GB/T 20510-2006 氧化铟锡靶材
本标准规定了氧化铟锡（简称ITO）靶材的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于氧化铟锡靶材
Indium-tin oxide target
GB/T 20510-2017 氧化铟锡靶材
Indium-tin oxide target
GB/T 38389-2019 氧化铟锡靶材化学分析方法
Methods for chemical analysis of indium-tin oxide target
YS/T 1353-2020 掺锡氧化铟粉
Tin-doped indium oxide powder
JB/T 7777.2-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 DETA容量法测定铟量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定。测定范围：1.0O%～5.00
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method DETA volumetric method for determination of indium content
T/ZZB 0629-2018 继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材
本标准规定了继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材（以下简称线材）的术语和定义、标注、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、标签、贮存、包装、运输、质量承诺等内容。 本标准适用于继电器触点用以合金内氧化法制造的银氧化锡氧化铟线材产品
Wire of silver-tin oxide indium-oxide by alloy internal oxidation method for relay’s contact
JB/T 7777.1-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 碘量法测定锡量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定。测定范围：3.0O%～10.00
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method iodometric method for determination of tin content
YS/T 1156-2016 铜铟镓硒靶材
Copper indium gallium selenide target
JB/T 7777.1-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法.第1部分:碘量法测定锡量
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡质量分数的测定。测定范围:3.00%-10.00
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material.Part 1:Determination of tin content
JB/T 7777.2-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法.第2部分:EDTA容量法测定铟量
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟质量分数的测定。测定范围:1.00%-5.00
Test method for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact materials.Part 2:Determination of indium
DB34/T 1760-2012 氧化铟锡透明导电膜玻璃
本标准规定了氧化铟锡透明导电膜玻璃的术语和定义、产品型号、技术要求、抽样、试验方法、检验规则、标识、包装、运输、贮存。 本标准适用于显示器件用氧化铟锡（以下简称ITO）透明导电膜玻璃
Indium tin oxide transparent conductive film glass
JB/T 7777.5-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟量的测定。测定范围见表1
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method flame atomic absorption spectrometry Determination of nickel, zinc and indium content
YS/T 826-2012 五氧化二铌靶材
本标准规定了五氧化二铌靶材的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同（或订货单）内容。 本标准适用于以五氧化二铌粉末为原料，采用真空热压工艺制成的五氧化二铌靶材
Niobium pentoxide target material
JB/T 7777.4-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 PAN分光光度法测定锌量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锌量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锌量的测定。测定范围：0.05～1.00
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method PAN spectrophotometric determination of zinc content
JB/T 7777.5-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法.第5部分:火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟质量分数的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟质量分数的测定。测定范围见表1
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material.Part 5:Determination of nickel,zinc and indium contents
GB/T 20510-2006 氧化铟锡靶材
本标准规定了氧化铟锡（简称ITO）靶材的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于氧化铟锡靶材
Indium-tin oxide target
GB/T 20510-2017 氧化铟锡靶材
Indium-tin oxide target
GB/T 38389-2019 氧化铟锡靶材化学分析方法
Methods for chemical analysis of indium-tin oxide target
YS/T 1353-2020 掺锡氧化铟粉
Tin-doped indium oxide powder
JB/T 7777.2-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 DETA容量法测定铟量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定。测定范围：1.0O%～5.00
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method DETA volumetric method for determination of indium content
T/ZZB 0629-2018 继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材
本标准规定了继电器触点用合金内氧化法银氧化锡氧化铟线材（以下简称线材）的术语和定义、标注、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、标签、贮存、包装、运输、质量承诺等内容。 本标准适用于继电器触点用以合金内氧化法制造的银氧化锡氧化铟线材产品
Wire of silver-tin oxide indium-oxide by alloy internal oxidation method for relay’s contact
JB/T 7777.1-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 碘量法测定锡量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定。测定范围：3.0O%～10.00
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method iodometric method for determination of tin content
YS/T 1156-2016 铜铟镓硒靶材
Copper indium gallium selenide target
JB/T 7777.1-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法.第1部分:碘量法测定锡量
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡质量分数的测定。测定范围:3.00%-10.00
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material.Part 1:Determination of tin content
JB/T 7777.2-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法.第2部分:EDTA容量法测定铟量
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟质量分数的测定。测定范围:1.00%-5.00
Test method for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact materials.Part 2:Determination of indium
DB34/T 1760-2012 氧化铟锡透明导电膜玻璃
本标准规定了氧化铟锡透明导电膜玻璃的术语和定义、产品型号、技术要求、抽样、试验方法、检验规则、标识、包装、运输、贮存。 本标准适用于显示器件用氧化铟锡（以下简称ITO）透明导电膜玻璃
Indium tin oxide transparent conductive film glass
JB/T 7777.5-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟量的测定。测定范围见表1
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method flame atomic absorption spectrometry Determination of nickel, zinc and indium content
YS/T 826-2012 五氧化二铌靶材
本标准规定了五氧化二铌靶材的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同（或订货单）内容。 本标准适用于以五氧化二铌粉末为原料，采用真空热压工艺制成的五氧化二铌靶材
Niobium pentoxide target material
JB/T 7777.4-1995 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 PAN分光光度法测定锌量
本标准规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锌量的测定方法。 本标准适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锌量的测定。测定范围：0.05～1.00
Silver tin oxide indium oxide electrical contact material chemical analysis method PAN spectrophotometric determination of zinc content
JB/T 7777.5-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法.第5部分:火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟质量分数的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟质量分数的测定。测定范围见表1
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material.Part 5:Determination of nickel,zinc and indium contents
编辑：北检院编辑部
