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CMOS数字集成电路检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

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军工检测 其他检测

SIS SS-CECC 90104-1991 系列规范.CMOS4000 B 和4000 UB系列

Family specification: C. MOS digital integratedcircuits Series 4000 B and 4000 UB

SIS SS CECC 90104-1982 系列规范.CMOS 4000 B 和4000 UB系列

Family specif/cation: CMOS dig/tat integrated circuits - Series 4000 B and 4000 UB

GB/T 17572-1998 半导体器件 第2部分; 第四篇 CMOS 4000B和4000UB系列族规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本族规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用。747-10

Semiconductor devices--Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Section four--Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

GB/T 9424-1998 半导体器件 第2部分; 第五篇 CMOS4000B和4000UB系列空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用

Semiconductor devices lntegrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five--Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

SJ/T 10428-1993 54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列高速CMOS空白详细规范(可供认证用)

本规范规定了编制54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列高速CMOS数字集成电路详细规范的基本原则。 本规范是半导体集成电路空白详细规范中的一个,它应与GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750〈半导体集成电路分规范(不包括混合电路

Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits,series 54/74HC、54/74HCT、54/74HCU

BS CECC 90104:1981 子元器件质量评定协调体系.类规范.CMOS.系列4000B和4000UB

Provides limiting conditions, recommended conditions of use and associated characteristics, together with inspection requirements for a range

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Family specification: C. Mos digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

QJ 2875-1997 半导体CMOS门阵列详细规范

SJ/T 10253-1991 子元器件详细规范 半导体CC4046型CMOS锁相环详细规范

本规范规定了半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环质量评定的全部内容。 本规范符合GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化

Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CC4046 CMOS digital phase-locked loop

SJ/T 10252-1991 子元器件详细规范 半导体CB7660型CMOS锁相环详细规范

本规范规定了半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器鉴定和质量评定的全部内容。 本规范符合GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术

Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CB7660 CMOS supply voltape converter

JEDEC JESD12-4-1987 CMOS Semicustom性能参的规范方法

The v o l t a g e waveform f o l l o w i n g a t r a n s i t i o n from low impedance t o high impedance is a s t r o n g f u n c t i o n of t h e l

Method of Specification of Performance Parameters for CMOS Semicustom Integrated Circuits

GB/T 17574.20-2006 半导体器件 笫2-20部分:低压族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件..

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

SJ/T 10040-1991 子元器件详细规范.半导体CC4019型CMOS四2选1据选择器

本规范规定了半导体集成电路CC4019型CMOS四2选1数据选择器质量评定的全部内容。 本规范是参照GB 9424《CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范》制订的,并符合GB 4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》及GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合

Detail specification for electronic component.Semiconductor integrated circuit-CC4019 CMOS Quad 2-line to 1-line data selector

SJ 50597/28-1994 半导体.JC4504型CMOS六TTL/CMOS-CMOS平转换器详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4504 of CMOS Hex TTL/CMOS to CMOS converters

SIS SS-CECC 90104-1991 系列规范.CMOS4000 B 和4000 UB系列

Family specification: C. MOS digital integratedcircuits Series 4000 B and 4000 UB

SIS SS CECC 90104-1982 系列规范.CMOS 4000 B 和4000 UB系列

Family specif/cation: CMOS dig/tat integrated circuits - Series 4000 B and 4000 UB

GB/T 17572-1998 半导体器件 第2部分; 第四篇 CMOS 4000B和4000UB系列族规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本族规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用。747-10

Semiconductor devices--Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Section four--Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

GB/T 9424-1998 半导体器件 第2部分; 第五篇 CMOS4000B和4000UB系列空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用

Semiconductor devices lntegrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five--Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

SJ/T 10428-1993 54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列高速CMOS空白详细规范(可供认证用)

本规范规定了编制54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列高速CMOS数字集成电路详细规范的基本原则。 本规范是半导体集成电路空白详细规范中的一个,它应与GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750〈半导体集成电路分规范(不包括混合电路

Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits,series 54/74HC、54/74HCT、54/74HCU

BS CECC 90104:1981 子元器件质量评定协调体系.类规范.CMOS.系列4000B和4000UB

Provides limiting conditions, recommended conditions of use and associated characteristics, together with inspection requirements for a range

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Family specification: C. Mos digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

QJ 2875-1997 半导体CMOS门阵列详细规范

SJ/T 10253-1991 子元器件详细规范 半导体CC4046型CMOS锁相环详细规范

本规范规定了半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环质量评定的全部内容。 本规范符合GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化

Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CC4046 CMOS digital phase-locked loop

SJ/T 10252-1991 子元器件详细规范 半导体CB7660型CMOS锁相环详细规范

本规范规定了半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器鉴定和质量评定的全部内容。 本规范符合GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术

Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits,Type CB7660 CMOS supply voltape converter

JEDEC JESD12-4-1987 CMOS Semicustom性能参的规范方法

The v o l t a g e waveform f o l l o w i n g a t r a n s i t i o n from low impedance t o high impedance is a s t r o n g f u n c t i o n of t h e l

Method of Specification of Performance Parameters for CMOS Semicustom Integrated Circuits

GB/T 17574.20-2006 半导体器件 笫2-20部分:低压族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件..

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

SJ/T 10040-1991 子元器件详细规范.半导体CC4019型CMOS四2选1据选择器

本规范规定了半导体集成电路CC4019型CMOS四2选1数据选择器质量评定的全部内容。 本规范是参照GB 9424《CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范》制订的,并符合GB 4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》及GB 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合

Detail specification for electronic component.Semiconductor integrated circuit-CC4019 CMOS Quad 2-line to 1-line data selector

SJ 50597/28-1994 半导体.JC4504型CMOS六TTL/CMOS-CMOS平转换器详细规范

Semiconductor integrated circuits.Detail specification for type JC4504 of CMOS Hex TTL/CMOS to CMOS converters

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