半导体集成电路(模拟开关)检测

检测概述

2023-05-24 11:37:28     TAG:

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GB/T 14028-2018 测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

GB/T 14028-1992 测试方法的基本原理

本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

GB 14028-2018 测试方法的基本原理

SJ/T 10254-1991 子元器件详细规范 CB301型CMOS详细规范

本规范规定了半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关鉴定和质量评定的全部内容。 本标准是参照GB 9424《COS数字集成电路4000系列电路空白详细规范》制定的,并符合GB 4589.1《半导体器件 分立器什和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路

Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CB301 CMOS analogue switch

SJ 50597/27-1994 .JC4067型CMOS16选1详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4067 of CMOS single 16-channel analog switches

GB/T 6814-1986 非线性系列和品种 的品种

本标准规定了半导体集成非线性电路模拟开关(以下简称器件)的品种及其基本性能。 生产(研制)或选用器件时,其品种应符合本标准的规定。 若特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑

Families and variety of semiconductor integrated nonlinear circuits Variety of analog switch

SJ 50597/33-1995 .JB200型CMOS双单刀单掷详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification of type JB 200 CMOS dual SPST analog switch

GB/T 14027.3-1992 通信系列和品种 阵列系列和品种

本标准规定了半导体集成电路模拟开关阵列(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of analogue switch arraies

GB/T 17940-2000 器件 第3部分:

本标准给出了下列模拟集成电路分类型的标准: ----运算放大器(双输入和单输入); ----用于线电通讯的音频放大器、视频放大器和多路放大器; ----射频放大器和中频放大器; ----电压调整器和电流调整器; ----模拟信号开关电路; ----开关电源控制电路

Semiconductor devices Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

CSN IEC 748-3:1994 设备..第3部分:

Zpracovatel: SVAS, spol. s r. o., Ro?nov pod Radho?těm, I?O 15503496 — Ing. Dagmar Balá?ová Národní dohlí?ecí inspektorát (NDI): Elektrotechnick? zku

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits

SR CEI 748-3+A1-1991 器件..第3部分:

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits

BS 6493-2.3:1987 器件..推荐标准

British Standard Semiconductor devices National foreword Committees responsible CHAPTER Ⅰ: GENERAL Clause 1. Introductory note 2. Purpose CHAPTER

Semiconductor devices - Integrated circuits - Recommendations for analogue integrated circuits

KS C IEC 60748-3:2002 器件..第3部分:

서 문 이 규격은 1986년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3, Semico

Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

KS C IEC 60748-3-2002(2017 器件第3部分:

Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

KS C IEC 60748-3-2002(2022 器件第3部分:

Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

GB/T 14028-2018 测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

GB/T 14028-1992 测试方法的基本原理

本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

GB 14028-2018 测试方法的基本原理

SJ/T 10254-1991 子元器件详细规范 CB301型CMOS详细规范

本规范规定了半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关鉴定和质量评定的全部内容。 本标准是参照GB 9424《COS数字集成电路4000系列电路空白详细规范》制定的,并符合GB 4589.1《半导体器件 分立器什和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路

Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CB301 CMOS analogue switch

SJ 50597/27-1994 .JC4067型CMOS16选1详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4067 of CMOS single 16-channel analog switches

GB/T 6814-1986 非线性系列和品种 的品种

本标准规定了半导体集成非线性电路模拟开关(以下简称器件)的品种及其基本性能。 生产(研制)或选用器件时,其品种应符合本标准的规定。 若特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑

Families and variety of semiconductor integrated nonlinear circuits Variety of analog switch

SJ 50597/33-1995 .JB200型CMOS双单刀单掷详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification of type JB 200 CMOS dual SPST analog switch

GB/T 14027.3-1992 通信系列和品种 阵列系列和品种

本标准规定了半导体集成电路模拟开关阵列(以下简称器件)的引出端排列、功能框图和主要电参数。器件的质量评定应符合器件详细规范的规定。 本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型

Series and products of communication circuits for semiconductor integrated circuits-Products of analogue switch arraies

GB/T 17940-2000 器件 第3部分:

本标准给出了下列模拟集成电路分类型的标准: ----运算放大器(双输入和单输入); ----用于线电通讯的音频放大器、视频放大器和多路放大器; ----射频放大器和中频放大器; ----电压调整器和电流调整器; ----模拟信号开关电路; ----开关电源控制电路

Semiconductor devices Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

CSN IEC 748-3:1994 设备..第3部分:

Zpracovatel: SVAS, spol. s r. o., Ro?nov pod Radho?těm, I?O 15503496 — Ing. Dagmar Balá?ová Národní dohlí?ecí inspektorát (NDI): Elektrotechnick? zku

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits

SR CEI 748-3+A1-1991 器件..第3部分:

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits

BS 6493-2.3:1987 器件..推荐标准

British Standard Semiconductor devices National foreword Committees responsible CHAPTER Ⅰ: GENERAL Clause 1. Introductory note 2. Purpose CHAPTER

Semiconductor devices - Integrated circuits - Recommendations for analogue integrated circuits

KS C IEC 60748-3:2002 器件..第3部分:

서 문 이 규격은 1986년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3, Semico

Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

KS C IEC 60748-3-2002(2017 器件第3部分:

Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

KS C IEC 60748-3-2002(2022 器件第3部分:

Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits

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