发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22
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이 규격은 평평한 측정면을 가진 투명한 재료(광학 유리 또는 수정체 및 기타 재료) 원판으
Optical flats
Optical Flats
Optical flats
本标准规定了平面平晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存等。 本标准适用于以光波干涉方法来检验平面的平面度及量块的研合性的圆形平面平晶
Optical flat
本标准规定了平行平晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存等。 本标准适用于以光波干涉方法检验千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规及其他量具测量面的平面度和两测量面的平行度的平行平晶
Optical parallel
이 규격은 평행하고 또한 평평한 측정면을 가진 투명한 재료(광학 유리 또는 수정제 및 기타
Optical parallels
この規格は,平行かつ平らな測定面をもっ透明なガラスで作られ,光波干渉による平面度及び平行度の測定に用いるオプチカルパラレル(以下,パラレルという。)について規定する
Optical parallels
Optical parallels
Verification Regulation of Optical Flats
本文件规定了石英晶体微天平晶片的术语和定义、材料、技术要求、测量程序,检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本文件适用于石英晶体微天平晶片
Quartz Crystal Microbalance Element
Настоящий стандарт распространяется на образцовые поляриметрические пластинки 2
Polarimetric plates. Technical requirements
State system for ensuring the uniformity of measurements. Glass plates for interference measurements. Means and methods of verification
State system for ensuring the uniformity of measurements. Glass plates for the interference measurements. Verification procedure
1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用于晶粒形状与本标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织,但经具体规定后也适用于多相或多组元的试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量。1.2本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度
Metal-methids for estimating the average grain size
1.1 本标准规定了金属组织平均晶粒度的表示及测定方法,包含有比较法、面积法和截点法,适用于单相组织,但经具体规定后也适用于多相或多组元试样中特定类型的晶粒平均尺寸测定。 非金属材料如组织形犁与比较评级图中金属组织相似也可参照使用。 1.2 ”本标准利用唱粒的面积直径或截线长度的单峰分布(近似于对数
Determination of estimating the average grain size of metal
이 규격은 평평한 측정면을 가진 투명한 재료(광학 유리 또는 수정체 및 기타 재료) 원판으
Optical flats
Optical Flats
Optical flats
本标准规定了平面平晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存等。 本标准适用于以光波干涉方法来检验平面的平面度及量块的研合性的圆形平面平晶
Optical flat
本标准规定了平行平晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存等。 本标准适用于以光波干涉方法检验千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规及其他量具测量面的平面度和两测量面的平行度的平行平晶
Optical parallel
이 규격은 평행하고 또한 평평한 측정면을 가진 투명한 재료(광학 유리 또는 수정제 및 기타
Optical parallels
この規格は,平行かつ平らな測定面をもっ透明なガラスで作られ,光波干渉による平面度及び平行度の測定に用いるオプチカルパラレル(以下,パラレルという。)について規定する
Optical parallels
Optical parallels
Verification Regulation of Optical Flats
本文件规定了石英晶体微天平晶片的术语和定义、材料、技术要求、测量程序,检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本文件适用于石英晶体微天平晶片
Quartz Crystal Microbalance Element
Настоящий стандарт распространяется на образцовые поляриметрические пластинки 2
Polarimetric plates. Technical requirements
State system for ensuring the uniformity of measurements. Glass plates for interference measurements. Means and methods of verification
State system for ensuring the uniformity of measurements. Glass plates for the interference measurements. Verification procedure
1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用于晶粒形状与本标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织,但经具体规定后也适用于多相或多组元的试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量。1.2本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度
Metal-methids for estimating the average grain size
1.1 本标准规定了金属组织平均晶粒度的表示及测定方法,包含有比较法、面积法和截点法,适用于单相组织,但经具体规定后也适用于多相或多组元试样中特定类型的晶粒平均尺寸测定。 非金属材料如组织形犁与比较评级图中金属组织相似也可参照使用。 1.2 ”本标准利用唱粒的面积直径或截线长度的单峰分布(近似于对数
Determination of estimating the average grain size of metal