微束分析 能谱法定量分析检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

GB/T 17359-2012 .

本标准规定了用安装在扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数(或百分数)表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分,因此,本标准也包含这方面的内容。本标准提供了多种能谱法定量分析方法,本标准适用于

Microbeam analysis.Quantitative analysis using energy dispersive spectrometry

KS D ISO 22309-2011(2016 -用色散光(EDS)进行

Microbeam analysis-Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

KS D ISO 22309-2011(2021 ——使用色散光(EDS)进行

Microbeam analysis-Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

GB/T 15244-2013 硅酸盐玻璃的

本标准规定了电子探针仪〈EPMA〉和扫描电子显微镜(SEM〉的X射线波谱仪(WDS〉和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。 本标准适用于硅酸盐玻璃试样〔包括碱金眉的硅酸盐玻璃)的波谱法〈WDX〉和能谱法〈EDX〉的定量分析

Microbeam analysis.Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

BS ISO 23420:2021 电子显镜 电子损失辨率的测

What is ISO 23420 about?    ISO 23420 discusses microbeam Analysis. ISO 23420 specifies a determination procedure of energy

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 25189-2010 .扫描电镜参数的测

本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。 本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定,并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析

Microbeam analysis.Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS

GB/T 15246-2022 硫化物矿物的电子探针

本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。 本文件适用于以电子探针进行的定量分析,也适用于安装了波谱

Microbeam analysis—Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis

ISO 23420:2021 .电子显镜.电子损失辨率的测

This document specifies a determination procedure of energy resolution in the scanning transmission electron microscope or the transmission electron

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 28634-2012 .电子探针显.块状试样波

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 内容包括: ——定量分析原理; ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围; ——仪器的一般要求; ——有关试样制备、实验条件的选择

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

GB/T 17360-2020 钢中低含硅、锰的电子探针

本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(铁质量分数大于 95%)中硅、锰含量的校准曲 本标准适用于电子探针波谱仪,不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用

Microbeam analysis—Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer

20/30380369 DC BS ISO 23420 电子显镜 电子损失辨率的测

BS ISO 23420. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

ISO 22309:2006 电子.用散射光仪(EDS)进行

This International Standard gives guidance on the quantitative analysis at specific points or areas of a specimen using energy-dispersive spectrometry

Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)

GB/T 32055-2015 电子探针显元素面

本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析(电子束面分析)和移动试样台的面分析(大面积面分析)两种模式的选择,给出了五种数据处理的方式:原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy

GB/T 41074-2021 用于波的粉末试样制备方

本文件规定了使用安装在电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)上的能谱仪(EDS)或波谱仪(WDS)分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸,对粉末颗粒试样的制备方法进行了分类。 本文件适用于粒径范围在100nm~100μm 的机物颗粒。 本文件不适用于一些特殊应用,如法医分析或

Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

NF X21-003:2006 .电子探针显.波长布X射线光指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

GB/T 17359-2012 .

本标准规定了用安装在扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数(或百分数)表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分,因此,本标准也包含这方面的内容。本标准提供了多种能谱法定量分析方法,本标准适用于

Microbeam analysis.Quantitative analysis using energy dispersive spectrometry

KS D ISO 22309-2011(2016 -用色散光(EDS)进行

Microbeam analysis-Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

KS D ISO 22309-2011(2021 ——使用色散光(EDS)进行

Microbeam analysis-Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)

GB/T 15244-2013 硅酸盐玻璃的

本标准规定了电子探针仪〈EPMA〉和扫描电子显微镜(SEM〉的X射线波谱仪(WDS〉和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。 本标准适用于硅酸盐玻璃试样〔包括碱金眉的硅酸盐玻璃)的波谱法〈WDX〉和能谱法〈EDX〉的定量分析

Microbeam analysis.Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

BS ISO 23420:2021 电子显镜 电子损失辨率的测

What is ISO 23420 about?    ISO 23420 discusses microbeam Analysis. ISO 23420 specifies a determination procedure of energy

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 25189-2010 .扫描电镜参数的测

本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。 本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定,并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析

Microbeam analysis.Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS

GB/T 15246-2022 硫化物矿物的电子探针

本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。 本文件适用于以电子探针进行的定量分析,也适用于安装了波谱

Microbeam analysis—Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis

ISO 23420:2021 .电子显镜.电子损失辨率的测

This document specifies a determination procedure of energy resolution in the scanning transmission electron microscope or the transmission electron

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

GB/T 28634-2012 .电子探针显.块状试样波

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 内容包括: ——定量分析原理; ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围; ——仪器的一般要求; ——有关试样制备、实验条件的选择

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

GB/T 17360-2020 钢中低含硅、锰的电子探针

本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(铁质量分数大于 95%)中硅、锰含量的校准曲 本标准适用于电子探针波谱仪,不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用

Microbeam analysis—Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer

20/30380369 DC BS ISO 23420 电子显镜 电子损失辨率的测

BS ISO 23420. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis

ISO 22309:2006 电子.用散射光仪(EDS)进行

This International Standard gives guidance on the quantitative analysis at specific points or areas of a specimen using energy-dispersive spectrometry

Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)

GB/T 32055-2015 电子探针显元素面

本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析(电子束面分析)和移动试样台的面分析(大面积面分析)两种模式的选择,给出了五种数据处理的方式:原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法

Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy

GB/T 41074-2021 用于波的粉末试样制备方

本文件规定了使用安装在电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)上的能谱仪(EDS)或波谱仪(WDS)分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸,对粉末颗粒试样的制备方法进行了分类。 本文件适用于粒径范围在100nm~100μm 的机物颗粒。 本文件不适用于一些特殊应用,如法医分析或

Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

NF X21-003:2006 .电子探针显.波长布X射线光指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

编辑:北检院编辑部

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

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标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

总部位于北京,山东设立分部,服务覆盖全国,为20万+客户提供便捷的一站式检测解决方案。

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

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绿色低碳诚信示范创建企业

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荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

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数据审核

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