
发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22
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Basic specification: Scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Scanning electron microscope analysis of biological specimens
この規格は,乾燥状態にない試料。揮発性試料,非導電性試料の観察を可能にする特殊な機能及び構造をもたず,試料室の圧力が10<上-2> Pa以下で使用可能な走査電子顕微鏡(以下,SEMという。)を用いて,ファインセラミックスのバルク体材料及び粉体才オ料をSEM観察するための試料調製方法について規定する
Sample preparation method of fine ceramics and fine ceramic powders for scanning electron microscope observation
本标准规定了使用扫描电子显微镜对化学纤维的微观形貌进行观察及对纤维直径进行测定的试验方法。 本标准适用于各类化学纤维及其制品的微观形貌及直径的测定,其中直径的测定仅适用于纤维横截面为圆形或接近圆形的化学纤维,其他材料可参照本标准执行
Man-made fiber.Test method for micro morphology and diameter.Scanning electron microscope method
警告:本标准并未指出所有可能的安全问题。在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和接口措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 范围: 本标准规定了环境扫描电子显微镜检测纳米颗粒与生物样品相互作用的技术和规范。 本标准适用于应用扫描电子显微镜的低真空和环境真空模式,进行纳米颗粒生物效应研究
General guide of environmental scanning electron microscopy for biological effectes on topography induced by nanoparticles
本标准规定了扫描电子显微镜用于分析岩石样品的方法和技术要求。 本标准适用于碎屑岩、碳酸盐岩、火成岩等岩石样品的扫描电子显微镜分析。其他岩石样品的分析亦可参照执行
Analytical method of rock sample by scanning electron microscope
本标准规定了岩石样品扫描电子显微镜分析方法和技术要求。 本标准适用于碎屑岩、碳酸盐岩、岩浆岩、变质岩样品的扫描电子显微镜分析
Analytical method of rock sample by scanning electron microscope
Scanning electron microscopy analysis method of rock samples
本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。 本标准适用于扫描电镜主机性能的试验
Test method of scanning electron microscope
Scanning Electron Microscopy Analysis Method for Rock Samples
This commercial item description covers a binocular vision test set designed to perform the Worth Dot Test method for rapid determination
TEST SET, BINOCULAR VISION
Przedmiotem normy jest pobieranie i przygotowanie próbek odlewów ze stopów miedzi do badań mikroskopowych
Irwestigations o? copper alloys castings Preparation and sampling ot ?es? pieces for microscopis examinations
Verification Regulation of Scanning Electron Microscope
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
この規格は,走査電子顕微鏡を用いて,主として二 次電子による試料表面の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定する
General rules for scanning electron microscopy
Basic specification: Scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Scanning electron microscope analysis of biological specimens
この規格は,乾燥状態にない試料。揮発性試料,非導電性試料の観察を可能にする特殊な機能及び構造をもたず,試料室の圧力が10<上-2> Pa以下で使用可能な走査電子顕微鏡(以下,SEMという。)を用いて,ファインセラミックスのバルク体材料及び粉体才オ料をSEM観察するための試料調製方法について規定する
Sample preparation method of fine ceramics and fine ceramic powders for scanning electron microscope observation
本标准规定了使用扫描电子显微镜对化学纤维的微观形貌进行观察及对纤维直径进行测定的试验方法。 本标准适用于各类化学纤维及其制品的微观形貌及直径的测定,其中直径的测定仅适用于纤维横截面为圆形或接近圆形的化学纤维,其他材料可参照本标准执行
Man-made fiber.Test method for micro morphology and diameter.Scanning electron microscope method
警告:本标准并未指出所有可能的安全问题。在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和接口措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 范围: 本标准规定了环境扫描电子显微镜检测纳米颗粒与生物样品相互作用的技术和规范。 本标准适用于应用扫描电子显微镜的低真空和环境真空模式,进行纳米颗粒生物效应研究
General guide of environmental scanning electron microscopy for biological effectes on topography induced by nanoparticles
本标准规定了扫描电子显微镜用于分析岩石样品的方法和技术要求。 本标准适用于碎屑岩、碳酸盐岩、火成岩等岩石样品的扫描电子显微镜分析。其他岩石样品的分析亦可参照执行
Analytical method of rock sample by scanning electron microscope
本标准规定了岩石样品扫描电子显微镜分析方法和技术要求。 本标准适用于碎屑岩、碳酸盐岩、岩浆岩、变质岩样品的扫描电子显微镜分析
Analytical method of rock sample by scanning electron microscope
Scanning electron microscopy analysis method of rock samples
本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。 本标准适用于扫描电镜主机性能的试验
Test method of scanning electron microscope
Scanning Electron Microscopy Analysis Method for Rock Samples
This commercial item description covers a binocular vision test set designed to perform the Worth Dot Test method for rapid determination
TEST SET, BINOCULAR VISION
Przedmiotem normy jest pobieranie i przygotowanie próbek odlewów ze stopów miedzi do badań mikroskopowych
Irwestigations o? copper alloys castings Preparation and sampling ot ?es? pieces for microscopis examinations
Verification Regulation of Scanning Electron Microscope
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
この規格は,走査電子顕微鏡を用いて,主として二 次電子による試料表面の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定する
General rules for scanning electron microscopy








