GJB 2600A-2009 声表面波器件通用规范
本规范规定了声表面波(SAW)器件(带或不带源阻抗匹配元件)的通用要求。 本规范包括三个质量等级: S级(空间用高可靠器件)、B级(军用高可靠性器件)、C级(普通军用器件)。 本规范适用于电子设备中应用的带通滤波器、谐振器、延迟线、滤波器组及色散延迟线(色散滤波器)等声表面波器件(以下简称
General specification for surface acoustic wave devices
T/ZZB 0497-2018 声表面波器件用单晶晶片
本标准规定了单晶晶片的术语和定义、基本要求、产品要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存、质量承诺。 本标准适用于人造石英（QZ）、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)器件的基片材料。
Single crystal wafers for surface acoustic wave device applications
GJB 2600-1996 声表面波器件通用规范
General specifications for surface acoustic wave devices
NF C93-666-100*NF EN 166100:2014 分规范：声表面波器件（SAW）过滤器
Sectional specification : Surface acoustic ware (SAW) filters
T/CECA 69-2022 声表面波器件用单晶薄膜基片
本文件规定了声表面波器件用单晶薄膜基片的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标签/标识、储存和运输。 本文件适用于声表面波器件用单晶薄膜基片
Single-crystal thin film substrates for SAW devices
GJB 3514A-2021 声表面波器件电性能测试方法
Surface acoustic wave device electrical performance testing method
GJB 3514-1999 声表面波器件电性能测试方法
Surface acoustic wave device electrical performance testing method
GJB 960-1990 声表面波器件用人造石英晶体基片
Artificial quartz crystal substrate for surface acoustic wave devices
GJB 960A-2020 长延时声表面波器件用人造石英晶体基片规范
Specification for artificial quartz crystal substrates for long-delay surface acoustic wave devices
SJ 20605-1996 声表面波（SAW）器件用钽酸锂单晶规范
Specification for lithium tantalate single crystal used in SAW devices
SJ/T 11743.4.4-2019 频率控制与选择用压电和介电器件 术语 第4-4部分：材料 声表面波器件用材料
Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection – Glossary – Part 4-4: Materials – Materials for surface acoustic wave (SAW) devices（IEC/TS 61994-4-4：2010，IDT）
GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
本标准规定了人造石英、铌酸锂〈LN〉、钽酸锂(LT〉、四硼酸锂〔LBO)和硅酸稼镧〔LGS〉等单晶晶片等a 本标准适用于人造石英、铌酸锂〈LN)、钽酸锂(L丁〉、四硼酸锂〔LB0)和硅酸铼镧〔LGS〉等单晶晶片。 这些单晶晶片用作声表面波〔SAW)滤波器和谐振器等基片材料
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications.Specifications and measuring methods
GB/T 43023-2023 射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南
Nonlinear Measurement Guidelines for RF Surface Acoustic Wave (SAW) Devices and Bulk Acoustic Wave (BAW) Devices
NF C93-616:2013 表面声波 (SAW) 器件用单晶晶片 - 规范和测量方法
Single Crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
JIS C 6760:2014 表面声波 (SAW) 器件用单晶晶片. 规范和测量方法
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications .Specifications and measuring methods
GJB 2600A-2009 声表面波器件通用规范
本规范规定了声表面波(SAW)器件(带或不带源阻抗匹配元件)的通用要求。 本规范包括三个质量等级: S级(空间用高可靠器件)、B级(军用高可靠性器件)、C级(普通军用器件)。 本规范适用于电子设备中应用的带通滤波器、谐振器、延迟线、滤波器组及色散延迟线(色散滤波器)等声表面波器件(以下简称
General specification for surface acoustic wave devices
T/ZZB 0497-2018 声表面波器件用单晶晶片
本标准规定了单晶晶片的术语和定义、基本要求、产品要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存、质量承诺。 本标准适用于人造石英（QZ）、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)器件的基片材料。
Single crystal wafers for surface acoustic wave device applications
GJB 2600-1996 声表面波器件通用规范
General specifications for surface acoustic wave devices
NF C93-666-100*NF EN 166100:2014 分规范：声表面波器件（SAW）过滤器
Sectional specification : Surface acoustic ware (SAW) filters
T/CECA 69-2022 声表面波器件用单晶薄膜基片
本文件规定了声表面波器件用单晶薄膜基片的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标签/标识、储存和运输。 本文件适用于声表面波器件用单晶薄膜基片
Single-crystal thin film substrates for SAW devices
GJB 3514A-2021 声表面波器件电性能测试方法
Surface acoustic wave device electrical performance testing method
GJB 3514-1999 声表面波器件电性能测试方法
Surface acoustic wave device electrical performance testing method
GJB 960-1990 声表面波器件用人造石英晶体基片
Artificial quartz crystal substrate for surface acoustic wave devices
GJB 960A-2020 长延时声表面波器件用人造石英晶体基片规范
Specification for artificial quartz crystal substrates for long-delay surface acoustic wave devices
SJ 20605-1996 声表面波（SAW）器件用钽酸锂单晶规范
Specification for lithium tantalate single crystal used in SAW devices
SJ/T 11743.4.4-2019 频率控制与选择用压电和介电器件 术语 第4-4部分：材料 声表面波器件用材料
Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection – Glossary – Part 4-4: Materials – Materials for surface acoustic wave (SAW) devices（IEC/TS 61994-4-4：2010，IDT）
GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
本标准规定了人造石英、铌酸锂〈LN〉、钽酸锂(LT〉、四硼酸锂〔LBO)和硅酸稼镧〔LGS〉等单晶晶片等a 本标准适用于人造石英、铌酸锂〈LN)、钽酸锂(L丁〉、四硼酸锂〔LB0)和硅酸铼镧〔LGS〉等单晶晶片。 这些单晶晶片用作声表面波〔SAW)滤波器和谐振器等基片材料
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications.Specifications and measuring methods
GB/T 43023-2023 射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南
Nonlinear Measurement Guidelines for RF Surface Acoustic Wave (SAW) Devices and Bulk Acoustic Wave (BAW) Devices
NF C93-616:2013 表面声波 (SAW) 器件用单晶晶片 - 规范和测量方法
Single Crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
JIS C 6760:2014 表面声波 (SAW) 器件用单晶晶片. 规范和测量方法
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications .Specifications and measuring methods
编辑：北检院编辑部
