运算放大器集成电路检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型

Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier

QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法

Test methods for operational amplifiers in semiconductor integrated circuits

GJB 597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 597/5-1990 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法

GOST 23089.12-1986 微型集成电路.运算放大器噪声测量方法

Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers

KS C 7203-1990 保证可靠性的单块集成电路运算放大器

이 규격은 전자기기에 사용하는 모놀리틱 연산증폭기 중, 특히 신뢰성 보증이 요구되는 것에

Reliability Assured Monolithic Operational Amplifier

QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法

器件

GOST 23089.2-1983 微型集成电路.运算放大器最大输出电压测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers maximum output voltage

GB/T 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范(可供认证用)

本规范规定了编制半导体集成电路运算放大器(以下简称器件)详细规范的基本原则

Blank detail specification for semiconductor integrated circuit operational amplifiers

STAS 11206-1980 线性集成电路.运算放大器.主要参数的测量方法

1 Prezentul standard stabile?te metodele de m?surare a parametrilor principali ai amplificatoarelor opera?ionale, denumite ?n cuprinsul standardului

Linear integrated circuits OPERATIONAL AMPLIFIERS Methods of measurement for the main parameters

GOST 23089.1-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器的放大系数测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain

GOST 23089.13-1986 微型集成电路.运算放大器单元放大频率和截止频率测量方法

Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза f

Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency

KS C IEC 60748-3-1:2002 半导体器件.集成电路.第3部分:模拟集成电路.第1节:单块集成电路运算放大器

서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers

GOST 23089.6-1983 微型集成电路.运算放大器输出电压阻尼时间的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time

GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型

Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier

QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法

Test methods for operational amplifiers in semiconductor integrated circuits

GJB 597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 597/5-1990 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法

GOST 23089.12-1986 微型集成电路.运算放大器噪声测量方法

Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers

KS C 7203-1990 保证可靠性的单块集成电路运算放大器

이 규격은 전자기기에 사용하는 모놀리틱 연산증폭기 중, 특히 신뢰성 보증이 요구되는 것에

Reliability Assured Monolithic Operational Amplifier

QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法

器件

GOST 23089.2-1983 微型集成电路.运算放大器最大输出电压测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers maximum output voltage

GB/T 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范(可供认证用)

本规范规定了编制半导体集成电路运算放大器(以下简称器件)详细规范的基本原则

Blank detail specification for semiconductor integrated circuit operational amplifiers

STAS 11206-1980 线性集成电路.运算放大器.主要参数的测量方法

1 Prezentul standard stabile?te metodele de m?surare a parametrilor principali ai amplificatoarelor opera?ionale, denumite ?n cuprinsul standardului

Linear integrated circuits OPERATIONAL AMPLIFIERS Methods of measurement for the main parameters

GOST 23089.1-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器的放大系数测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain

GOST 23089.13-1986 微型集成电路.运算放大器单元放大频率和截止频率测量方法

Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза f

Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency

KS C IEC 60748-3-1:2002 半导体器件.集成电路.第3部分:模拟集成电路.第1节:单块集成电路运算放大器

서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers

GOST 23089.6-1983 微型集成电路.运算放大器输出电压阻尼时间的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time

编辑:北检院编辑部

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配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可,具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。

CMA 检验检测机构资质认定

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国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

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通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

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荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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需求沟通

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样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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