半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测

QJ 3044-1998 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法

SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for D/A and A/D converters of non-linear circuits

BS IEC 60748-4-3:2007 半导体器件.集成电路.接口集成电路.模拟数字转换器(ADC)的动态标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GOST 24736-1981 集成数字模拟和模拟数字转换器

Digital-analogue and analogue-digital integrated converters. Basic parameters

GJB 9388-2018 集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法

BS EN 60747-16-4:2004+A1:2011 半导体装置.微波集成电路.转换器

This part of IEC 60747 provides new measuring methods, terminology and letter symbols, as well as essential ratings and characteristics

Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Switches

IEC 60748-4-3:2006 半导体器件.集成电路.第4-3部分:接口集成电路.模拟/数字转换器(ADC)的动力学标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分;接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC 748-4-2：1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

SJ/T 10883-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CDA7520型10位数/模转换器（可供认证用）

Detailed specifications for electronic components - Semiconductor integrated circuits - CDA7520 10-bit D/A converters (Applicable for certification)

SJ 2483-1984 混合集成电路数字.模拟转换器系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分，计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时，其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ 2482-1984 混合集成电路模拟.数字转换器系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分，计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时，其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of D/A converters for hybrid integrated circuits

GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分;接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC 748-4-1：1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

KS C IEC 60748-4-1-2003(2019 半导体器件 - 集成电路 - 第4部分:接口集成电路 - 第1节:线性数模转换器（DAC）的空白详细规范

Semiconductor devices — Integrated circuits — Part 4: Interface integrated circuits — Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

KS C IEC 60748-4-2-2003(2019 半导体器件 - 集成电路 - 第4部分:接口集成电路 - 第2节:线性模数转换器（ADC）的空白详细规范

Semiconductor devices — Integrated circuits — Part 4: Interface integrated circuits — Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

QJ 3044-1998 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法

SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for D/A and A/D converters of non-linear circuits

BS IEC 60748-4-3:2007 半导体器件.集成电路.接口集成电路.模拟数字转换器(ADC)的动态标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GOST 24736-1981 集成数字模拟和模拟数字转换器

Digital-analogue and analogue-digital integrated converters. Basic parameters

GJB 9388-2018 集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法

BS EN 60747-16-4:2004+A1:2011 半导体装置.微波集成电路.转换器

This part of IEC 60747 provides new measuring methods, terminology and letter symbols, as well as essential ratings and characteristics

Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Switches

IEC 60748-4-3:2006 半导体器件.集成电路.第4-3部分:接口集成电路.模拟/数字转换器(ADC)的动力学标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分;接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC 748-4-2：1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

SJ/T 10883-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CDA7520型10位数/模转换器（可供认证用）

Detailed specifications for electronic components - Semiconductor integrated circuits - CDA7520 10-bit D/A converters (Applicable for certification)

SJ 2483-1984 混合集成电路数字.模拟转换器系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分，计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时，其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ 2482-1984 混合集成电路模拟.数字转换器系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分，计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时，其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of D/A converters for hybrid integrated circuits

GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分;接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC 748-4-1：1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

KS C IEC 60748-4-1-2003(2019 半导体器件 - 集成电路 - 第4部分:接口集成电路 - 第1节:线性数模转换器（DAC）的空白详细规范

Semiconductor devices — Integrated circuits — Part 4: Interface integrated circuits — Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

KS C IEC 60748-4-2-2003(2019 半导体器件 - 集成电路 - 第4部分:接口集成电路 - 第2节:线性模数转换器（ADC）的空白详细规范

Semiconductor devices — Integrated circuits — Part 4: Interface integrated circuits — Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)