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长霉检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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军工检测 其他检测

SC/T 7002.12-1992 船用电子设备环境试验条件和方法-长霉

CSN 03 8826-1965 气候测试:长霉试验

Zpracovatel: Státní v?zkumn? ústav silnoproudé elektrotechniky Pracovník ??adu pro normalizaci a mě?ení: in?. A. ?molík

Climatic tests: Mould growth test

CSN 34 5791 Cast.2-10-1989 电工技术和电子产品.基本环境测试程序.试验和指导: 长霉

Schválení ST SEV 1344-87 doporu?il ??ad pro normalizaci a mě?ení, I?O 001465 Zpracovatel: Elektrotechnick? zku?ební ústav, Praha, I?O 001481 — Ing

Electrotechnical and electronic products. Basic environmental testing procedures.Test J and guidence: Mould growth

GB/T 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉

本部分规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本部分不适用于常规生产检查。 本试验的目的是研究长霉对试样的光学、热学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度,及估价霉菌代谢产物(如酶或酸性物质)导致对零件的腐蚀程度或

Optics and optical instruments.Environmental test methods.Part 11:Mould growth

GB/T 2423.16-2022 环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉

Environmental testing—Part 2: Test methods—Test J and guidance: Mould growth

GB/T 12085.11-2022 光学和光子学 环境试验方法 第11部分:长霉

Optics and photonics—Environmental test methods—Part 11:Mould growth

BS 3900-G6-1989 涂料试验方法.耐长霉评定

Exposure to a mixed inoculum of fungal species commonly found in contact with painted surfaces and subsequent assessment against a rating

Methods of test for paints - Assessment of resistance to fungal growth

BS 3G 100-2.3.3-1972 飞机设备一般要求规范.第2部分:各种设备.第3节:环境条件.长霉

This subsection of 3G. 100: Part 2 gives details of mould growth tests to be applied to materials and components used in aircraft equipment

Specification for general requirements for equipment for use in aircraft - All equipment - Environmental conditions - Mould growth

HD 323.2.10 S3-1988 环境试验基本规程:第2部分:试验.试验J和导则:长霉

Basic environmental testing procedures; part 2: tests; test J and guidance: mould growth

GB/T 11606.12-1989 分析仪器环境试验方法 长霉试验

本标准规定了分析仪器(以下简称仪器)长霉试验的试剂、材料,试验条件和试验方法。 本标准适用于评定仪器在霉菌生长的条件下的长霉程度和霉菌对它们引起的表面变化或性能影响。 本标准适用于在霉菌生长场所的仪器

The method of environmental test for analytical instruments--Mould growth test

GB/T 12085.11-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 长霉

本标准规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本标准适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验不用于常规生产检查

Optics and optical instruments--Environmental test methods--Mould growth

BS EN 2591-306-1998 电气和光学连接元件.试验方法.长霉

To be read in conjunction with BS EN 2591:1992

Elements of electrical and optical connection - Test methods - Mould growth

DZ 28.12-1984 地质仪器产品基本环境.试验条件及方法.长霉试验

在于确定地质仪器产品,在有霉菌生长的地区工作、储存和运输时,长霉的程度及其对机械性能和电性能的影响,以评价其产品在霉菌生长环境下的适应能力

DZ 0039.14-1992 地质仪器产品基本环境.试验条件及方法.长霉试验

GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验J和导则: 长霉

本试验采用经选择的霉菌孢子在已装配的样品上接种,然后在促进孢子发芽和霉菌生长的条件下培养一段时间的方法进行长霉试验。 本试验给出两种不同的试验方法。试验方法1规定用霉菌孢子直接在样品上接种;试验方法2规定用可支持霉菌生长的营养液预先处理样品后再在样品上接种。 当已装配的样品必须

Environmental testing for electric and electronic products-- Part 2: Tests--Test J and guidance: Mould growth

