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半导体设备保护用熔断器检测

发布时间：2024-05-27 17:49:26 - 更新时间：2024年06月29日 15:22

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北检院可对各类半导体设备保护用熔断器检测，仪器设备齐全，工程师团队经验丰富，为您提供一站式半导体设备保护用熔断器检测服务。

检测范围

半导体设备保护用熔断器

检测项目

分断能力验证（No.21试验）分断能力验证（No.13试验）分断能力验证（No.12试验）分断能力验证（No.12a试验）分断能力验证（No.11试验）约定电缆过载保护试验（仅对“gR”和“gS”熔断体）额定电流验证约定熔断电流约定不熔断电流电阻温升与耗散功率熔断器的布置与尺寸

部分检测标准

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.5)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.4.3.5)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.4.3.2)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.4.3.1 b）)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.4.3.1 a）)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.1.5.1)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.3)

低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GBT 13539.4-2016 (8.1.4)

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