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图示仪检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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军工检测 其他检测

JY/T 0006-2011 晶体管特性

本标准规定了晶体管特性图示仪的型号命名、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮 存。 本标准适用于以教学用示波器为显示设备的晶体管特性图示仪

Transistor Characteristic Tracer

SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性

本标准适用于图示仪质量检验与试验。也是XJ4810图示仪设计、生产和使用的共同技术依据

Graphic instrument for characteristics of semiconductor tubes for Type XJ4810

SJ 20261-1993 SWOB5型扫频检定规程

本检定规程规定了SWOB5型扫频图示仪的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于SWOB5的检定。其他型号的RF扫频信号器及各种VHF和UHF扫频发生器等,亦可参照本规程进行检定

Verification regulation of model SWOB5 polyskop

JJG(电子) 04024-1989 BJ4801型校准检定规程

Specification for verification of BJ4801 model graphic instrument calibrators

GB/T 13974-1992 半导体管特性测试方法

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的测试方法及误差计算等。 本标准所用的术语符合GB/T13973《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定。 本标准适用于测试GB/T13973中所规定的性能特性

Test methods for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1236-2010 半导体管特性校准规范

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准

Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

GB/T 13973-2012 半导体管特性通用规范

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等、本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪,也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪、图示仪的产品标准应满足本标准的要求,当图示仪的产品标准要求超出本

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

DB13/T 5293-2020 半导体特性维修规范

Specifications for Maintenance of Semiconductor Characteristic Tracer

JY 6-1985 晶体管特性技术条件

Transistor Characteristic Tracer Specifications

JJG 838-1993 晶体管特性校准检定规程

Verification Regulation of Calibrator for Transister Specificity Oscilloscope

JJG(电子) 04014-1988 晶体管特性试行检定规程

Trial Verification Regulations for Transistor Characteristic Tracer

GB/T 13973-1992 半导体管特性通用技术条件

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语、技术要求、试验方法、检验规则、标志包装、运输贮存等。 本标准适用于测量半导体管直流参数的图示仪。也适应于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪

General specification for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1894-2021 半导体管特性校准校准规范

Calibration Specification for Calibrators of Semiconductor Curve Tracers

JJF(电子) 21-1982 JT-l型晶体管特性检定方法

Verification Method of JT-l Transistor Characteristic Graphic Instrument

SJ 20236-1993 GH2050/51型半导体管特性校准检定规程

本检定规程规定了GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定条件、检定项目、检定方法,检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定

Verification regulation of the model GH2050/51 calibrator for transistor characteristic tracer

JY/T 0006-2011 晶体管特性

本标准规定了晶体管特性图示仪的型号命名、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮 存。 本标准适用于以教学用示波器为显示设备的晶体管特性图示仪

Transistor Characteristic Tracer

SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性

本标准适用于图示仪质量检验与试验。也是XJ4810图示仪设计、生产和使用的共同技术依据

Graphic instrument for characteristics of semiconductor tubes for Type XJ4810

SJ 20261-1993 SWOB5型扫频检定规程

本检定规程规定了SWOB5型扫频图示仪的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于SWOB5的检定。其他型号的RF扫频信号器及各种VHF和UHF扫频发生器等,亦可参照本规程进行检定

Verification regulation of model SWOB5 polyskop

JJG(电子) 04024-1989 BJ4801型校准检定规程

Specification for verification of BJ4801 model graphic instrument calibrators

GB/T 13974-1992 半导体管特性测试方法

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的测试方法及误差计算等。 本标准所用的术语符合GB/T13973《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定。 本标准适用于测试GB/T13973中所规定的性能特性

Test methods for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1236-2010 半导体管特性校准规范

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准

Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

GB/T 13973-2012 半导体管特性通用规范

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等、本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪,也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪、图示仪的产品标准应满足本标准的要求,当图示仪的产品标准要求超出本

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

DB13/T 5293-2020 半导体特性维修规范

Specifications for Maintenance of Semiconductor Characteristic Tracer

JY 6-1985 晶体管特性技术条件

Transistor Characteristic Tracer Specifications

JJG 838-1993 晶体管特性校准检定规程

Verification Regulation of Calibrator for Transister Specificity Oscilloscope

JJG(电子) 04014-1988 晶体管特性试行检定规程

Trial Verification Regulations for Transistor Characteristic Tracer

GB/T 13973-1992 半导体管特性通用技术条件

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语、技术要求、试验方法、检验规则、标志包装、运输贮存等。 本标准适用于测量半导体管直流参数的图示仪。也适应于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪

General specification for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1894-2021 半导体管特性校准校准规范

Calibration Specification for Calibrators of Semiconductor Curve Tracers

JJF(电子) 21-1982 JT-l型晶体管特性检定方法

Verification Method of JT-l Transistor Characteristic Graphic Instrument

SJ 20236-1993 GH2050/51型半导体管特性校准检定规程

本检定规程规定了GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定条件、检定项目、检定方法,检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定

Verification regulation of the model GH2050/51 calibrator for transistor characteristic tracer

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