半导体集成电路电压比较器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法

GJB 597/3-1990 半导体集成电路电压比较器详细规范

SJ/T 10805-2000 半导体集成电路.电压比较器测试方法的基本原理

本规范规定了半导体集成电路电压比较器电特性测试方法的基本原理。 本规范适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试

Semiconductor integrated circuits.General principles of measuring methods for voltage comparators

GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试

Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage comparators

SJ 50597/23-1994 半导体集成电路.JJ710型电压比较器详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JJ710 Voltage comparator

SJ/T 10805-1996 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits used as interface circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

SJ/T 10076-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 710型电压比较器

本规范规定了半导体集成电路CJ 710型电压比较器质量评定的全部内容。 本标准符合GB 4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不包括混台电路)》的要求

Detail specification for electronic components.Semiconductor integrated circuit Voltage comparator type CJ 710

SJ 50597/29-1994 半导体集成电路.JC4585型CMOS4位数值比较器详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4585 of CMOS 4-Bit magnitude comparator

SJ 50597.1-1994 半导体集成电路JT54LS85型LS-TTL四位数值比较器详细规范

Detail specification for type JT54LS85 LS-TTL 4bit magnitude comparator of semiconductor integrated circuit

BS IEC 60748-2-20:2008 半导体器件.集成电路.数字集成电路.类规范.低压集成电路

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大器测试方法

Testing methods for semi-conductor integrated comparison amplifiers

BS IEC 60748-4:1997 半导体器件.集成电路.接口集成电路

Gives the requirements for certain categories or subcategories of interface integrated circuits. To be read in conjunction with BS 6493-1.1:1984, BS

Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件.集成电路.数字集成电路

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件 集成电路 数字集成电路

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

本标准规了下列集成电路(IC)分类体系树(见图1)中有关半定制集成电路子类的标准

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 5: Semicustom integrated circuits

SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法

GJB 597/3-1990 半导体集成电路电压比较器详细规范

SJ/T 10805-2000 半导体集成电路.电压比较器测试方法的基本原理

本规范规定了半导体集成电路电压比较器电特性测试方法的基本原理。 本规范适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试

Semiconductor integrated circuits.General principles of measuring methods for voltage comparators

GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试

Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage comparators

SJ 50597/23-1994 半导体集成电路.JJ710型电压比较器详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JJ710 Voltage comparator

SJ/T 10805-1996 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits used as interface circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

SJ/T 10076-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 710型电压比较器

本规范规定了半导体集成电路CJ 710型电压比较器质量评定的全部内容。 本标准符合GB 4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不包括混台电路)》的要求

Detail specification for electronic components.Semiconductor integrated circuit Voltage comparator type CJ 710

SJ 50597/29-1994 半导体集成电路.JC4585型CMOS4位数值比较器详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4585 of CMOS 4-Bit magnitude comparator

SJ 50597.1-1994 半导体集成电路JT54LS85型LS-TTL四位数值比较器详细规范

Detail specification for type JT54LS85 LS-TTL 4bit magnitude comparator of semiconductor integrated circuit

BS IEC 60748-2-20:2008 半导体器件.集成电路.数字集成电路.类规范.低压集成电路

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大器测试方法

Testing methods for semi-conductor integrated comparison amplifiers

BS IEC 60748-4:1997 半导体器件.集成电路.接口集成电路

Gives the requirements for certain categories or subcategories of interface integrated circuits. To be read in conjunction with BS 6493-1.1:1984, BS

Semiconductor devices. Integrated circuits. Interface integrated circuits

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件.集成电路.数字集成电路

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件 集成电路 数字集成电路

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

本标准规了下列集成电路(IC)分类体系树(见图1)中有关半定制集成电路子类的标准

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 5: Semicustom integrated circuits

编辑:北检院编辑部

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CMA 检验检测机构资质认定

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ISO 质量管理体系认证

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绿色低碳诚信示范创建企业

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需求沟通

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样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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