数字集成电路CMOS电路检测

GB/T 17572-1998 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本族规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。747-10

Semiconductor devices--Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Section four--Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用

Semiconductor devices lntegrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five--Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

QJ 2875-1997 半导体集成电路CMOS数字门阵列详细规范

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件.集成电路.数字集成电路

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件 集成电路 数字集成电路

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

SIS SS-CECC 90104-1991 系列规范．CMOS数字集成电路4000 B 和4000 UB系列

Family specification: C. MOS digital integratedcircuits Series 4000 B and 4000 UB

SIS SS CECC 90104-1982 系列规范．CMOS 数字集成电路 4000 B 和4000 UB系列

Family specif/cation: CMOS dig/tat integrated circuits - Series 4000 B and 4000 UB

BS IEC 60748-2-20:2008 半导体器件.集成电路.数字集成电路.类规范.低压集成电路

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

GB/T 17574.20-2006 半导体器件集成电路 笫2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits

GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路

本标准给出了下列各类或各分类器件的标准： --组合和时序数字电路； --存储器集成电路； --微处理器集成电路； --电荷转移器件

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits

GJB/Z 42.2-1993 军用微电路系列型谱 半导体集成电路 数字集成电路

ARMY MIL-M-63530 VALID NOTICE 2-2013 微电路，数字，CMOS（逻辑）

Microcircuit, Digital, CMOS (Logic)

IEC 60748-2:1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits

JEDEC JESD12-4-1987 CMOS Semicustom集成电路性能参数的规范方法

The v o l t a g e waveform f o l l o w i n g a t r a n s i t i o n from low impedance t o high impedance is a s t r o n g f u n c t i o n of t h e l

Method of Specification of Performance Parameters for CMOS Semicustom Integrated Circuits

CSN IEC 748-2:1994 半导体设备．集成电路．第2部分：数字集成电路

Zpracovatel: SVAS a. s., Ro?nov pod Radho?těm, I?O 15503496 — Ing. Dagmar Balá?ová, Ing. Václav Se-hnalík Národní dohlí?ecí inspektorát

Semiconductor devices.Integrated circuits.Part 2:Digital integrated circuits

GB/T 17572-1998 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本族规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。747-10

Semiconductor devices--Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Section four--Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用

Semiconductor devices lntegrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five--Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4000B and 4000UB

QJ 2875-1997 半导体集成电路CMOS数字门阵列详细规范

BS IEC 60748-2:1997 半导体器件.集成电路.数字集成电路

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits

BS IEC 60748-2:1998 半导体器件 集成电路 数字集成电路

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits

SIS SS-CECC 90104-1991 系列规范．CMOS数字集成电路4000 B 和4000 UB系列

Family specification: C. MOS digital integratedcircuits Series 4000 B and 4000 UB

SIS SS CECC 90104-1982 系列规范．CMOS 数字集成电路 4000 B 和4000 UB系列

Family specif/cation: CMOS dig/tat integrated circuits - Series 4000 B and 4000 UB

BS IEC 60748-2-20:2008 半导体器件.集成电路.数字集成电路.类规范.低压集成电路

Semiconductor devices - Integrated circuits - Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

GB/T 17574.20-2006 半导体器件集成电路 笫2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值

Semiconductor devices Integrated circuits Part 2-20: Digital integrated circuits Family specification Low voltage integrated circuits

GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路

本标准给出了下列各类或各分类器件的标准： --组合和时序数字电路； --存储器集成电路； --微处理器集成电路； --电荷转移器件

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits

GJB/Z 42.2-1993 军用微电路系列型谱 半导体集成电路 数字集成电路

ARMY MIL-M-63530 VALID NOTICE 2-2013 微电路，数字，CMOS（逻辑）

Microcircuit, Digital, CMOS (Logic)

IEC 60748-2:1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

This part of IEC 60748 is applicable for the following categories or subcategories of devices: - combinatorial and sequential digital circuits

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits

JEDEC JESD12-4-1987 CMOS Semicustom集成电路性能参数的规范方法

The v o l t a g e waveform f o l l o w i n g a t r a n s i t i o n from low impedance t o high impedance is a s t r o n g f u n c t i o n of t h e l

Method of Specification of Performance Parameters for CMOS Semicustom Integrated Circuits

CSN IEC 748-2:1994 半导体设备．集成电路．第2部分：数字集成电路

Zpracovatel: SVAS a. s., Ro?nov pod Radho?těm, I?O 15503496 — Ing. Dagmar Balá?ová, Ing. Václav Se-hnalík Národní dohlí?ecí inspektorát

Semiconductor devices.Integrated circuits.Part 2:Digital integrated circuits