulations for Fourier Transform Infrared Spectrometer

SN/T 2326-2009 食品及油脂中反式脂肪酸含量的检测

本标准规定了食品及食用油脂中反式脂肪酸的傅立叶变换红外光谱仪检测方法, 本标准适用于棕榈油、乳酷.镑于和苗条中反式脂肪酸含荔的检测

JY/T 001-1996 方法通则

本通则规定了傅里叶变换红外光谱仪近红外、中红外、远红外波段的定性、定量分析方法。适用于各种类型的傅里叶变换红外光谱仪

General rules for Fourier transform infrared spectrometer

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温

本文件描述了用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的方法。 本文件适用于硅单晶中的Ⅲ、Ⅴ族杂质铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、硼(B)、镓(Ga)、铟(In)和磷(P)含量的测定,各元素的测定范围(以原子数计)为1.0×1010cm-3 ~4.1×1014cm-3

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

QX/T 159-2012 地基大气观测规范

本标准规定了地基傅立叶变换高光谱仪的观测环境、观测内容、观测方法、仪器维护以及数据存储和观测记录等。本标准适用于地基傅立叶变换高光谱仪的大气分子光谱观测

Specification for atmospheric spectrum measurement by ground-based high spectral resolution Fourier transform spectroscopy

JJF 1531-2015 校准规范

本规范适用于傅立叶变换质谱仪的校准

Calibration Specification for Fourier Transform Mass Spectrometers

DB21/T 2751-2017 海水中微塑料的测定 显微

Determination of Microplastics in Seawater by Fourier Transform Microscopy Infrared Spectroscopy

GB/T 24581-2009 低温法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

本标准适用于检测硅单品中的电活性元素硼(B)、磷(P)、砷(As)、铝(Al)、锑(Sb)和镓(Ga)的含量。 本标准所适用的硅中每一种电活性元素杂质或掺杂剂浓度范围为(0.01×10~5.0×1O)a。 每种杂质或掺杂剂的浓度可由比耳定律得到,并给出了对每个元素的

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for Ⅲ-Ⅴ impurities

GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温

Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry

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