GB/T 17472-2022 微电子技术用贵金属浆料规范
本文件规定了微电子技术用贵金属浆料的分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单内容。 本文件适用于烧结型及固化型微电子技术用贵金属浆料(以下简称“浆料”)。非贵金属浆料也可参照执行
Specification for pastes of precious metal used for microelectronics
GB/T 17472-2008 微电子技术用贵金属浆料规范
本标准规定了微电子技术用贵金属浆料的产品分类、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于烧结型及固化型微电子技术用贵金属浆料。非贵金属浆料也可参照执行
Specification for pastes of precious metal used for microelectronics
GB/T 17472-1998 贵金属浆料规范
本规范规定了贵金属浆料的产品分类、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本规范适用于厚膜微电子技术用贵金属浆料
Specification for pastes of precious metals
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.方阻测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of sheet resistance
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.细度测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of fineness
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.粘度测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料粘度的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料粘度的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of viscosity
T/ZEIIA 02-2020 电子元器件用材料 电子浆料试验方法
一般试验条件、试验报告、固体含量的测定、试验步骤、计算、固化型浆料、贵金属浆料或非金属浆料、贱金属浆料、粘度的测定、细度的测定、附着力的测定、收缩率的测定、有毒有害物质限量的测定
Test method of electronic paste for electronic components
GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.分辨率测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of resolution
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.附着力测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料附着力的测试方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料附着力的测定
Test methods of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of adhesion
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of solids content
GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
本标准规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料粘度的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料粘度的测定。非贵金属浆料 亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of viscosity
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。 本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆料的细度测定亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。 本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测宝。非贵金属浆料亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance
GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
本标准规定了贵金属浆料分辨率的测试方法。 本标准适用于贵金属浆料的分辨率测定。非贵金属浆料亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics--Determination of resolution
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
本标准规定了贵金属浆料附着力的测试方法。 本标准适用于贵金属导体浆料附着力的测定，非贵金属浆料亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion
GB/T 17472-2022 微电子技术用贵金属浆料规范
本文件规定了微电子技术用贵金属浆料的分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单内容。 本文件适用于烧结型及固化型微电子技术用贵金属浆料(以下简称“浆料”)。非贵金属浆料也可参照执行
Specification for pastes of precious metal used for microelectronics
GB/T 17472-2008 微电子技术用贵金属浆料规范
本标准规定了微电子技术用贵金属浆料的产品分类、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于烧结型及固化型微电子技术用贵金属浆料。非贵金属浆料也可参照执行
Specification for pastes of precious metal used for microelectronics
GB/T 17472-1998 贵金属浆料规范
本规范规定了贵金属浆料的产品分类、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本规范适用于厚膜微电子技术用贵金属浆料
Specification for pastes of precious metals
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.方阻测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of sheet resistance
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.细度测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of fineness
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.粘度测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料粘度的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料粘度的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of viscosity
T/ZEIIA 02-2020 电子元器件用材料 电子浆料试验方法
一般试验条件、试验报告、固体含量的测定、试验步骤、计算、固化型浆料、贵金属浆料或非金属浆料、贱金属浆料、粘度的测定、细度的测定、附着力的测定、收缩率的测定、有毒有害物质限量的测定
Test method of electronic paste for electronic components
GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.分辨率测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of resolution
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.附着力测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料附着力的测试方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料附着力的测定
Test methods of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of adhesion
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定
Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of solids content
GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
本标准规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料粘度的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料粘度的测定。非贵金属浆料 亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of viscosity
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。 本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆料的细度测定亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。 本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测宝。非贵金属浆料亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance
GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
本标准规定了贵金属浆料分辨率的测试方法。 本标准适用于贵金属浆料的分辨率测定。非贵金属浆料亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics--Determination of resolution
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
本标准规定了贵金属浆料附着力的测试方法。 本标准适用于贵金属导体浆料附着力的测定，非贵金属浆料亦可参照使用
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion
编辑：北检院编辑部
