图示仪检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

JY/T 0006-2011 晶体管特性

本标准规定了晶体管特性图示仪的型号命名、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮 存。 本标准适用于以教学用示波器为显示设备的晶体管特性图示仪

Transistor Characteristic Tracer

SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性

本标准适用于图示仪质量检验与试验。也是XJ4810图示仪设计、生产和使用的共同技术依据

Graphic instrument for characteristics of semiconductor tubes for Type XJ4810

SJ 20261-1993 SWOB5型扫频检定规程

本检定规程规定了SWOB5型扫频图示仪的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于SWOB5的检定。其他型号的RF扫频信号器及各种VHF和UHF扫频发生器等,亦可参照本规程进行检定

Verification regulation of model SWOB5 polyskop

JJG(电子) 04024-1989 BJ4801型校准检定规程

Specification for verification of BJ4801 model graphic instrument calibrators

GB/T 13974-1992 半导体管特性测试方法

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的测试方法及误差计算等。 本标准所用的术语符合GB/T13973《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定。 本标准适用于测试GB/T13973中所规定的性能特性

Test methods for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1236-2010 半导体管特性校准规范

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准

Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

GB/T 13973-2012 半导体管特性通用规范

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等、本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪,也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪、图示仪的产品标准应满足本标准的要求,当图示仪的产品标准要求超出本

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

DB13/T 5293-2020 半导体特性维修规范

Specifications for Maintenance of Semiconductor Characteristic Tracer

JY 6-1985 晶体管特性技术条件

Transistor Characteristic Tracer Specifications

JJG 838-1993 晶体管特性校准检定规程

Verification Regulation of Calibrator for Transister Specificity Oscilloscope

JJG(电子) 04014-1988 晶体管特性试行检定规程

Trial Verification Regulations for Transistor Characteristic Tracer

GB/T 13973-1992 半导体管特性通用技术条件

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语、技术要求、试验方法、检验规则、标志包装、运输贮存等。 本标准适用于测量半导体管直流参数的图示仪。也适应于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪

General specification for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1894-2021 半导体管特性校准校准规范

Calibration Specification for Calibrators of Semiconductor Curve Tracers

JJF(电子) 21-1982 JT-l型晶体管特性检定方法

Verification Method of JT-l Transistor Characteristic Graphic Instrument

SJ 20236-1993 GH2050/51型半导体管特性校准检定规程

本检定规程规定了GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定条件、检定项目、检定方法,检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定

Verification regulation of the model GH2050/51 calibrator for transistor characteristic tracer

JY/T 0006-2011 晶体管特性

本标准规定了晶体管特性图示仪的型号命名、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮 存。 本标准适用于以教学用示波器为显示设备的晶体管特性图示仪

Transistor Characteristic Tracer

SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性

本标准适用于图示仪质量检验与试验。也是XJ4810图示仪设计、生产和使用的共同技术依据

Graphic instrument for characteristics of semiconductor tubes for Type XJ4810

SJ 20261-1993 SWOB5型扫频检定规程

本检定规程规定了SWOB5型扫频图示仪的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于SWOB5的检定。其他型号的RF扫频信号器及各种VHF和UHF扫频发生器等,亦可参照本规程进行检定

Verification regulation of model SWOB5 polyskop

JJG(电子) 04024-1989 BJ4801型校准检定规程

Specification for verification of BJ4801 model graphic instrument calibrators

GB/T 13974-1992 半导体管特性测试方法

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的测试方法及误差计算等。 本标准所用的术语符合GB/T13973《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定。 本标准适用于测试GB/T13973中所规定的性能特性

Test methods for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1236-2010 半导体管特性校准规范

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准

Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

GB/T 13973-2012 半导体管特性通用规范

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等、本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪,也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪、图示仪的产品标准应满足本标准的要求,当图示仪的产品标准要求超出本

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

DB13/T 5293-2020 半导体特性维修规范

Specifications for Maintenance of Semiconductor Characteristic Tracer

JY 6-1985 晶体管特性技术条件

Transistor Characteristic Tracer Specifications

JJG 838-1993 晶体管特性校准检定规程

Verification Regulation of Calibrator for Transister Specificity Oscilloscope

JJG(电子) 04014-1988 晶体管特性试行检定规程

Trial Verification Regulations for Transistor Characteristic Tracer

GB/T 13973-1992 半导体管特性通用技术条件

本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语、技术要求、试验方法、检验规则、标志包装、运输贮存等。 本标准适用于测量半导体管直流参数的图示仪。也适应于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪

General specification for semiconductor deviece curve tracers

JJF 1894-2021 半导体管特性校准校准规范

Calibration Specification for Calibrators of Semiconductor Curve Tracers

JJF(电子) 21-1982 JT-l型晶体管特性检定方法

Verification Method of JT-l Transistor Characteristic Graphic Instrument

SJ 20236-1993 GH2050/51型半导体管特性校准检定规程

本检定规程规定了GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定条件、检定项目、检定方法,检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定

Verification regulation of the model GH2050/51 calibrator for transistor characteristic tracer

编辑:北检院编辑部

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

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标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。