多层片式瓷介电容器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

T/CECA 64-2021 用贱金属导浆料

本文件规定了多层片式瓷介电容器用贱金属导电浆料的要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输、储存。 本文件适用于多层片式瓷介电容器用贱金属内电极浆料(以下简称“内电极浆料”)和多层片式瓷介电容器用贱金属端电极浆料(以下简称“端电极浆料

Base metal conductive paste for multilayers ceramic chip capacitors

SJ/Z 9190-1995 录像机用2类认定规范

1.1 主题内容 本规范规定了录像机用2类多层片式瓷介电容器详细要求。 1.2 适用范围 本规范适用于录像机用2类多层片式瓷介电容器的认定。该规范与GB 9324-1988一起使用

Specifications for determination of multilayer porcelain capacitors class B used for VCR

SJ/Z 9189-1995 录像机用1类认定规范

1.1 主题内容 本规范规定了录像机用1类多层片式瓷介电容器详细要求。 1.2 适用范围 本规范适用于录像机用1类多层片式瓷介电容器的认定,该规范与GB 9324-1988一起使用

Specifications for determination of multilayer porcelain capacitors class A used for VCR

GJB 192/1-2011 CCK41型有失效率等级的包封详细规范

本规范规定了CCK41型有失效率等级的包封多层片式瓷介电容器(以下简称电容器)的详细要求

Detail specification for established reliability chip multilayer ceramic dielectric unencapsulated capacitors,type CCK41

SJ 50192/1-2002 CCK4101型有可靠性指标的包封详细规范

Capacitors,Chip,multilayer,ceramic dielectric,unencapsulated,estabilished reliability,detail specification for CCK4101type

SJ 50192/2-2002 CCK4102型有可靠性指标的包封详细规范

Capacitors,Chip,multilayer,ceramic dielectric,unencapsulated,estabilished reliability,detail specification for CCK4102type

GB/T 9324-1996 子设备用固定 第10部分: 分规范

本标准适用于电子设备用额定电压一般不超过200V的1类和2类非密封多层片式瓷介电容器。在必要时,可以在详细规范中规定较高电压。这些电容器具有金属化焊接区或带状引出端,以便直接安装在混合电路的基片或印制板上

Fixed capacitors for use in electronic equipment. Part 10: Sectional specification. Fixed multilayer ceramic chip capacitors

GJB 192A-1998 有可靠性指标的包封总规范

General specification for unencapsulated multilayer chip ceramic capacitors with reliability indicators

GJB 192/2-2011 CTK41型有失效率等级的包封详细规范

本规范规定了CTK41型有失效率等级的包封多层片式瓷介电容器(以下简称电容器)的详细要求

Detail specification for establishied reliability chip multilayer ceramic dielectric unencapsulated capacitors,type CTK41

KS C 6384-10-2001 子设备用固定.第10部分:分规范:

이 규격은 정격 전압 200V 이하인 전자 기기에 사용되는 종류 1과 종류 2의 고정 비외

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 10:Sectional specification:Fixed multilayer ceramic chip capacitors

KS C 6384-101-2001 子设备用固定.第10部分:空白详细规范:.评定水平E

개별 규격 지침 개별 규격 지침은 품종 규격을 보충하는 문서이며, 개별 규격의 모양, 배

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 10:Blank detail specification:Fixed multilayerceramic chip capacitors. Assessment level E

GB/T 9325-1996 子设备用固定 第10部分: 空白详细规范 评定水平E

空白详细规范 空白详细规范是分规范的一种补充性文件,并包括详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,不认为是符合电子元件质量评定体系要求的标准。 制定详细规范时,应考虑分规范1.4的内容。 首页括号内数字标注的位置上应填写下列相应内容: 详细规范

Fixed capacitors for use in electronic equipment. Part 10: Blank detail specification. Fixed multilayer ceramic chip capacitors. Assessment leve E

DB44/T 1348-2014 微小型技术规范

本标准规定了微小型片式多层瓷介电容器的术语和定义、工作环境条件、型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于微小型片式多层瓷介电容器(以下简称电容器

Technical Specifications for Miniature Chip Multilayer Ceramic Capacitors

GJB 192B-2011 有失效率等级的包封固定通用规范

本规范规定了包封多层片式瓷介固定电容器(以下简称电容器)的一般要求、质量保证规定和检验方法

General specification for capacitors fixed multiple layer ceramic dielectric non-encapsulated capacitors with established reliability

GJB 192/10-2012 CTK411812型有失效率等级的包封固定详细规范

Detailed specification for type CTK411812 unencapsulated multilayer chip ceramic fixed capacitors with failure rate rating

