服务热线:400-635-0567

半导体器件键合用金丝检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

点击量:0

军工检测 其他检测

GB/T 8750-2007

本标准规定了半导体器件键合金丝的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等。 本标准适用于半导体器件内引线用的拉伸或挤压金丝

Gold bonding wire for semiconductor devices

GB/T 8750-1997

本标准规定了半导体器件键合金丝的产品分类、要求、试验方法、检测规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于半导体器件内引线用的拉伸或挤压金丝

Gold wire for semiconductor devices lead bonding

GB/T 8750-2014 封装

本标准规定了半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝(以下简称金丝)的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、合同(或订货单)等内容。本标准适用于半导体封装用键合金丝

Gold bonding wire for semiconductor package

YS/T 678-2008

本标准规定了半导体器件键合用铜丝的要求、试验方法、检验规范和标志、包装、运输、贮存及订货单(或合同)内容。 本标准适用于半导体器件键合用铜丝(以下简称铜丝

Copper wire for semiconductor lead bonding

YS/T 641-2007

本标准规定了半导体器件键合用铝丝的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于半导体器件键合用铝丝(以下简称铝丝

Aluminium wire for semiconductor lead bonding

T/ZZB 1718-2020 封装

本标准规定了半导体封装用键合金丝(以下简称金丝)的基本要求、产品分类和标记、技术要求、试验方法、检测规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、质量承诺。 本标准适用于半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝

Gold bonding wire for semiconductor package

GB/T 8750-2022 封装、带

本文件规定了半导体封装用金基键合丝、带的分类和标记、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单(或合同)内容。 本文件适用于半导体分立器件和集成电路封装用金基键合丝、带

Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package

T/CMIF 137-2021 封装

前言 ···························································································································· III 1 

Silver-gold alloy wire for semiconductor packaging bonding

YS/T 1105-2016 封装

Bonding silver wire for semiconductor packaging

SJ/T 10705-1996 表面质量检验方法

本标准规定了半导体器件键合丝表面质量检验方法。 本标准适用于各种键合丝表面质量的检验

Standard practice for inspection of surface quality of semiconductor lead-bonding wire

YS/T 543-2015 铝-1%硅细

Aluminum-1% silicon filament for semiconductor bonding

ASTM F72-17e1 引线的标准规范

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

ASTM F72-95 引线的标准规范

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

ASTM F72-17 引线的标准规范

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

ASTM F72-21 引线的标准规范

1.1?This specification covers round drawn/extruded gold wire for internal semiconductor device electrical connections. Four classifications of wire

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

GB/T 8750-2007

本标准规定了半导体器件键合金丝的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等。 本标准适用于半导体器件内引线用的拉伸或挤压金丝

Gold bonding wire for semiconductor devices

GB/T 8750-1997

本标准规定了半导体器件键合金丝的产品分类、要求、试验方法、检测规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于半导体器件内引线用的拉伸或挤压金丝

Gold wire for semiconductor devices lead bonding

GB/T 8750-2014 封装

本标准规定了半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝(以下简称金丝)的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、合同(或订货单)等内容。本标准适用于半导体封装用键合金丝

Gold bonding wire for semiconductor package

YS/T 678-2008

本标准规定了半导体器件键合用铜丝的要求、试验方法、检验规范和标志、包装、运输、贮存及订货单(或合同)内容。 本标准适用于半导体器件键合用铜丝(以下简称铜丝

Copper wire for semiconductor lead bonding

YS/T 641-2007

本标准规定了半导体器件键合用铝丝的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于半导体器件键合用铝丝(以下简称铝丝

Aluminium wire for semiconductor lead bonding

T/ZZB 1718-2020 封装

本标准规定了半导体封装用键合金丝(以下简称金丝)的基本要求、产品分类和标记、技术要求、试验方法、检测规则、标志、包装、运输和贮存、质量证明书、质量承诺。 本标准适用于半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合金丝

Gold bonding wire for semiconductor package

GB/T 8750-2022 封装、带

本文件规定了半导体封装用金基键合丝、带的分类和标记、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单(或合同)内容。 本文件适用于半导体分立器件和集成电路封装用金基键合丝、带

Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package

T/CMIF 137-2021 封装

前言 ···························································································································· III 1 

Silver-gold alloy wire for semiconductor packaging bonding

YS/T 1105-2016 封装

Bonding silver wire for semiconductor packaging

SJ/T 10705-1996 表面质量检验方法

本标准规定了半导体器件键合丝表面质量检验方法。 本标准适用于各种键合丝表面质量的检验

Standard practice for inspection of surface quality of semiconductor lead-bonding wire

YS/T 543-2015 铝-1%硅细

Aluminum-1% silicon filament for semiconductor bonding

ASTM F72-17e1 引线的标准规范

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

ASTM F72-95 引线的标准规范

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

ASTM F72-17 引线的标准规范

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

ASTM F72-21 引线的标准规范

1.1?This specification covers round drawn/extruded gold wire for internal semiconductor device electrical connections. Four classifications of wire

Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding

上一篇: 金条检测
下一篇: 纯铂检测
检测流程
填写并提交定制服务需求表
技术评估和方案讨论
对选定的试验方法进行报价
合同签定与付款
按期交付检测报告和相关数据
想了解更多检测项目
请点击咨询在线工程师
点击咨询
联系我们
服务热线:400-635-0567
地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
邮编:10000
总机:400-635-0567
联系我们

服务热线:400-635-0567

投诉建议:010-82491398

报告问题解答:010-8646-0567-8

周期、价格等

咨询

技术咨询