GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。 本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵焦平面
The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
GJB 9146-2017 非制冷红外焦平面探测器通用规范
GJB 5244-2004 红外焦平面探测器杜瓦组件通用规范
GJB 7247-2011 红外焦平面探测器制冷组件通用规范
SJ 20830-2002 铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件.通用规范
General specification for PtSi infrared focal plane arrays detector-dewar assembly
SJ 20831-2002 4N红外焦平面探测器杜瓦组件参数.测试方法
Method for measurement and test of parameters of 4N infrared focal plane detector dewar assembly
GJB 8127-2013 紫外焦平面探测器参数测试方法
本标准规定了紫外焦平面探测器的参数测试方法。本标准适用于线列和面阵半导体焦平面探测器在200 nm~400 nm波段范围的参数测试
Measuring methods for parameters of ultraviolet focal plane arrays
SIS SS CECC 20002-1984 空白详细规范．红外发光二极管、红外发光二极管阵列
Blank detail specification: Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
LST EN 120002-2001 空白详细规范 红外线发光二极管、红外线发光二极管阵列
Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
NF C93-120-002*NF EN 120002:1992 空白详细规范：红外线发射二极管，红外线发射二极管阵列
Blank Detail Specification : Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
DIN EN 120002:1997 空白详细规范.红外线发射二极管和红外线发射二极管阵列
The document is a blank detail specification for infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
Blank detail specification: Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays; German version EN 120002:1992
YD/T 3541-2019 平面光波导器件用光纤阵列
NF C86-502:1983 电子元件统一质量评审体系.红外发光二极管，红外发光二极管阵列
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diodes arrays.
NP 3234-3-1987 电子原件．红外发射二极管类．红外发射二极管矩阵，详细地规格说明
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。 本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵焦平面
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General specification for PtSi infrared focal plane arrays detector-dewar assembly
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Method for measurement and test of parameters of 4N infrared focal plane detector dewar assembly
GJB 8127-2013 紫外焦平面探测器参数测试方法
本标准规定了紫外焦平面探测器的参数测试方法。本标准适用于线列和面阵半导体焦平面探测器在200 nm~400 nm波段范围的参数测试
Measuring methods for parameters of ultraviolet focal plane arrays
SIS SS CECC 20002-1984 空白详细规范．红外发光二极管、红外发光二极管阵列
Blank detail specification: Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
LST EN 120002-2001 空白详细规范 红外线发光二极管、红外线发光二极管阵列
Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
NF C93-120-002*NF EN 120002:1992 空白详细规范：红外线发射二极管，红外线发射二极管阵列
Blank Detail Specification : Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
DIN EN 120002:1997 空白详细规范.红外线发射二极管和红外线发射二极管阵列
The document is a blank detail specification for infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays
Blank detail specification: Infrared emitting diodes, infrared emitting diode arrays; German version EN 120002:1992
YD/T 3541-2019 平面光波导器件用光纤阵列
NF C86-502:1983 电子元件统一质量评审体系.红外发光二极管，红外发光二极管阵列
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diodes arrays.
NP 3234-3-1987 电子原件．红外发射二极管类．红外发射二极管矩阵，详细地规格说明
编辑：北检院编辑部
