DB35/T 1193-2011 半导体发光二极管芯片
本标准规定了半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行
Semiconductor LED chip
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
本标准规定了半导体发光二极管芯片的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行
Measurement methods for chips of light emitting diodes
SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
本规范规定了功率半导体发光二极管芯片产品的技术要求、检验规则和检验方法,芯片的具体规格和性能指标在相关的详细规范中规定
Technical specification for power light-emitting diode chips
GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范
本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。 本标准适用于功率半导体发光二极管芯片
Technical specification for power light-emitting diode chips
GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范
本标准规定了中功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。 本标准适用于中功率半导体发光二极管芯片
Technical specification for middle power light-emitting diode chips
DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法
本标准规定了发光二极管芯片（以下简称芯片）的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试
Light-emitting diode chip point test method
SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用荧光粉
本标准规定了半导体发光二级管用荧光粉相关的名词术语及其定义,还规定了半导体发光二极管用铝酸盐和硅酸盐荧光粉的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存要求
Phosphors for light emitting diodes
SJ/T 11818.2-2022 半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范
Semiconductor UV Emitting Diodes Part 2: Chip Specifications
CNS 13808-1997 发光二极管磊芯片
本标准规定发光二极管磊芯片的共同要求事项及个别规格格式
Epitaxial Wafers for Light Emitting Diodes
SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
SJ/T 11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
本标准规定了半导体发光二极管产品的标准系列和品种,以及选择和应用的导则。 本标准适用于可见光和白光半导体发光二极管,其应用领域有指示显示、图形和文字显示、装饰显示、照明显示
Series program for semiconductor light emitting diodes
GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
GJB 2146A-2011 半导体发光二极管器件通用规范
General specification for semiconductor light-emitting diode devices
BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法.总则
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes General rules
DB35/T 1193-2011 半导体发光二极管芯片
本标准规定了半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行
Semiconductor LED chip
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
本标准规定了半导体发光二极管芯片的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行
Measurement methods for chips of light emitting diodes
SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
本规范规定了功率半导体发光二极管芯片产品的技术要求、检验规则和检验方法,芯片的具体规格和性能指标在相关的详细规范中规定
Technical specification for power light-emitting diode chips
GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范
本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。 本标准适用于功率半导体发光二极管芯片
Technical specification for power light-emitting diode chips
GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范
本标准规定了中功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。 本标准适用于中功率半导体发光二极管芯片
Technical specification for middle power light-emitting diode chips
DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法
本标准规定了发光二极管芯片（以下简称芯片）的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试
Light-emitting diode chip point test method
SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用荧光粉
本标准规定了半导体发光二级管用荧光粉相关的名词术语及其定义,还规定了半导体发光二极管用铝酸盐和硅酸盐荧光粉的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存要求
Phosphors for light emitting diodes
SJ/T 11818.2-2022 半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范
Semiconductor UV Emitting Diodes Part 2: Chip Specifications
CNS 13808-1997 发光二极管磊芯片
本标准规定发光二极管磊芯片的共同要求事项及个别规格格式
Epitaxial Wafers for Light Emitting Diodes
SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
SJ/T 11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
本标准规定了半导体发光二极管产品的标准系列和品种,以及选择和应用的导则。 本标准适用于可见光和白光半导体发光二极管,其应用领域有指示显示、图形和文字显示、装饰显示、照明显示
Series program for semiconductor light emitting diodes
GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
GJB 2146A-2011 半导体发光二极管器件通用规范
General specification for semiconductor light-emitting diode devices
BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法.总则
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes General rules
编辑：北检院编辑部
