发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22
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本标准规定了多壁碳纳米管的术语和定义、分类、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志及质量证明书、贮存和运输、安全注意事项等。 本标准适用于多壁碳纳米管粉体产品
Multi-walled carbon nanotubes
本标准规定了用于评价多壁碳纳米管宏观样品基本特性和杂质组成的测试技术,并且侧重于在工业领域可以实现的上述基本特性的测试技术。 本标准适用于多壁碳纳米管材料研究、开发和商业化的材料表征。 本标准技术内容不包含样品具体的制备和测试方法
Nanotechnologies.Characterization of multiwall carbon nanotube(MWCNT)
Materials from multiwall carbon nanotubes. Specifications
本标准规定了测量多壁碳纳米管纯度的方法、仪器、分析步骤及结果表示方法。 本标准提供了使用烧炭、热重分析、透射电子显微镜及图像分析相结合的技术测量多壁碳纳米管样品纯度的方法。该纯度以样品中多壁碳纳米管的含量表示
Test method for purity of multi-walled carbon nanotubes
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
This Technical Report identifies the basic properties of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs) and the contentof impurities, which characterize bulk
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
Nanotechnologies. Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
Nanotechnologies - Caractérisation des échantillons de nanotubes de carbone multifeuillets (NWCNTs)
本文件描述了多壁碳纳米管(MWCNTs)介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术(SEM)、透射电子显微术(TEM)、黏度法和光散射法等。 本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度(SBPL)表征的附加条款,给出了用于评价SBPL的测量方法,其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。 本文
Nanotechnologies—Characterization of multiwall carbon nanotubes—Mesoscopic shape factors
This Technical Specification describes methods for the characterization of mesoscopic shape factors of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs). Techniques
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotubes - Mesoscopic shape factors
Nanotechnologies — Characterization of multiwall carbon nanotubes — Mesoscopic shape factors
Nanotechnologies. Characterization of multiwall carbon nanotubes. Mesoscopic shape factors
Nanotechnologies — Multiwall carbon nanotubes — Determination of carbon impurity content by thermogravimetric analysis
Nanotechnologies. Multiwall carbon nanotubes. Determination of carbon impurity content by thermogravimetric analysis
本标准规定了多壁碳纳米管的术语和定义、分类、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志及质量证明书、贮存和运输、安全注意事项等。 本标准适用于多壁碳纳米管粉体产品
Multi-walled carbon nanotubes
本标准规定了用于评价多壁碳纳米管宏观样品基本特性和杂质组成的测试技术,并且侧重于在工业领域可以实现的上述基本特性的测试技术。 本标准适用于多壁碳纳米管材料研究、开发和商业化的材料表征。 本标准技术内容不包含样品具体的制备和测试方法
Nanotechnologies.Characterization of multiwall carbon nanotube(MWCNT)
Materials from multiwall carbon nanotubes. Specifications
本标准规定了测量多壁碳纳米管纯度的方法、仪器、分析步骤及结果表示方法。 本标准提供了使用烧炭、热重分析、透射电子显微镜及图像分析相结合的技术测量多壁碳纳米管样品纯度的方法。该纯度以样品中多壁碳纳米管的含量表示
Test method for purity of multi-walled carbon nanotubes
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
This Technical Report identifies the basic properties of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs) and the contentof impurities, which characterize bulk
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
Nanotechnologies. Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples
Nanotechnologies - Caractérisation des échantillons de nanotubes de carbone multifeuillets (NWCNTs)
本文件描述了多壁碳纳米管(MWCNTs)介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术(SEM)、透射电子显微术(TEM)、黏度法和光散射法等。 本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度(SBPL)表征的附加条款,给出了用于评价SBPL的测量方法,其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。 本文
Nanotechnologies—Characterization of multiwall carbon nanotubes—Mesoscopic shape factors
This Technical Specification describes methods for the characterization of mesoscopic shape factors of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs). Techniques
Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotubes - Mesoscopic shape factors
Nanotechnologies — Characterization of multiwall carbon nanotubes — Mesoscopic shape factors
Nanotechnologies. Characterization of multiwall carbon nanotubes. Mesoscopic shape factors
Nanotechnologies — Multiwall carbon nanotubes — Determination of carbon impurity content by thermogravimetric analysis
Nanotechnologies. Multiwall carbon nanotubes. Determination of carbon impurity content by thermogravimetric analysis