半导体集成电路采样/保持放大器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试

General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/保持放大器的品种

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型

Series and products of nonlinear circuits for semiconductor integrated circuits--Products of sample/hold amplifiers

BS EN 60747-16-1:2002+A1:2007 半导体器件.微波集成电路.放大器

This part of IEC 60747 provides the terminology, the essential ratings and characteristics, as well as the measuring methods for integrated circuit

Semiconductor devices — Part 16-1: Microwave integrated circuits — Amplifiers

BS EN 60747-16-1:2002 分立的半导体器件和集成电路.微波集成电路.放大器

This part of IEC 60747 provides the terminology, the essential ratings and characteristics, as well as the measuring methods for integrated circuit

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Microwave integrated circuits - Amplifiers

QJ 1460-1988 半导体集成电路宽带放大器测试方法

Test method for broadband amplifier of semiconductor integrated circuit

QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法

Test methods for operational amplifiers in semiconductor integrated circuits

GJB 597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 597/5-1990 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法

DLA SMD-5962-90730 REV C-2009 微电路、混合、高速采样保持放大器

MICROCIRCUIT, HYBRID, HIGH SPEED TRACK AND HOLD AMPLIFIER

GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器

本部分规定了微波集成电路放大器的术语、基本额定值、特性以及测试方法

Semiconductor devices Part 16-1 Microwave integrated circuits Amplifiers

GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型

Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier

GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路线性放大器(以下简称器件)各系列和品种的外引线排列、推荐线路和主要电参数

Families and products of linear amplifier for semiconductor integrated circuits

DIN EN 60747-16-1:2007 半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers (IEC 60747-16-1:2001 + A1:2007); German version EN 60747-16-1:2002 + A1:2007

IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2007 半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers

GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试

General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/保持放大器的品种

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型

Series and products of nonlinear circuits for semiconductor integrated circuits--Products of sample/hold amplifiers

BS EN 60747-16-1:2002+A1:2007 半导体器件.微波集成电路.放大器

This part of IEC 60747 provides the terminology, the essential ratings and characteristics, as well as the measuring methods for integrated circuit

Semiconductor devices — Part 16-1: Microwave integrated circuits — Amplifiers

BS EN 60747-16-1:2002 分立的半导体器件和集成电路.微波集成电路.放大器

This part of IEC 60747 provides the terminology, the essential ratings and characteristics, as well as the measuring methods for integrated circuit

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Microwave integrated circuits - Amplifiers

QJ 1460-1988 半导体集成电路宽带放大器测试方法

Test method for broadband amplifier of semiconductor integrated circuit

QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法

Test methods for operational amplifiers in semiconductor integrated circuits

GJB 597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 597/5-1990 半导体集成电路运算放大器详细规范

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法

DLA SMD-5962-90730 REV C-2009 微电路、混合、高速采样保持放大器

MICROCIRCUIT, HYBRID, HIGH SPEED TRACK AND HOLD AMPLIFIER

GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器

本部分规定了微波集成电路放大器的术语、基本额定值、特性以及测试方法

Semiconductor devices Part 16-1 Microwave integrated circuits Amplifiers

GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型

Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier

GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路线性放大器(以下简称器件)各系列和品种的外引线排列、推荐线路和主要电参数

Families and products of linear amplifier for semiconductor integrated circuits

DIN EN 60747-16-1:2007 半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers (IEC 60747-16-1:2001 + A1:2007); German version EN 60747-16-1:2002 + A1:2007

IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2007 半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers

编辑:北检院编辑部

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CMA 检验检测机构资质认定

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ISO 质量管理体系认证

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绿色低碳诚信示范创建企业

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北京市创新型中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

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