运算(电压)放大器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

SJ/T 10738-1996 半导体集成测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for operational (voltage) amplifiers

GB 3442-1986 半导体集成()测试方法的基本原理

Basic principles of semiconductor integrated circuit operational (voltage) amplifier testing methods

GOST 23089.1-1983 微型集成路.比较系数测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain

DLA SMD-5962-87604 REV F-2010 微路,线性,基准,单片硅

MICROCIRCUIT, LINEAR, OP AMP AND VOLTAGE REFERENCE, MONOLITHIC SILICON

NF C96-111/A1:1980 微型结构.模拟微型结构..一般规定

NF C96-112/A1:1981 微型结构.模拟微型结构..一般规定

GOST 23089.6-1983 微型集成路.输出阻尼时间的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time

GOST 23089.0-1978 微型集成路.比较参数测量的一般要求

Integrated circuits. General requirements at measuring electrical parameters of operational amplifiers and voltage comparators

GOST 23089.3-1983 微型集成路.比较零位移动势和测量方法

Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators zero offset voltage and emf

GOST 23089.11-1983 微型集成路.比较同相输入衰减系数测量方法

Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio

DLA MIL-M-38510/106 B VALID NOTICE 1-2009 微路、线性、跟随、单片硅

Microcircuits, Linear, Voltage Follower Operational Amplifiers, Monolithic Silicon

DLA SMD-5962-87606 REV C-2010 微路,线性,跟随,单片硅

MICROCIRCUIT, LINEAR, VOLTAGE FOLLOWER OPERATIONAL AMPLIFIERS, MONOLITHIC SILICON

GOST 23089.10-1983 微型集成路.输出上升时间和最速度的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time

GOST 23089.4-1983 微型集成路.比较的输入流差与输入流测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the input currents and input bias current of operational amplifiers and voltage comparators

GOST 23089.5-1983 微型集成路.比较的消耗流和消耗功率的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators consumption current and power

SJ/T 10738-1996 半导体集成测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for operational (voltage) amplifiers

GB 3442-1986 半导体集成()测试方法的基本原理

Basic principles of semiconductor integrated circuit operational (voltage) amplifier testing methods

GOST 23089.1-1983 微型集成路.比较系数测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain

DLA SMD-5962-87604 REV F-2010 微路,线性,基准,单片硅

MICROCIRCUIT, LINEAR, OP AMP AND VOLTAGE REFERENCE, MONOLITHIC SILICON

NF C96-111/A1:1980 微型结构.模拟微型结构..一般规定

NF C96-112/A1:1981 微型结构.模拟微型结构..一般规定

GOST 23089.6-1983 微型集成路.输出阻尼时间的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time

GOST 23089.0-1978 微型集成路.比较参数测量的一般要求

Integrated circuits. General requirements at measuring electrical parameters of operational amplifiers and voltage comparators

GOST 23089.3-1983 微型集成路.比较零位移动势和测量方法

Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators zero offset voltage and emf

GOST 23089.11-1983 微型集成路.比较同相输入衰减系数测量方法

Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio

DLA MIL-M-38510/106 B VALID NOTICE 1-2009 微路、线性、跟随、单片硅

Microcircuits, Linear, Voltage Follower Operational Amplifiers, Monolithic Silicon

DLA SMD-5962-87606 REV C-2010 微路,线性,跟随,单片硅

MICROCIRCUIT, LINEAR, VOLTAGE FOLLOWER OPERATIONAL AMPLIFIERS, MONOLITHIC SILICON

GOST 23089.10-1983 微型集成路.输出上升时间和最速度的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time

GOST 23089.4-1983 微型集成路.比较的输入流差与输入流测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the input currents and input bias current of operational amplifiers and voltage comparators

GOST 23089.5-1983 微型集成路.比较的消耗流和消耗功率的测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators consumption current and power

编辑:北检院编辑部

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汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

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荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

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国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

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通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

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荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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