SC/T 7002.12-1992 船用电子设备环境试验条件和方法-长霉

CSN 03 8826-1965 气候测试:长霉试验

Zpracovatel: Státní v?zkumn? ústav silnoproudé elektrotechniky Pracovník ??adu pro normalizaci a mě?ení: in?. A. ?molík

Climatic tests: Mould growth test

CSN 34 5791 Cast.2-10-1989 电工技术和电子产品.基本环境测试程序.试验和指导: 长霉

Schválení ST SEV 1344-87 doporu?il ??ad pro normalizaci a mě?ení, I?O 001465 Zpracovatel: Elektrotechnick? zku?ební ústav, Praha, I?O 001481 — Ing

Electrotechnical and electronic products. Basic environmental testing procedures.Test J and guidence: Mould growth

GB/T 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉

本部分规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本部分不适用于常规生产检查。 本试验的目的是研究长霉对试样的光学、热学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度,及估价霉菌代谢产物(如酶或酸性物质)导致对零件的腐蚀程度或

Optics and optical instruments.Environmental test methods.Part 11:Mould growth

GB/T 2423.16-2022 环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉

Environmental testing—Part 2: Test methods—Test J and guidance: Mould growth

GB/T 12085.11-2022 光学和光子学 环境试验方法 第11部分:长霉

Optics and photonics—Environmental test methods—Part 11:Mould growth

BS 3900-G6-1989 涂料试验方法.耐长霉评定

Exposure to a mixed inoculum of fungal species commonly found in contact with painted surfaces and subsequent assessment against a rating

Methods of test for paints - Assessment of resistance to fungal growth

BS 3G 100-2.3.3-1972 飞机设备一般要求规范.第2部分:各种设备.第3节:环境条件.长霉

This subsection of 3G. 100: Part 2 gives details of mould growth tests to be applied to materials and components used in aircraft equipment

Specification for general requirements for equipment for use in aircraft - All equipment - Environmental conditions - Mould growth

HD 323.2.10 S3-1988 环境试验基本规程:第2部分:试验.试验J和导则:长霉

Basic environmental testing procedures; part 2: tests; test J and guidance: mould growth

GB/T 11606.12-1989 分析仪器环境试验方法 长霉试验

本标准规定了分析仪器(以下简称仪器)长霉试验的试剂、材料,试验条件和试验方法。 本标准适用于评定仪器在霉菌生长的条件下的长霉程度和霉菌对它们引起的表面变化或性能影响。 本标准适用于在霉菌生长场所的仪器

The method of environmental test for analytical instruments--Mould growth test

GB/T 12085.11-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 长霉

本标准规定了长霉试验用的菌种,试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本标准适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验不用于常规生产检查

Optics and optical instruments--Environmental test methods--Mould growth

BS EN 2591-306-1998 电气和光学连接元件.试验方法.长霉

To be read in conjunction with BS EN 2591:1992

Elements of electrical and optical connection - Test methods - Mould growth

DZ 0039.14-1992 地质仪器产品基本环境.试验条件及方法.长霉试验

GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验J和导则: 长霉

本试验采用经选择的霉菌孢子在已装配的样品上接种,然后在促进孢子发芽和霉菌生长的条件下培养一段时间的方法进行长霉试验。 本试验给出两种不同的试验方法。试验方法1规定用霉菌孢子直接在样品上接种;试验方法2规定用可支持霉菌生长的营养液预先处理样品后再在样品上接种。 当已装配的样品必须

Environmental testing for electric and electronic products-- Part 2: Tests--Test J and guidance: Mould growth

DIN EN 2591-6306-2003 航空航天系列.光电连接件.试验方法.第6306部分:光学元件.长霉

The document specifies a method of checking the ability of optical connection elements (including permanent connections) and fibre optic couples

Aerospace series - Elements of electrical and optical connection; Test methods - Part 6306: Optical elements; Mould growth; German and English version EN 2591-6306:2001

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