绝缘栅双极型晶体管检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

JB/T 8951.1-1999

本标准规定了工作频率在10到40kHz范围的快速型绝缘栅双极型晶体管的型号、外形尺寸、额定值、特性、试验方法和检验规则等

Insulated gate bipolar transistor

GB/T 17007-1997 测试方法

Measuring methods for insulated-gate bipolar transistor

JB/T 8951.2-1999 模块.臂和臂对

本标准规定了工作频率在10到40kHz范围的快速型绝缘栅双极型晶体管的臂和臂对模块的型号、外形尺寸、额定值和特性、试验方法和检验规则等

Insulated gate bipolar transistor modules arm and pair of arms

T/FSI 121-2023 用有机硅凝胶

本文件规定了绝缘栅双极型晶体管(简称 IGBT)用有机硅凝胶的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于各种IGBT模块用的双组分加成型有机硅凝胶

GB/T 17008-1997 的词汇及文字符号

Terminology and letter symbols for insulated-gate bipolar transistor

JJG(电子) 310007-2006 直流参数测试系统检定规程

Speciation for verification of DC parameter testing system for isolated gate bipolar transistors

TIS 2125-2002 表面安装工艺.分立器件.第9部分:(IGBT)

Surface mounting technology.discrete devices.part 9: insulated.gate bipolar transistors (igbts)

T/CES 085-2021 压接(IGBT)模块高温反偏试验规范

本标准适用于电网用电力电子装置用的压接型IGBT模块,其它新型IGBT模块如增强注入型IGBT(IEGT)、双模式绝缘栅晶体管(BIGT)等模块也可参照此标准。 本标准介绍了压接型IGBT模块高温反偏试验的相关内容,包含适用范围、相关术语的定义、设备要求、试验流程、冷却、测试以及失效标准等技术内容

Test specification of high temperature reverse bias for press pack insulated-gate bipolar transistor modules

T/CEC 155-2018 柔性输电用压接 (IGBT)器件的一般要求

本标准规定了柔性输电用压接型绝缘栅双极晶体管的型号、尺寸、额定值、特性参数、检验、标志和订货单的技术要求

BS IEC 60747-9:2007 半导装置.分立器件.(IGBTs)

This part of IEC 60747 gives product specific standards for terminology,letter symbols, essential ratings and characteristics,verification of ratings

Semiconductor devices - Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

IEC 60747-9:2019 半导器件第9部分:分立器件

Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

IEC 60747-9-2019 半导器件第9部分:分立器件

Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

GB/T 29332-2012 半导器件 分立器件 第9部分:(IGBT)

本标准给出了绝缘栅双极晶体管(IGBT)的术语、文字符号、基本额定值和特性以及测试方法等产品特定要求

Semiconductor devices.Discrete devices.Part 9:Insulated-gate bipolar transistors (IGBT)

IEC 60747-9:1998 半导器件 分立器件 第9部分:(IGBTS)

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

IEC 60747-9:2007 半导装置.分立器件.第9部分:(IGBTs)

This part of IEC 60747 gives product specific standards for terminology,letter symbols, essential ratings and characteristics,verification of ratings

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

JB/T 8951.1-1999

本标准规定了工作频率在10到40kHz范围的快速型绝缘栅双极型晶体管的型号、外形尺寸、额定值、特性、试验方法和检验规则等

Insulated gate bipolar transistor

GB/T 17007-1997 测试方法

Measuring methods for insulated-gate bipolar transistor

JB/T 8951.2-1999 模块.臂和臂对

本标准规定了工作频率在10到40kHz范围的快速型绝缘栅双极型晶体管的臂和臂对模块的型号、外形尺寸、额定值和特性、试验方法和检验规则等

Insulated gate bipolar transistor modules arm and pair of arms

T/FSI 121-2023 用有机硅凝胶

本文件规定了绝缘栅双极型晶体管(简称 IGBT)用有机硅凝胶的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于各种IGBT模块用的双组分加成型有机硅凝胶

GB/T 17008-1997 的词汇及文字符号

Terminology and letter symbols for insulated-gate bipolar transistor

JJG(电子) 310007-2006 直流参数测试系统检定规程

Speciation for verification of DC parameter testing system for isolated gate bipolar transistors

TIS 2125-2002 表面安装工艺.分立器件.第9部分:(IGBT)

Surface mounting technology.discrete devices.part 9: insulated.gate bipolar transistors (igbts)

T/CES 085-2021 压接(IGBT)模块高温反偏试验规范

本标准适用于电网用电力电子装置用的压接型IGBT模块,其它新型IGBT模块如增强注入型IGBT(IEGT)、双模式绝缘栅晶体管(BIGT)等模块也可参照此标准。 本标准介绍了压接型IGBT模块高温反偏试验的相关内容,包含适用范围、相关术语的定义、设备要求、试验流程、冷却、测试以及失效标准等技术内容

Test specification of high temperature reverse bias for press pack insulated-gate bipolar transistor modules

T/CEC 155-2018 柔性输电用压接 (IGBT)器件的一般要求

本标准规定了柔性输电用压接型绝缘栅双极晶体管的型号、尺寸、额定值、特性参数、检验、标志和订货单的技术要求

BS IEC 60747-9:2007 半导装置.分立器件.(IGBTs)

This part of IEC 60747 gives product specific standards for terminology,letter symbols, essential ratings and characteristics,verification of ratings

Semiconductor devices - Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

IEC 60747-9:2019 半导器件第9部分:分立器件

Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

IEC 60747-9-2019 半导器件第9部分:分立器件

Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

GB/T 29332-2012 半导器件 分立器件 第9部分:(IGBT)

本标准给出了绝缘栅双极晶体管(IGBT)的术语、文字符号、基本额定值和特性以及测试方法等产品特定要求

Semiconductor devices.Discrete devices.Part 9:Insulated-gate bipolar transistors (IGBT)

IEC 60747-9:1998 半导器件 分立器件 第9部分:(IGBTS)

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

IEC 60747-9:2007 半导装置.分立器件.第9部分:(IGBTs)

This part of IEC 60747 gives product specific standards for terminology,letter symbols, essential ratings and characteristics,verification of ratings

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

编辑:北检院编辑部

我们的优势

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

🏢

15000+ 平米实验室

拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

快速响应机制

标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

荣誉资质

旗下实验室资质荣誉

CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可证书

中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

标准化流程,高效交付

01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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