混合集成电路A/D、D/A变换器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

DLA SMD-5962-89569 REV D-2011 微,线性,16 位,高速,A/D

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, HIGH SPEED, A/D CONVERTER

SJ 20961-2006 A/DD/A测试方法的基本原理

本标准规定了A/D转换器(以下简称ADC)和D/A转换器(以下简称DAC)主要静态、动态特性和转换特性测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of A/D and D/A converters for integrated circuits

DLA SMD-5962-89563 REV B-2005 A/D16位线性

This drawing documents five product assurance classes as defined in paragraph 1.2.3 and MIL-PRF-38534. A choice of case outlines and lead finishes

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, A/D CONVERTER

DLA SMD-5962-89563 REV C-2011 微,线性,16 位,A/D

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, A/D CONVERTER

DLA SMD-5962-90795 REV C-2009 微,线性,16 位,高速,A/D

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, HIGH SPEED, A/D CONVERTER

DLA SMD-5962-89616 REV D-2013 微,线性,CMOS 8 位 A/D,单片硅

MICROCIRCUIT, LINEAR, CMOS 8-BIT A/D CONVERTER, MONOLITHIC SILICON

IEEE 746-1984 PCM 视视频A/DD/A的性能测量

This standard describes methods for measuring the performance of uniformly coded analog-to-digital (A/D) converters and digital-to analog (D

Performance Measurements of A/D and D/A Converters for PCM Television Video Circuits

IEEE Std 746-1984 PCM 视视频 A/DD/A性能测量的 IEEE 标准

This standard describes methods for measuring ther performance of uniformly coded alnalog-to-digital (A/D) coverters and digital-to-analog (D

IEEE Standard for Performance Measurements of A/D and D/A Converters for PCM Television Video Circuits

KS C IEC 60748-4-1:2003 半导体件..空白详细规范.D/A规范书

서 문 이 규격은 1993년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-4-1 Semi

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 4:Interface integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

KS C IEC 60748-4-2:2003 半导体件..空白详细规范.A/D规范书

이 규격은 1993년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-4-2 Semiconduc

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 4:Interface integrated circuits-Section 2:Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

SJ 50597/20-1994 半导体.JDAC08、JDAC08A型乘法并行8位D/A详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JDAC08,JDAC08A multiplying parellel 8-bit D/A converter

DLA SMD-5962-88532 REV C-2003 硅单片9位A/D线性微

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUITS, LINEAR, 9 BIT A/D CONVERTER, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-88563-1988 硅单片16位D/A线性微

This drawinglldescribes device' requirements for class B microcircuits i n accardance d t h 1.ZTTf MIL-STB-883, Provisions for the use of MIL-STD-883

MICROCIRCUITS, LINEAR, 16 BIT D/A CONVERTER MONOLITHIC SILICON

SJ 20646-1997 DC/DC测试方法

本标准规定了混合集成电路DC/DC(直流/直流)变换器的主要性能参数的测试方法。 本标准适用于各类军用电子设备中混合集成电路DC/DC变换器的参数测试

The measuring methods of DC/DC converters for hybrid integrated circuits

SJ 50597/21-1994 半导体.JADC1001型通用8位二进制输出A/D详细规范

Semiconductor integrated circuits.detail specification of type JADC1001 general 8-bit binary output A/D converter for

DLA SMD-5962-89569 REV D-2011 微,线性,16 位,高速,A/D

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, HIGH SPEED, A/D CONVERTER

SJ 20961-2006 A/DD/A测试方法的基本原理

本标准规定了A/D转换器(以下简称ADC)和D/A转换器(以下简称DAC)主要静态、动态特性和转换特性测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of A/D and D/A converters for integrated circuits

DLA SMD-5962-89563 REV B-2005 A/D16位线性

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MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, A/D CONVERTER

DLA SMD-5962-89563 REV C-2011 微,线性,16 位,A/D

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, A/D CONVERTER

DLA SMD-5962-90795 REV C-2009 微,线性,16 位,高速,A/D

MICROCIRCUIT, HYBRID, LINEAR, 16-BIT, HIGH SPEED, A/D CONVERTER

DLA SMD-5962-89616 REV D-2013 微,线性,CMOS 8 位 A/D,单片硅

MICROCIRCUIT, LINEAR, CMOS 8-BIT A/D CONVERTER, MONOLITHIC SILICON

IEEE 746-1984 PCM 视视频A/DD/A的性能测量

This standard describes methods for measuring the performance of uniformly coded analog-to-digital (A/D) converters and digital-to analog (D

Performance Measurements of A/D and D/A Converters for PCM Television Video Circuits

IEEE Std 746-1984 PCM 视视频 A/DD/A性能测量的 IEEE 标准

This standard describes methods for measuring ther performance of uniformly coded alnalog-to-digital (A/D) coverters and digital-to-analog (D

IEEE Standard for Performance Measurements of A/D and D/A Converters for PCM Television Video Circuits

KS C IEC 60748-4-1:2003 半导体件..空白详细规范.D/A规范书

서 문 이 규격은 1993년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-4-1 Semi

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 4:Interface integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

KS C IEC 60748-4-2:2003 半导体件..空白详细规范.A/D规范书

이 규격은 1993년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-4-2 Semiconduc

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 4:Interface integrated circuits-Section 2:Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

SJ 50597/20-1994 半导体.JDAC08、JDAC08A型乘法并行8位D/A详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JDAC08,JDAC08A multiplying parellel 8-bit D/A converter

DLA SMD-5962-88532 REV C-2003 硅单片9位A/D线性微

This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix

MICROCIRCUITS, LINEAR, 9 BIT A/D CONVERTER, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-88563-1988 硅单片16位D/A线性微

This drawinglldescribes device' requirements for class B microcircuits i n accardance d t h 1.ZTTf MIL-STB-883, Provisions for the use of MIL-STD-883

MICROCIRCUITS, LINEAR, 16 BIT D/A CONVERTER MONOLITHIC SILICON

SJ 20646-1997 DC/DC测试方法

本标准规定了混合集成电路DC/DC(直流/直流)变换器的主要性能参数的测试方法。 本标准适用于各类军用电子设备中混合集成电路DC/DC变换器的参数测试

The measuring methods of DC/DC converters for hybrid integrated circuits

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Semiconductor integrated circuits.detail specification of type JADC1001 general 8-bit binary output A/D converter for

编辑:北检院编辑部

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

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经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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检测流程

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01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

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