GB/T 14264-2009 半导体材料术语
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料
Semiconductor materials-Terms and definitions
GB/T 14264-1993 半导体材料术语
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料
Semiconductor materials-Terms and definitions
GB/T 31469-2015 半导体材料切削液
本标准规定了半导体材料切削液的各项技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、储存及运输等要求。 本标准适用于半导体材料线切割加工采用的切削液
Semiconductor materials cutting fluid
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片和外延片产品牌号的表示方法。 本标准适用于编制半导体材料的牌号。在编写国家标准和行业标准时，应采用本标准所规定的牌号表示方法。产品出厂时，应使用本标准规定的牌号标志
Designations of semiconductor materials
STAS 6360-1974 半导体材料和设备．术语
SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES Terminology
MSZ 771/5-1979 半导体材料的力学性能
SJ/T 11775-2021 半导体材料多线切割机
Multi-wire saw used for semiconductor materials
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
Designations of semiconductor materials
SJ/Z 3206.13-1989 半导体材料发射光谱分析方法通则
本标准适用于锗、硅、砷化镓、磷化铟和锑化铟等半导体材料发射光谱分析方法的一般通则，其内容包括基本原理、仪器、标准溶液配制、样品处理方法、摄谱条件的选择、以及有关的一般规定
General rules for emision spectrum analysis for semiconductor materials
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定
Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
GOST 22622-1977 半导体材料.基本电气物理参数.术语和定义
Semiconductor materials. Terms and definitions
T/CNIA 0143-2022 半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿
本文件规定了半导体材料痕量杂质（ng/kg～μg/kg级别）分析用超纯树脂器皿（以下简称器皿）的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容
Ultrapure Resin Vessels for Trace Impurity Analysis of Semiconductor Materials
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
本标准规定了半导体材料中杂质含量的红外吸收分析方法的术语、基本原理、仪器设备、样品制备、测量条件、测量步骤和测量结果的计算。 本标准适用于在红外光谱区为透明的并在该区域产生杂质吸收带的任何半导体单晶材料红外分析方法
General rule of infrared absorption spectral analysis for the impurity concentration in semiconductor materials
GB/T 36646-2018 制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备
Equipment for preparation of nitride semiconductor materials by hydride vapor phase epitaxy
GB/T 14264-2009 半导体材料术语
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料
Semiconductor materials-Terms and definitions
GB/T 14264-1993 半导体材料术语
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料
Semiconductor materials-Terms and definitions
GB/T 31469-2015 半导体材料切削液
本标准规定了半导体材料切削液的各项技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、储存及运输等要求。 本标准适用于半导体材料线切割加工采用的切削液
Semiconductor materials cutting fluid
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片和外延片产品牌号的表示方法。 本标准适用于编制半导体材料的牌号。在编写国家标准和行业标准时，应采用本标准所规定的牌号表示方法。产品出厂时，应使用本标准规定的牌号标志
Designations of semiconductor materials
STAS 6360-1974 半导体材料和设备．术语
SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES Terminology
MSZ 771/5-1979 半导体材料的力学性能
SJ/T 11775-2021 半导体材料多线切割机
Multi-wire saw used for semiconductor materials
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
Designations of semiconductor materials
SJ/Z 3206.13-1989 半导体材料发射光谱分析方法通则
本标准适用于锗、硅、砷化镓、磷化铟和锑化铟等半导体材料发射光谱分析方法的一般通则，其内容包括基本原理、仪器、标准溶液配制、样品处理方法、摄谱条件的选择、以及有关的一般规定
General rules for emision spectrum analysis for semiconductor materials
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定
Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
GOST 22622-1977 半导体材料.基本电气物理参数.术语和定义
Semiconductor materials. Terms and definitions
T/CNIA 0143-2022 半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿
本文件规定了半导体材料痕量杂质（ng/kg～μg/kg级别）分析用超纯树脂器皿（以下简称器皿）的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容
Ultrapure Resin Vessels for Trace Impurity Analysis of Semiconductor Materials
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
本标准规定了半导体材料中杂质含量的红外吸收分析方法的术语、基本原理、仪器设备、样品制备、测量条件、测量步骤和测量结果的计算。 本标准适用于在红外光谱区为透明的并在该区域产生杂质吸收带的任何半导体单晶材料红外分析方法
General rule of infrared absorption spectral analysis for the impurity concentration in semiconductor materials
GB/T 36646-2018 制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备
Equipment for preparation of nitride semiconductor materials by hydride vapor phase epitaxy
编辑：北检院编辑部
