T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法
本标准规定了二维材料厚度测量 原子力显微镜法的原理、仪器设备、样品前处理、测试方法、厚度计算方法、测量结果的不确定度评定及测试报告。 本标准适用于可以与基底形成台阶的二维材料厚度测量
Thickness measurements of two-dimensional materials Atomic force microscopy (AFM)
SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力显微镜（技术背景）
Apr.08: Atomic Force Microscopy (background to technique)
ISO 23729:2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
1 Scope This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM
Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
BS ISO 23729. Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
本标准规定了使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度的方法。本标准适用于测量溅射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra小于100 nm的薄膜。其他非溅射薄膜的表面粗糙度的测量可以参考此方法
Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films
GB/T 40066-2021 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法
本标准规定了原子力显微镜法(AFM)测量氧化石墨烯厚度的样品制备、测量步骤及结果计算等。本标准适用于片径尺寸不小于300nm 的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用
Nanotechnologies—Thickness measurement of graphene oxide—Atomic Force Microscopy (AFM)
ASTM E2859-11(2017 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
1.1 The purpose of this document is to provide guidance on the quantitative application of atomic force microscopy (AFM) to determine the size
Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
ASTM E285-08(2015 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
4.1 This test method is intended to screen the most
Standard Test Method for Oxyacetylene Ablation Testing of Thermal Insulation Materials
T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法
本标准规定了测定石墨烯薄膜的杨氏模量的原子力显微镜法。 本标准适用于固定于衬底上杨氏模量值小于100 GPa的石墨烯薄膜杨氏模量的测定试验，并且包含衬底内其样品总高度不大于5 mm，其他石墨烯膜材料的测定可参照执行
Determination of Young's modulus of graphene film
GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
本标准规定了用原子力显微镜测试所化久单晶衬底表面粗糙度的方法。 本标准适用于化学气相沉积及其他方法生长制备的表面粗糙度小于10 nm 的氮化匀单唱衬底。 其他具有相似表面结构的半导体单品衬底应用本标准提供的方法进行测试前,需经测试双方协商达成一致
Atomic Force Microscopy Examination of Surface Roughness of Gallium Nitride Single Crystal Substrate
ASTM E2859-11(2023 使用原子力显微镜测量纳米粒子尺寸的标准指南
1.1 The purpose of this document is to provide guidance on the quantitative application of atomic force microscopy (AFM) to determine the size
Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
EJ/T 20176-2018 金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法
Atomic Force Microscope Measuring Method of Edge Sharpness of Diamond Tool
ASTM E2382-04(2020 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
1.1 All microscopes are subject to artifacts. The purpose of this document is to provide a description of commonly observed artifacts in scanning
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
SPB-M2-1-2007 通过原子力显微镜研究沥青质的界面和流变学特性
Interfacial and rheological properties of asphaltenes studied by atomic force microscopy
Interfacial and rheological properties of asphaltenes studied by atomic force microscopy.
T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法
本标准规定了二维材料厚度测量 原子力显微镜法的原理、仪器设备、样品前处理、测试方法、厚度计算方法、测量结果的不确定度评定及测试报告。 本标准适用于可以与基底形成台阶的二维材料厚度测量
Thickness measurements of two-dimensional materials Atomic force microscopy (AFM)
SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力显微镜（技术背景）
Apr.08: Atomic Force Microscopy (background to technique)
ISO 23729:2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
1 Scope This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM
Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
BS ISO 23729. Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
本标准规定了使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度的方法。本标准适用于测量溅射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra小于100 nm的薄膜。其他非溅射薄膜的表面粗糙度的测量可以参考此方法
Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films
GB/T 40066-2021 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法
本标准规定了原子力显微镜法(AFM)测量氧化石墨烯厚度的样品制备、测量步骤及结果计算等。本标准适用于片径尺寸不小于300nm 的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用
Nanotechnologies—Thickness measurement of graphene oxide—Atomic Force Microscopy (AFM)
ASTM E2859-11(2017 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
1.1 The purpose of this document is to provide guidance on the quantitative application of atomic force microscopy (AFM) to determine the size
Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
ASTM E285-08(2015 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
4.1 This test method is intended to screen the most
Standard Test Method for Oxyacetylene Ablation Testing of Thermal Insulation Materials
T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法
本标准规定了测定石墨烯薄膜的杨氏模量的原子力显微镜法。 本标准适用于固定于衬底上杨氏模量值小于100 GPa的石墨烯薄膜杨氏模量的测定试验，并且包含衬底内其样品总高度不大于5 mm，其他石墨烯膜材料的测定可参照执行
Determination of Young's modulus of graphene film
GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
本标准规定了用原子力显微镜测试所化久单晶衬底表面粗糙度的方法。 本标准适用于化学气相沉积及其他方法生长制备的表面粗糙度小于10 nm 的氮化匀单唱衬底。 其他具有相似表面结构的半导体单品衬底应用本标准提供的方法进行测试前,需经测试双方协商达成一致
Atomic Force Microscopy Examination of Surface Roughness of Gallium Nitride Single Crystal Substrate
ASTM E2859-11(2023 使用原子力显微镜测量纳米粒子尺寸的标准指南
1.1 The purpose of this document is to provide guidance on the quantitative application of atomic force microscopy (AFM) to determine the size
Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
EJ/T 20176-2018 金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法
Atomic Force Microscope Measuring Method of Edge Sharpness of Diamond Tool
ASTM E2382-04(2020 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
1.1 All microscopes are subject to artifacts. The purpose of this document is to provide a description of commonly observed artifacts in scanning
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
SPB-M2-1-2007 通过原子力显微镜研究沥青质的界面和流变学特性
Interfacial and rheological properties of asphaltenes studied by atomic force microscopy
Interfacial and rheological properties of asphaltenes studied by atomic force microscopy.
编辑：北检院编辑部