T/CECA 64-2021 用贱金属导浆料

本文件规定了多层片式瓷介电容器用贱金属导电浆料的要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输、储存。 本文件适用于多层片式瓷介电容器用贱金属内电极浆料(以下简称“内电极浆料”)和多层片式瓷介电容器用贱金属端电极浆料(以下简称“端电极浆料

Base metal conductive paste for multilayers ceramic chip capacitors

SJ/Z 9190-1995 录像机用2类认定规范

1.1 主题内容 本规范规定了录像机用2类多层片式瓷介电容器详细要求。 1.2 适用范围 本规范适用于录像机用2类多层片式瓷介电容器的认定。该规范与GB 9324-1988一起使用

Specifications for determination of multilayer porcelain capacitors class B used for VCR

SJ/Z 9189-1995 录像机用1类认定规范

1.1 主题内容 本规范规定了录像机用1类多层片式瓷介电容器详细要求。 1.2 适用范围 本规范适用于录像机用1类多层片式瓷介电容器的认定,该规范与GB 9324-1988一起使用

Specifications for determination of multilayer porcelain capacitors class A used for VCR

GJB 192/1-2011 CCK41型有失效率等级的包封详细规范

本规范规定了CCK41型有失效率等级的包封多层片式瓷介电容器(以下简称电容器)的详细要求

Detail specification for established reliability chip multilayer ceramic dielectric unencapsulated capacitors,type CCK41

SJ 50192/1-2002 CCK4101型有可靠性指标的包封详细规范

Capacitors,Chip,multilayer,ceramic dielectric,unencapsulated,estabilished reliability,detail specification for CCK4101type

SJ 50192/2-2002 CCK4102型有可靠性指标的包封详细规范

Capacitors,Chip,multilayer,ceramic dielectric,unencapsulated,estabilished reliability,detail specification for CCK4102type

GB/T 9324-1996 子设备用固定 第10部分: 分规范

本标准适用于电子设备用额定电压一般不超过200V的1类和2类非密封多层片式瓷介电容器。在必要时,可以在详细规范中规定较高电压。这些电容器具有金属化焊接区或带状引出端,以便直接安装在混合电路的基片或印制板上

Fixed capacitors for use in electronic equipment. Part 10: Sectional specification. Fixed multilayer ceramic chip capacitors

GJB 192A-1998 有可靠性指标的包封总规范

General specification for unencapsulated multilayer chip ceramic capacitors with reliability indicators

GJB 192/2-2011 CTK41型有失效率等级的包封详细规范

本规范规定了CTK41型有失效率等级的包封多层片式瓷介电容器(以下简称电容器)的详细要求

Detail specification for establishied reliability chip multilayer ceramic dielectric unencapsulated capacitors,type CTK41

KS C 6384-10-2001 子设备用固定.第10部分:分规范:

이 규격은 정격 전압 200V 이하인 전자 기기에 사용되는 종류 1과 종류 2의 고정 비외

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 10:Sectional specification:Fixed multilayer ceramic chip capacitors

KS C 6384-101-2001 子设备用固定.第10部分:空白详细规范:.评定水平E

개별 규격 지침 개별 규격 지침은 품종 규격을 보충하는 문서이며, 개별 규격의 모양, 배

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 10:Blank detail specification:Fixed multilayerceramic chip capacitors. Assessment level E

GB/T 9325-1996 子设备用固定 第10部分: 空白详细规范 评定水平E

空白详细规范 空白详细规范是分规范的一种补充性文件,并包括详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,不认为是符合电子元件质量评定体系要求的标准。 制定详细规范时,应考虑分规范1.4的内容。 首页括号内数字标注的位置上应填写下列相应内容: 详细规范

Fixed capacitors for use in electronic equipment. Part 10: Blank detail specification. Fixed multilayer ceramic chip capacitors. Assessment leve E

DB44/T 1348-2014 微小型技术规范

本标准规定了微小型片式多层瓷介电容器的术语和定义、工作环境条件、型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于微小型片式多层瓷介电容器(以下简称电容器

Technical Specifications for Miniature Chip Multilayer Ceramic Capacitors

GJB 192B-2011 有失效率等级的包封固定通用规范

本规范规定了包封多层片式瓷介固定电容器(以下简称电容器)的一般要求、质量保证规定和检验方法

General specification for capacitors fixed multiple layer ceramic dielectric non-encapsulated capacitors with established reliability

GJB 192/10-2012 CTK411812型有失效率等级的包封固定详细规范

Detailed specification for type CTK411812 unencapsulated multilayer chip ceramic fixed capacitors with failure rate rating

编辑:北检院编辑部

我们的优势

选择北检院的六大理由

📚

CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

🏢

15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

旗下实验室资质荣誉

CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。