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半导体集成电路运算(电压)放大器检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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GB 3442-1986 ()测试方法的基本原理

SJ/T 10738-1996 测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for operational (voltage) amplifiers

QJ 2491-1993 测试方法

GJB 597/5A-1997 详细规范

GJB 597/5-1990 详细规范

GJB 9147-2017 测试方法

GB/T 3436-1996 系列和品种

本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型

Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier

SJ 50597/24-1994 .JF3140、JF3140A型BiMOS高输入阻抗详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JF3140 and JF3140A BiMOS operational amplifiers with high input impedence

SJ 20296-1993 JF2500和JF2520型高转换速率详细规范

Detail specification for types JF2500 and JF2520 high slew rate operational amplifiers of semiconductor integrated circuits

QJ 1526-1988 特殊参数测试方法

器件

SJ 50597/63-2006 JF124、JF124A 型四详细规范

本规范规定了半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器(以下简称器件)的详细要求

Semiconductor integrated circuits detail specification for types JF124 and JF124A quad operational amplifiers

SJ 50597/22-1994 .JF709、JF709A型通用详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification of types JF709 and JF709A general operational amplifiers

KS C IEC 60748-3-1:2002 件..第3部分:模拟.第1节:单块

서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers

SJ 20301-1993 JF158、JF158A型双详细规范

Detail specification for types JF158 and JF158A dual operational amplifiers of semiconductor intagrated circuits

QJ 2569-1993 JFET输入四 JF147详细规范

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