发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22
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本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试
Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits
本规范规定了军用CMOS电路用抗辐射硅单晶抛光片的要求,质量保证规定和交货准备等。 本规范适用于军用CMOS电路用直径为50.8 mm、76.2 mm和100 mm的抗辐射硅单晶抛光片
Specification for radiation hardened monocrystal silicon wafers for millitary CMOS integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路54/74HC系列的品种(以下简称器件)的逻辑功能、外引线排列和主要电参数。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。 生产(研制)或选用器件时,其系列和品种应符合本标准的规定。 若特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑
Series and products for CMOS semiconductor integrated circuits--Products of series 54/74HC
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路54/74HCT系列的品种(以下简称器件)的逻辑功能,外引线排列和主要电参数。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定
Series and products for CMOS semiconductor integrated circuits--Products of series 54/74HCT
本标准规定了半导体集成CMOs电路4000系列品种(以下简称器件)的逻辑功能、引出端排列和主要电参数。器件的鉴定和质量评定应符合器件详细规范的规定
Series and products for semiconductor CMOS integrated circuits--Products of families 4000
Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4085,JC4086,JC4070,JC4077 CMOS gates
本标准规定了半导体集成电路CMOS门阵列品种(以下简称器件),主要电特性和宏单元的电路原理图/逻辑图、逻辑符号、品种代号。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型
Series and products for semicoductor integrated circuits. Products of series for CMOS gate array
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。 本文件适用于基于体硅/SOICMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
MICROCIRCUIT, CMOS, COMPARATOR, QUAD, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, CMOS, OPERATIONAL AMPLIFIER, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, DIGITAL, CMOS HEX VOLTAGE LEVEL SHIFTER FOR TTL TO CMOS OR CMOS TO CMOS OPERATION, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, LINEAR, CMOS, MICROPROCESSOR SUPERVISORY CIRCUIT, MONOLITHIC SILICON
本规范规定了半导体集成电路CMOS型门阵列器件的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor integrated circuits Specification for COMS gate array devices
Microcircuit, Digital, CMOS (Logic)
Microcircuit, Synchronizer, Command Output (SCO), Class B, Monolithic, CMOS, Integrated Circuit
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试
Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits
本规范规定了军用CMOS电路用抗辐射硅单晶抛光片的要求,质量保证规定和交货准备等。 本规范适用于军用CMOS电路用直径为50.8 mm、76.2 mm和100 mm的抗辐射硅单晶抛光片
Specification for radiation hardened monocrystal silicon wafers for millitary CMOS integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路54/74HC系列的品种(以下简称器件)的逻辑功能、外引线排列和主要电参数。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。 生产(研制)或选用器件时,其系列和品种应符合本标准的规定。 若特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑
Series and products for CMOS semiconductor integrated circuits--Products of series 54/74HC
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路54/74HCT系列的品种(以下简称器件)的逻辑功能,外引线排列和主要电参数。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定
Series and products for CMOS semiconductor integrated circuits--Products of series 54/74HCT
本标准规定了半导体集成CMOs电路4000系列品种(以下简称器件)的逻辑功能、引出端排列和主要电参数。器件的鉴定和质量评定应符合器件详细规范的规定
Series and products for semiconductor CMOS integrated circuits--Products of families 4000
Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4085,JC4086,JC4070,JC4077 CMOS gates
本标准规定了半导体集成电路CMOS门阵列品种(以下简称器件),主要电特性和宏单元的电路原理图/逻辑图、逻辑符号、品种代号。器件的质量评定应符合器件有关详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型
Series and products for semicoductor integrated circuits. Products of series for CMOS gate array
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。 本文件适用于基于体硅/SOICMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
MICROCIRCUIT, CMOS, COMPARATOR, QUAD, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, CMOS, OPERATIONAL AMPLIFIER, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, DIGITAL, CMOS HEX VOLTAGE LEVEL SHIFTER FOR TTL TO CMOS OR CMOS TO CMOS OPERATION, MONOLITHIC SILICON
MICROCIRCUIT, LINEAR, CMOS, MICROPROCESSOR SUPERVISORY CIRCUIT, MONOLITHIC SILICON
本规范规定了半导体集成电路CMOS型门阵列器件的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购
Semiconductor integrated circuits Specification for COMS gate array devices
Microcircuit, Digital, CMOS (Logic)
Microcircuit, Synchronizer, Command Output (SCO), Class B, Monolithic, CMOS, Integrated Circuit