QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
GJB 597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
GJB 597/5-1990 半导体集成电路运算放大器详细规范
GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种
本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型
Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier
GOST 23089.1-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器的放大系数测量方法
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain
GJB 597/3-1990 半导体集成电路电压比较器详细规范
QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大器测试方法
Testing methods for semi-conductor integrated comparison amplifiers
QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法
器件
GB 3442-1986 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for operational (voltage) amplifiers
SJ 50597/23-1994 半导体集成电路.JJ710型电压比较器详细规范
Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JJ710 Voltage comparator
SJ 50597/63-2006 半导体集成电路 JF124、JF124A 型四运算放大器详细规范
本规范规定了半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器(以下简称器件)的详细要求
Semiconductor integrated circuits detail specification for types JF124 and JF124A quad operational amplifiers
KS C IEC 60748-3-1:2002 半导体器件.集成电路.第3部分:模拟集成电路.第1节:单块集成电路运算放大器
서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers
QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
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本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型
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器件
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本规范规定了半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器(以下简称器件)的详细要求
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KS C IEC 60748-3-1:2002 半导体器件.集成电路.第3部分:模拟集成电路.第1节:单块集成电路运算放大器
서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers
编辑:北检院编辑部















