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半导体集成电路(运算放大器、电压比较器)检测

发布时间:2023-05-24 11:29:35

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军工检测 其他检测

QJ 2491-1993 测试方法

GJB 597/5A-1997 详细规范

GJB 597/5-1990 详细规范

GJB 9147-2017 测试方法

SJ/T 10805-2018 测试方法

GB/T 3436-1996 系列和品种

本标准规定了半导体集成电路运算放大器的系列和品种(以下简称器件)的引出端排列、完整的型号、推荐原理电路图(框图)和主要电特性。 本标准适用于研制、生产、使用和采购器件时的选型

Semiconductor integrated circuits. Series and products of operational amplifier

GOST 23089.1-1983 微型.系数测量方法

Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain

GJB 597/3-1990 详细规范

QJ/Z 32-1977 测试方法

Testing methods for semi-conductor integrated comparison amplifiers

QJ 1526-1988 特殊参数测试方法

器件

GB 3442-1986 ()测试方法的基本原理

SJ/T 10738-1996 测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for operational (voltage) amplifiers

SJ 50597/23-1994 .JJ710型详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JJ710 Voltage comparator

SJ 50597/63-2006 JF124、JF124A 型四详细规范

本规范规定了半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器(以下简称器件)的详细要求

Semiconductor integrated circuits detail specification for types JF124 and JF124A quad operational amplifiers

KS C IEC 60748-3-1:2002 件..第3部分:模拟.第1节:单块

서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers

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