微束分析 能谱法定量分析检测

GB/T 17359-2012 微束分析.能谱法定量分析

本标准规定了用安装在扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数（或百分数）表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分，因此，本标准也包含这方面的内容。本标准提供了多种能谱法定量分析方法，本标准适用于

Microbeam analysis.Quantitative analysis using energy dispersive spectrometry

KS D ISO 22309-2011(2016 微束分析－用能量色散光谱法（EDS）进行定量分析

Microbeam analysis－Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

KS D ISO 22309-2011(2021 微束分析——使用能量色散光谱法（EDS）进行定量分析

Microbeam analysis－Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法

本标准规定了电子探针仪〈EPMA〉和扫描电子显微镜(SEM〉的X射线波谱仪(WDS〉和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。 本标准适用于硅酸盐玻璃试样〔包括碱金眉的硅酸盐玻璃)的波谱法〈WDX〉和能谱法〈EDX〉的定量分析

Microbeam analysis.Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法

What is ISO 23420 about?    ISO 23420 discusses microbeam Analysis. ISO 23420 specifies a determination procedure of energy

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法

本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。 本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定，并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析

Microbeam analysis.Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS

GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法

本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。 本文件适用于以电子探针进行的定量分析,也适用于安装了波谱

Microbeam analysis—Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis

ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法

This document specifies a determination procedure of energy resolution in the scanning transmission electron microscope or the transmission electron

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS）,通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 内容包括： ——定量分析原理； ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围； ——仪器的一般要求； ——有关试样制备、实验条件的选择

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法

本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(铁质量分数大于 95%)中硅、锰含量的校准曲 本标准适用于电子探针波谱仪,不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用

Microbeam analysis—Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer

20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法

BS ISO 23420. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

ISO 22309:2006 微电子束分析.用能量散射光谱仪(EDS)进行定量分析

This International Standard gives guidance on the quantitative analysis at specific points or areas of a specimen using energy-dispersive spectrometry

Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)

GB/T 32055-2015 微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析

本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析(电子束面分析)和移动试样台的面分析(大面积面分析)两种模式的选择，给出了五种数据处理的方式：原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy

GB/T 41074-2021 微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法

本文件规定了使用安装在电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)上的能谱仪(EDS)或波谱仪(WDS)分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸,对粉末颗粒试样的制备方法进行了分类。 本文件适用于粒径范围在100nm~100μm 的机物颗粒。 本文件不适用于一些特殊应用,如法医分析或

Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

NF X21-003:2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

GB/T 17359-2012 微束分析.能谱法定量分析

本标准规定了用安装在扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数（或百分数）表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分，因此，本标准也包含这方面的内容。本标准提供了多种能谱法定量分析方法，本标准适用于

Microbeam analysis.Quantitative analysis using energy dispersive spectrometry

KS D ISO 22309-2011(2016 微束分析－用能量色散光谱法（EDS）进行定量分析

Microbeam analysis－Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

KS D ISO 22309-2011(2021 微束分析——使用能量色散光谱法（EDS）进行定量分析

Microbeam analysis－Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法

本标准规定了电子探针仪〈EPMA〉和扫描电子显微镜(SEM〉的X射线波谱仪(WDS〉和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。 本标准适用于硅酸盐玻璃试样〔包括碱金眉的硅酸盐玻璃)的波谱法〈WDX〉和能谱法〈EDX〉的定量分析

Microbeam analysis.Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法

What is ISO 23420 about?    ISO 23420 discusses microbeam Analysis. ISO 23420 specifies a determination procedure of energy

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法

本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。 本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定，并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析

Microbeam analysis.Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS

GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法

本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。 本文件适用于以电子探针进行的定量分析,也适用于安装了波谱

Microbeam analysis—Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis

ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法

This document specifies a determination procedure of energy resolution in the scanning transmission electron microscope or the transmission electron

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS）,通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 内容包括： ——定量分析原理； ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围； ——仪器的一般要求； ——有关试样制备、实验条件的选择

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法

本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(铁质量分数大于 95%)中硅、锰含量的校准曲 本标准适用于电子探针波谱仪,不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用

Microbeam analysis—Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer

20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法

BS ISO 23420. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

ISO 22309:2006 微电子束分析.用能量散射光谱仪(EDS)进行定量分析

This International Standard gives guidance on the quantitative analysis at specific points or areas of a specimen using energy-dispersive spectrometry

Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)

GB/T 32055-2015 微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析

本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析(电子束面分析)和移动试样台的面分析(大面积面分析)两种模式的选择，给出了五种数据处理的方式：原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy

GB/T 41074-2021 微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法

本文件规定了使用安装在电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)上的能谱仪(EDS)或波谱仪(WDS)分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸,对粉末颗粒试样的制备方法进行了分类。 本文件适用于粒径范围在100nm~100μm 的机物颗粒。 本文件不适用于一些特殊应用,如法医分析或

Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

NF X21-003:2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.