混合集成电路外壳检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GJB 2440-1995 总规范

GJB 2440A-2006 通用规范

本规范规定了军用混合集成电路外壳生产和交付的通用要求,以及应满足的质量和可靠性保证要求。 本规范适用于军用混合集成电路、固体继电器、声表面波及带光纤器件的金属外壳,也适用于这类器件的陶瓷外壳

General specification for packages of hybrid integrated circuits

NF C96-405:1986 薄模和.密封

Film and hybrid integrated circuits. Hermetic packages.

SJ 52440/1-1996 M型金属双列详细规范

Detail specification of type M metal DIP for hybrid integrated circuits

SJ 20802-2001 金属目检标准

Visual inspection criteria for integrated circuits metal packages

GB/T 15138-1994 膜形尺寸

本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸,适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计

Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits

GJB 1420-1992 军用总规范

本规范规定了军用半导体集成电路外壳(以下简称外壳)生产和交付的一般要求,以及外壳应满足的质量和可靠性保证要求。 本规范适用于半导体集成电路用的多层陶瓷外壳。外壳一般指底座

General specification for packages of semiconductor integrated circuits

GB/T 12842-1991 膜术语

本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。 本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易

Terminology for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

GJB 2438/4-2011 LB8338同步式温控器详细规范

本规范规定了混合集成电路LB8338外同步式温控器(以下简称器件)的详细要求

Hybrid integrated circuits Detail specification for type LB8338 outer synchronizing temperature controller

GJB 1420A-1999 半导体总规范

GB/T 8976-1996 膜总规范

本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路(F&HFICs),包括GB/T16464-1996第Ⅳ章第2.4条中的源和有源的F&HFICs。 本规范适用于供用户继续加工的半成品F&HFICs,也适用于装有一个以上芯片的片式载体电路,而且这些芯片应作为分立的单元用膜互连技术互连起来

Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

BS IEC 60748-11:2000 半导体器件..半导体()的分规范

Quality assessment procedures, inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures for encapsulated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

BS IEC 60748-11:1991 半导体器件 半导体)的分规范

Semiconductor devices. Integrated circuits. Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

PN T01305-1992 半导体器件..除的半导体分规范

Semiconductor devices. Integrated circuits. Sectional specificatiion for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

GJB 1420B-2011 半导体通用规范

本规范规定了军用半导体集成电路外壳(以下简称外壳)生产和交付的一般要求,以及外壳应满足的质量和可靠性保证要求。 本规范适用于半导体集成电路用的多层陶瓷外壳。外壳一般指底座

General specification for packages of semiconductor integrated circuits

GJB 2440-1995 总规范

GJB 2440A-2006 通用规范

本规范规定了军用混合集成电路外壳生产和交付的通用要求,以及应满足的质量和可靠性保证要求。 本规范适用于军用混合集成电路、固体继电器、声表面波及带光纤器件的金属外壳,也适用于这类器件的陶瓷外壳

General specification for packages of hybrid integrated circuits

NF C96-405:1986 薄模和.密封

Film and hybrid integrated circuits. Hermetic packages.

SJ 52440/1-1996 M型金属双列详细规范

Detail specification of type M metal DIP for hybrid integrated circuits

SJ 20802-2001 金属目检标准

Visual inspection criteria for integrated circuits metal packages

GB/T 15138-1994 膜形尺寸

本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸,适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计

Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits

GJB 1420-1992 军用总规范

本规范规定了军用半导体集成电路外壳(以下简称外壳)生产和交付的一般要求,以及外壳应满足的质量和可靠性保证要求。 本规范适用于半导体集成电路用的多层陶瓷外壳。外壳一般指底座

General specification for packages of semiconductor integrated circuits

GB/T 12842-1991 膜术语

本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。 本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科研、教学和贸易

Terminology for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

GJB 2438/4-2011 LB8338同步式温控器详细规范

本规范规定了混合集成电路LB8338外同步式温控器(以下简称器件)的详细要求

Hybrid integrated circuits Detail specification for type LB8338 outer synchronizing temperature controller

GJB 1420A-1999 半导体总规范

GB/T 8976-1996 膜总规范

本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路(F&HFICs),包括GB/T16464-1996第Ⅳ章第2.4条中的源和有源的F&HFICs。 本规范适用于供用户继续加工的半成品F&HFICs,也适用于装有一个以上芯片的片式载体电路,而且这些芯片应作为分立的单元用膜互连技术互连起来

Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

BS IEC 60748-11:2000 半导体器件..半导体()的分规范

Quality assessment procedures, inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures for encapsulated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

BS IEC 60748-11:1991 半导体器件 半导体)的分规范

Semiconductor devices. Integrated circuits. Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

PN T01305-1992 半导体器件..除的半导体分规范

Semiconductor devices. Integrated circuits. Sectional specificatiion for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

GJB 1420B-2011 半导体通用规范

本规范规定了军用半导体集成电路外壳(以下简称外壳)生产和交付的一般要求,以及外壳应满足的质量和可靠性保证要求。 本规范适用于半导体集成电路用的多层陶瓷外壳。外壳一般指底座

General specification for packages of semiconductor integrated circuits

编辑:北检院编辑部

我们的优势

选择北检院的六大理由

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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